[發(fā)明專利]一種微控制單元處理方法及相關設備

在審

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• 申請日: 2021-04-27
• 公開（公告）號: CN113032200A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發(fā)明（設計）人: 羅小林
• 申請（專利權）人: 深圳芯邦科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市深佳知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 王兆林

本申請實施例公開了一種微控制單元處理方法，應用于主控微控制單元，包括：向被測微控制單元發(fā)送測試指令，以使得所述被測微控制單元依據(jù)所述測試指令進行測試，并向所述主控微控制單元返回測試結果；判斷所述測試結果是否符合預設要求；若所述測試結果符合預設要求，則向所述被測微控制單元傳輸程序固件。被測微控制單元的測試及固件寫入過程都由主控微控制單元實施完成，提高了設備的集成程度，避免了對微控制單元所需使用的多個設備，提高了對微控制單元的處理效率。本申請實施例還提供了一種微控制單元處理設備，具有上述相同的有益效果。

技術領域

本申請實施例涉及硬件處理領域，尤其涉及一種微控制單元處理方法及相關設備。

背景技術

微控制單元(Microcontroller Unit；MCU)，又稱單片微型計算機(SingleChipMicrocomputer)或者單片機，是把中央處理器(Central Process Unit；CPU)的頻率與規(guī)格做適當縮減，并將內(nèi)存(memory)、計數(shù)器(Timer)、USB、A/D轉換、UART、SPI、IIC、DMA等周邊接口，甚至LCD驅動電路都整合在單一芯片上，形成芯片級的計算機，為不同的應用場合做不同組合控制。諸如手機、PC外圍、遙控器，至汽車電子、工業(yè)上的步進馬達、機器手臂的控制等，都可見到MCU的身影。

現(xiàn)有的微控制單元從生產(chǎn)完成到交付客戶使用需要經(jīng)過功能測試(FunctionalTest，F(xiàn)T)以及應用程序固件的燒錄，才能獲得符合客戶要求，具備一定功能的合格微控制單元。

在進行微控制單元功能測試時，需使用具有測試固件的主控微控制單元與被測微控制單元連接，并完成相應測試，功能測試合格的被測微控制單元需要額外使用燒錄器進行處理，才可以將應用程序固件傳輸至待測微控制單元的閃存中，最終獲得具備一定功能的合格微控制單元。這一過程需要使用多個設備對待測微控制單元進行處理，存在一定不便。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例第一方面提供了一種微控制單元處理方法，應用于主控微控制單元，包括：

向被測微控制單元發(fā)送測試指令，以使得所述被測微控制單元依據(jù)所述測試指令進行測試，并向所述主控微控制單元返回測試結果；

判斷所述測試結果是否符合預設要求；

若所述測試結果符合預設要求，則向所述被測微控制單元傳輸程序固件。

基于本申請實施例第一方面提供的微控制單元處理方法，可選的，所述向被測微控制單元發(fā)送測試指令，之前，所述方法還包括：

向所述被測微控制單元發(fā)送功能測試固件，所述功能測試固件用于支持所述被測微控制單元依據(jù)所述測試指令進行測試。

基于本申請實施例第一方面提供的微控制單元處理方法，可選的，所述向所述被測微控制單元傳輸程序固件，包括：

向所述被測微控制單元的隨機存取存儲器傳輸編程算法及程序固件，以使得所述被測微控制單元運行所述編程算法，將所述程序固件存儲至所述被測微控制單元的閃存中。

基于本申請實施例第一方面提供的微控制單元處理方法，可選的，所述編程算法存儲于所述被測微控制單元的隨機存取存儲器的特定位置。

基于本申請實施例第一方面提供的微控制單元處理方法，可選的，所述方法還包括：

向所述被測微控制單元發(fā)送校驗指令，以使得所述被測微控制單元依據(jù)所述程序固件執(zhí)行所述校驗指令，并向所述主控微控制單元返回控制結果。

本申請實施例第二方面提供了一種微控制單元處理方法，應用于被測微控制單元，包括：

接收主控微控制單元發(fā)送的測試請求；

依據(jù)所述測試請求進行測試，并向所述主控微控制單元返回測試結果；