[發(fā)明專利]一種高程測量方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110459694.5 | 申請日: | 2021-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN113063399A | 公開(公告)日: | 2021-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡勁輝;陳小文;金濤;張貴虎;劉文明;周菲;劉永麗 | 申請(專利權(quán))人: | 中鐵四局集團(tuán)建筑工程有限公司;中鐵四局集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號: | G01C5/00 | 分類號: | G01C5/00 |
| 代理公司: | 合肥天明專利事務(wù)所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 金凱 |
| 地址: | 230022 安徽省合*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高程 測量方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種高程測量方法及系統(tǒng),獲取首層已知點(diǎn)的高程;通過全站儀獲取其中心至首層已知點(diǎn)高程的標(biāo)高線距離;首層至待測層于垂直向穿設(shè)通孔,于待測層通孔處布置棱鏡頭,所述全站儀的望遠(yuǎn)鏡垂直向指向棱鏡頭并與所述棱鏡頭中心重合,操作全站儀測距并獲取間距;安裝所述棱鏡頭的轉(zhuǎn)換裝置具有標(biāo)識(shí)高程,測量所述棱鏡頭至標(biāo)識(shí)高程的標(biāo)識(shí)點(diǎn)距離常數(shù)K;于待測層安裝水準(zhǔn)儀,并于轉(zhuǎn)換裝置的高程標(biāo)識(shí)Hi頂處立有第一水準(zhǔn)尺;于待測層的引測點(diǎn)高程Hb處立有第二水準(zhǔn)尺。本發(fā)明通過利用全站儀天頂距功能,通過首層高程基準(zhǔn)點(diǎn),引測首層高程基準(zhǔn)點(diǎn),引測至待測層高程的轉(zhuǎn)換裝置上,再利用水準(zhǔn)儀將轉(zhuǎn)換裝置上的高程引測至待測層。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及高程測量技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種高程測量方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)超高層±0.000m地上部分高程的傳遞采用懸吊鋼尺法。每次至少傳遞三個(gè)點(diǎn),并相互校對。依據(jù)一層標(biāo)高控制點(diǎn),用檢定合格的鋼尺沿結(jié)構(gòu)向上直接丈量,鋼尺量距應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)拉力、并進(jìn)行尺長和溫度改正。鋼尺量距應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)拉力、并進(jìn)行尺長和溫度改正,現(xiàn)場必須實(shí)測出當(dāng)時(shí)環(huán)境的大氣溫度、構(gòu)件溫度、鋼尺溫度。每次測量均應(yīng)從基準(zhǔn)點(diǎn)重新丈量,傳遞上來以后與下一層標(biāo)高點(diǎn)進(jìn)行比對;
傳統(tǒng)的高程引測方法還不夠完善,存在鋼尺操作精度低,同時(shí)操作不便,受鋼尺整尺段影響,誤差累計(jì)較大,一但誤差過大很難調(diào)整糾正。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種高程測量方法及系統(tǒng),以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種高程測量方法,包括以下步驟:
根據(jù)已知水準(zhǔn)點(diǎn),獲取首層已知點(diǎn)的高程,所述已知點(diǎn)的高程為第一高度值Ha;
根據(jù)首層已知點(diǎn)的高程,通過全站儀獲取其中心至首層已知點(diǎn)高程的標(biāo)高線距離,所述標(biāo)高線距離為第二高度值a1;
首層至待測層于垂直向穿設(shè)通孔,于待測層通孔處布置棱鏡頭,該棱鏡頭安裝于轉(zhuǎn)換裝置上,所述全站儀的望遠(yuǎn)鏡垂直向指向棱鏡頭并與所述棱鏡頭中心重合,操作全站儀測距并獲取間距,所述間距為第三高度值di;
安裝所述棱鏡頭的轉(zhuǎn)換裝置具有標(biāo)識(shí)高程,所述標(biāo)識(shí)高程為第四高度值Hi,測量所述棱鏡頭至標(biāo)識(shí)高程的標(biāo)識(shí)點(diǎn)距離常數(shù)K;
于待測層安裝水準(zhǔn)儀,并于轉(zhuǎn)換裝置的高程標(biāo)識(shí)Hi頂處立有第一水準(zhǔn)尺,通過水準(zhǔn)儀讀取視線高度,于第一水準(zhǔn)尺上的所述視線高度為第五高度值ai;
于待測層的引測點(diǎn)高程Hb處立有第二水準(zhǔn)尺,通過水準(zhǔn)儀讀取視線高度,于第二水準(zhǔn)尺上的所述視線高度為第六高度值bi;
由Ha+a1+di+K=Hb+bi-ai=Hi
求得:引測點(diǎn)高程Hb=Ha+a1+di+K-bi+ai。
所述首層至待測層于垂直向穿設(shè)通孔的方法包括:
于首層至待測層之間的所有層級處開設(shè)有位于同一豎直軸線上的且具有預(yù)設(shè)大小的通孔。
所述轉(zhuǎn)換裝置具有調(diào)節(jié)底座,所述于待測層通孔處布置棱鏡頭的方法包括:
將所述轉(zhuǎn)換裝置的調(diào)節(jié)底座架設(shè)于通孔外緣處的水平面上,并調(diào)節(jié)棱鏡頭的所在位置,使其棱鏡頭中心與所述全站儀的望遠(yuǎn)鏡中心重合。
一種高程測量系統(tǒng),包括:
于首層安裝有全站儀,所述全站儀獲取其中心至首層已知點(diǎn)高程的標(biāo)高線距離;
于首層至待測層在垂直向穿設(shè)有通孔;
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