[發(fā)明專利]對(duì)象分析方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110461699.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113159200B | 公開(公告)日: | 2022-07-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 丁鑫;肖瀟;付馬;孟祥昊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州科達(dá)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06V10/774 | 分類號(hào): | G06V10/774;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 蘇州謹(jǐn)和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 葉棟 |
| 地址: | 215011 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 對(duì)象 分析 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本申請(qǐng)涉及一種對(duì)象分析方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì),屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,該方法包括:通過獲取目標(biāo)圖像;將目標(biāo)圖像輸入預(yù)先訓(xùn)練的圖像識(shí)別模型,得到目標(biāo)圖像的對(duì)象分析結(jié)果,對(duì)象分析結(jié)果包括目標(biāo)對(duì)象位置信息、目標(biāo)對(duì)象關(guān)鍵點(diǎn)信息和目標(biāo)對(duì)象屬性信息;可以解決現(xiàn)有的目標(biāo)檢測算法無法實(shí)現(xiàn)速度和精確度同時(shí)提升的問題;使用融合方式使得獲得的特征層包含的信息更加豐富全面,在提高識(shí)別不同尺度目標(biāo)敏感度的同時(shí),提高了檢測的準(zhǔn)確率;深度可分離卷積的使用可以加快特征層融合部分的推理時(shí)間;融合屬性分析功能,使一個(gè)模型同時(shí)擁有了目標(biāo)檢測、關(guān)鍵點(diǎn)預(yù)測以及屬性輸出的3個(gè)功能,既減小了3個(gè)功能的顯存占用率,又提高了其在系統(tǒng)中的運(yùn)行速率。
【技術(shù)領(lǐng)域】
本申請(qǐng)涉及一種對(duì)象分析方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì),屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
隨著人工智能技術(shù)的發(fā)展,越來越多的目標(biāo)檢測算法應(yīng)運(yùn)而生。如anchor-free系列算法等。
anchor-free系列算法避免了錨框的預(yù)設(shè)定,減少了大量的相關(guān)計(jì)算,使得其內(nèi)存占用率和速度都有明顯提高。而且沒有錨框的預(yù)先設(shè)定,預(yù)測框是在整個(gè)特征圖范圍內(nèi)回歸目標(biāo)位置,適用于各種形狀尺寸的目標(biāo)對(duì)象的檢測。
然而,現(xiàn)有的目標(biāo)檢測算法在提升算法速度的同時(shí),會(huì)降低算法精度,導(dǎo)致目標(biāo)檢測結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N對(duì)象分析方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì),可以解決現(xiàn)有的目標(biāo)檢測算法無法實(shí)現(xiàn)速度和精確度同時(shí)提升的問題。本申請(qǐng)?zhí)峁┤缦录夹g(shù)方案:
第一方面,提供一種對(duì)象分析方法,所述方法包括:
獲取目標(biāo)圖像;
將所述目標(biāo)圖像輸入預(yù)先訓(xùn)練的圖像識(shí)別模型,得到所述目標(biāo)圖像的對(duì)象分析結(jié)果,所述對(duì)象分析結(jié)果包括目標(biāo)對(duì)象位置信息、目標(biāo)對(duì)象關(guān)鍵點(diǎn)信息和目標(biāo)對(duì)象屬性信息;
其中,圖像識(shí)別模型包括主干網(wǎng)絡(luò)、與所述主干網(wǎng)絡(luò)相連的第一網(wǎng)絡(luò)分支和第二網(wǎng)絡(luò)分支;
所述主干網(wǎng)絡(luò)包括依次相連的m層特征提取層,以提取多尺寸特征圖;所述m層特征提取層中的n層指定特征提取層分別采用深度可分離卷積調(diào)整特征圖的通道尺寸,并將淺層特征與深層特征融合;所述m為大于1的整數(shù),所述n為小于1且小于或等于m的整數(shù)。
可選地,所述第一網(wǎng)絡(luò)分支與第m層特征提取層相連,并用于根據(jù)所述第m層特征提取層輸出的特征圖提取所述目標(biāo)對(duì)象屬性信息;
所述第二網(wǎng)絡(luò)分支與第1層指定特征提取層相連,且所述第二網(wǎng)絡(luò)分支包括第一子分支、第二子分支和第三子分支;所述第一子分支用于根據(jù)所述第1層指定特征提取層的輸出數(shù)據(jù)計(jì)算目標(biāo)對(duì)象的中心點(diǎn);所述第二子分支用于根據(jù)所述第1層指定特征提取層的輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行所述目標(biāo)對(duì)象的寬高回歸;所述第三子分支用于根據(jù)所述第1層指定特征提取層的輸出數(shù)據(jù)檢測所述目標(biāo)對(duì)象的關(guān)鍵點(diǎn)。
可選地,對(duì)于所述n層指定特征提取層中的第k層指定特征提取層,
在k=n的情況下,所述第k層指定特征提取層得到特征圖后,采用深度可分離卷積對(duì)所述特征圖的通道尺寸進(jìn)行更新;對(duì)更新后的特征圖進(jìn)行上采樣,得到第n-1層指定特征提取層對(duì)應(yīng)的上采樣后的特征圖;
在1<k<n的情況下,所述第k層指定特征提取層得到特征圖后,采用深度可分離卷積對(duì)所述特征圖的通道尺寸進(jìn)行更新;將更新后的特征圖與第k層對(duì)應(yīng)的上采樣后的特征圖進(jìn)行按照通道進(jìn)行拼接;對(duì)拼接后的特征圖使用深度可分離卷積進(jìn)行通道調(diào)整;對(duì)調(diào)整后的特征圖進(jìn)行上采樣,得到第k-1層指定特征提取層對(duì)應(yīng)的上采樣后的特征圖;
在k=1的情況下,所述第1層指定特征提取層得到特征圖后,采用深度可分離卷積對(duì)所述特征圖的通道尺寸進(jìn)行更新;將更新后的特征圖與第1層對(duì)應(yīng)的上采樣后的特征圖進(jìn)行按照通道進(jìn)行拼接;對(duì)拼接后的特征圖使用深度可分離卷積進(jìn)行通道調(diào)整;調(diào)整后的特征圖為所述第1層指定特征提取層的輸出數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州科達(dá)科技股份有限公司,未經(jīng)蘇州科達(dá)科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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