[發明專利]一種導電膠體積電阻率的測試裝置及測試方法有效
| 申請號: | 202110458582.8 | 申請日: | 2021-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN113406393B | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發明(設計)人: | 喻善均;何敏;黨文輝 | 申請(專利權)人: | 中國節能減排有限公司;重慶神華薄膜太陽能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/08 | 分類號: | G01R27/08;G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;尚廣云 |
| 地址: | 100011 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 導電 膠體 電阻率 測試 裝置 方法 | ||
本申請涉及體積電阻率測試技術領域,特別地涉及一種導電膠體積電阻率的測試裝置及測試方法。本申請提供的導電膠體積電阻率的測試裝置,包括蓋板以及測試基板,在使用過程中,將蓋板與測試基板貼合,在試樣槽與測試基板共同形成容納空間內注入待測導電膠;待容納空間內的待測導電膠預成型后,使蓋板與測試基板分離;將測試基板連同待測導電膠置入烘箱中固化;將成型后的待測導電膠進行體積電阻率的測試。本申請提供的導電膠體積電阻率的測試裝置具有重復利用、樣品尺寸穩定、操作簡便等優點。測得的體積電阻率更準確,在導電膠使用前,更準確測量其體積電阻率,防止體積電阻率超標的導電膠流入產線,提高產品良率。
技術領域
本申請涉及體積電阻率測試技術領域,特別地涉及一種導電膠體積電阻率的測試裝置及測試方法。
背景技術
導電膠是一種集粘接性、導電性為一體的,固化或干燥后具有一定導電性能的膠粘劑,通常以樹脂為基體,加導電填料組成,通過基體樹脂的粘接作用把導電粒子結合在一起,形成導電通路,從而實現被粘材料的導電連接。與傳統的焊接工藝相比,導電膠最突出的特點是其能在低溫下固化,避免了對元器件的熱損傷,而且使用導電膠能做到傳遞應力均勻,避免應力集中及虛焊等問題,能在小型元器件的生產中得到應用。隨著電子元器件向小型化、微型化、集成化的方向迅速發展,導電膠的運用也得到了長足的發展與進步。近年來,將導電膠在光伏行業也得到了廣泛運用。體積電阻率是衡量導電膠導電性能的重要指標。
現有技術中的導電膠體積電阻率測試的裝置,裝置包括玻璃基板、玻璃槽以及在玻璃槽中間夾持的銅箔。其實施過程為:將導電膠樣品用刮刀刮入到制作的槽中,經過烘干工序后得到長條狀導電膠帶,可以測量導電膠的體積電阻率。該裝置的缺點在于:重復利用率差,雙面膠帶經過幾次烘烤后發生變形,影響導電膠成型效果,從而影響導電膠體積電阻率的測試。
現有技術中的玻璃法,取用檢測玻璃樣片,使用3M膠帶在玻璃上貼成長寬高一致線條。將導電膠樣品刮附在貼有膠帶的玻璃片上,撕下膠帶,經過烘干工序后得到長條狀導電膠帶,試樣長度25mm,寬度3mm,厚度用千分尺測試5個點求平均值(一般在20-40μm)。該方法的缺點在于,手動粘貼3M膠帶,試樣寬度的均勻性差,影響導電膠成型效果,從而影響導電膠體積電阻率的測試。
發明內容
有鑒于此,本申請實施例的目的在于提供一種導電膠體積電阻率的測試裝置,所述導電膠體積電阻率的測試裝置,可有效地解決上述技術問題。
第一方面,本申請的導電膠體積電阻率的測試裝置,所述導電膠體積電阻率的測試裝置包括蓋板以及測試基板,所述蓋板上開設有試樣槽,所述蓋板可選擇地與所述測試基板貼合;所述蓋板與所述測試基板貼合時,所述試樣槽與所述測試基板共同形成容納空間。
在根據第一方面的可選的實施例中,所述導電膠體積電阻率的測試裝置還包括底板,所述測試基板可拆卸地連接于所述底板。需要說明的,在本實施例中,所述導電膠體積電阻率的測試裝置還包括底板,所述測試基板可拆卸地連接于所述底板,在使用過程中,設置底板,便于支撐測試基板,進而使得蓋板與所述測試基板貼合并注入待測導電膠時,操作過程更加穩固,避免因測試環境不穩定帶來測試注入待測導電膠的不均勻的現象。
在根據第一方面的可選的實施例中,所述導電膠體積電阻率的測試裝置還包括連接件,所述測試基板通過所述連接件連接于所述底板。需要說明的,在本實施例中,所述導電膠體積電阻率的測試裝置還包括連接件,所述測試基板通過所述連接件連接于所述底板,設置所述連接件便于將所述測試基板可選擇地連接于所述底板,進而便于更換新的測試基板用于承接不同的待測導電膠。
在根據第一方面的可選的實施例中,所述連接件包括至少兩個卡接件,所述至少兩個卡接件用于將所述測試基板連接于所述底板。需要說明的,在本實施例中,所述連接件包括至少兩個卡接件,所述至少兩個卡接件用于將所述測試基板連接于所述底板,采用至少兩個卡接件用于將所述測試基板連接于所述底板,可有效地保證在注入待測導電膠時,測試基板與所述底板連接的穩定性。進而避免測試基板晃動出現偏移引起的待測導電膠遺漏等現象。
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