[發明專利]一種通過光譜分析對霍山石斛選種的方法

在審

• 申請號: 202110457053.6
• 申請日: 2021-04-27
• 公開（公告）號: CN113281293A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 陳大衛
• 申請（專利權）人: 陳大衛
• 主分類號: G01N21/3563
• 分類號: G01N21/3563
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種通過光譜分析對霍山石斛選種的方法，其特征在于：利用紅外光譜儀器確定霍山石斛種子特有光譜的方法的步驟如下：

S1、樣本的準備：四份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子、四份粒徑為400目的正宗霍山石斛種子、四份粒徑為200目的其他品種種子和四份粒徑為400目的其他品種種子；

S2、儀器的準備：傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀、恒溫箱、樣本放置架、干燥機、補光燈以及記錄裝置，將傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀放置在恒溫箱內，并調節恒溫箱的溫度使恒溫箱內部的溫度逐漸上升，并啟動傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀，觀通過傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀自帶的溫控系統觀察傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀內部部件的溫度，直至傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀內部部件的溫度上升至10至30攝氏度后，關閉恒溫箱開關，使傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀內部部件的溫度始終處于10至30攝氏度的范圍內；

S3、實驗方法1：取用兩份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子和兩份粒徑為200目的其他品種種子，將一份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子和一份粒徑為200目的其他品種種子分別放置在兩個樣本放置板上，再調節補光燈的強弱至補光較弱的狀態，并使用傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀對逐一對其進行分析，分析時，逐漸調節傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀紅外線的發射強度，并通過記錄裝置對正宗霍山石斛種子和其他品種種子在不同強度的紅外照射下吸收光線的線譜；

S4、實驗方法2：取用另外兩份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子和另外兩份粒徑為200目的其他品種種子，將一份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子和一份粒徑為200目的其他品種種子放置在干燥機內進行較弱程度的干燥后，分別放置在兩個樣本放置板上，并使用傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀對逐一對其進行分析，分析時，逐漸調節傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀紅外線的發射強度，并通過記錄裝置對正宗霍山石斛種子和其他品種種子在不同強度的紅外照射下吸收光線的線譜；

S5、實驗結果分析，確定在不同溫度、不同光線以及不同干燥度的情況下正宗霍山石斛種子與其他品種種子的特有光譜。

2.根據權利要求1所述的一種通過光譜分析對霍山石斛選種的方法，其特征在于：取用S3中另一份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子和另一份粒徑為200目的其他品種種子，并調節補光燈的強弱至補光較強的狀態后，使用傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀對逐一對其進行分析，分析時，逐漸調節傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀紅外線的發射強度，并通過記錄裝置對正宗霍山石斛種子和其他品種種子在不同強度的紅外照射下吸收光線的線譜。

3.根據權利要求1所述的一種通過光譜分析對霍山石斛選種的方法，其特征在于：取用S4中另一份粒徑為200目的正宗霍山石斛種子和另一份粒徑為200目的其他品種種子放置在干燥機內進行較強程度的干燥后，分別放置在兩個樣本放置板上，并使用傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀對逐一對其進行分析，分析時，逐漸調節傅里葉紅外(FT-IR)光譜儀紅外線的發射強度，并通過記錄裝置對正宗霍山石斛種子和其他品種種子在不同強度的紅外照射下吸收光線的線譜。