[發(fā)明專利]一種高電子遷移率晶體管及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110457319.7 | 申請日: | 2021-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN113257891B | 公開(公告)日: | 2022-07-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉勝厚;林科闖;孫希國;蔡仙清;張輝 | 申請(專利權(quán))人: | 廈門市三安集成電路有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L21/265;H01L29/20;H01L29/423;H01L21/338;H01L29/778 |
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| 地址: | 361100 福建省廈門*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電子 遷移率 晶體管 及其 制作方法 | ||
本發(fā)明公開了一種高電子遷移率晶體管及其制作方法,晶體管包含襯底、緩沖層、溝道層、勢壘層,還包括相對設(shè)置在勢壘層上方有源區(qū)處的源極和漏極,設(shè)置在有源區(qū)處的源極和漏極之間柵極區(qū)域處的勢壘層表面的P型氮化物柵層,在P型氮化物柵層上設(shè)置柵極;有源區(qū)處的源極與漏極之間柵極區(qū)域處的勢壘層表面的P型氮化物柵層為沿著柵寬方向的M個P型摻雜區(qū),M個P型摻雜區(qū)的摻雜濃度不規(guī)則排列。采用本發(fā)明晶體管及其制作方法,形成M個P型摻雜區(qū)不規(guī)則排列,形成具有不同關(guān)斷電壓的區(qū)域柵極,沿著柵寬方向形成不同的關(guān)斷電壓不規(guī)則排布,保證總體器件在開態(tài)漏極電流均勻分布的同時,實現(xiàn)器件跨導(dǎo)的平整性,使器件在射頻工作時隨著輸入功率的增加,器件增益保持不變,線性度提高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,特別涉及氮化物半導(dǎo)體器件及其制作方法。
背景技術(shù)
5G通信技術(shù)是最新一代蜂窩移動通信技術(shù),是4G(LTE-A、WiMax)、3G(UMTS、LTE)和2G(GSM)系統(tǒng)后的延伸。5G通信技術(shù)將廣泛用于智慧家庭、遠程醫(yī)療、遠程教育、工業(yè)制造和物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域,具體包括千兆級移動寬帶數(shù)據(jù)接入、3D視頻、高清視頻、云服務(wù)、增強現(xiàn)實(AR)、虛擬現(xiàn)實(VR)、工業(yè)制造自動化、緊急救援、自動駕駛、現(xiàn)代物流等典型業(yè)務(wù)應(yīng)用。其中,高清視頻、AR、VR、遠程醫(yī)療、工業(yè)制造自動化、現(xiàn)代物流管理等主要發(fā)生在建筑物室內(nèi)場景。
GaN材料的研究與應(yīng)用是目前全球半導(dǎo)體研究的前沿和熱點,是研制微電子器件、光電子器件的新型半導(dǎo)體材料,并與SIC、金剛石等半導(dǎo)體材料一起,被譽為是繼第一代Ge、Si 半導(dǎo)體材料、第二代GaAs、InP化合物半導(dǎo)體材料之后的第三代半導(dǎo)體材料。氮化鎵(GaN)具有寬禁帶寬度,高擊穿電場,高熱導(dǎo)率,高電子飽和速率以及更高的抗輻射能力等優(yōu)點,在高溫、高頻和微波大功率半導(dǎo)體器件中有著十分廣闊的應(yīng)用前景。低歐姆接觸電阻對于輸出功率,高效率,高頻和噪聲性能起到至關(guān)重要的作用。近年來,GaN憑借高頻下更高的功率輸出和更小的占位面積,被射頻行業(yè)大量應(yīng)用。
GaN射頻器件在應(yīng)用中,GaN HEMT射頻器件為橫向平面器件,如附圖1所示,GaNHEMT器件的跨導(dǎo)(gm)隨柵電壓(Vgs)變化曲線,隨著柵極輸入電壓增加,跨導(dǎo)gm下降,對應(yīng)增益降低;跨導(dǎo)gm是指輸出端電流的變化值與輸入端電壓的變化值之間的比值其 PA的非線性導(dǎo)致顯著的帶邊泄露、輸出功率過早飽和、信號失真等,影響系統(tǒng)的特性及增加了系統(tǒng)設(shè)計的復(fù)雜度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)問題,提供一種高電子遷移率晶體管及其制作方法。
為了實現(xiàn)以上目的,本發(fā)明的一具體實施例中,提供了一種高電子遷移率晶體管的制作方法,包括如下:
在半導(dǎo)體襯底上依次形成緩沖層、溝道層、勢壘層、GaN層;
刻蝕GaN層,保留柵極區(qū)域的GaN層,在勢壘層上的源極區(qū)域和漏極區(qū)域相應(yīng)形成源極窗口、漏極窗口;在源極窗口、漏極窗口上形成歐姆接觸金屬,形成源極和漏極;
通過若干次光刻、離子注入工藝依次在有源區(qū)處的源極與漏極之間柵極區(qū)域的GaN層形成沿著柵寬方向排列的M個P型摻雜區(qū),M個P型摻雜區(qū)包含N種不同的P型摻雜濃度;沿著柵寬方向M個P型摻雜區(qū)的P型摻雜濃度不規(guī)則排列;其中,M≥N且M為大于等于3的正整數(shù),N為大于等于3的正整數(shù);
在M個P型摻雜區(qū)上形成柵極。
上述,不規(guī)則排列是指非線性規(guī)律排列;M個P型摻雜區(qū)線性規(guī)律排列是指不同P型摻雜濃度的P型摻雜區(qū)沿著柵寬方向若干P型摻雜區(qū)的P型摻雜濃度依次變大或依次變小。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





