[發(fā)明專利]一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110451068.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113376473A | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉釗;盧靜雅;曹雪瑋;翟術(shù)然;王子洋;張暉;孫穎;張兆杰;李康;李金順 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)網(wǎng)天津市電力公司城南供電分公司;國(guó)網(wǎng)天津市電力公司;國(guó)家電網(wǎng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/08 | 分類號(hào): | G01R31/08;G01R31/12;G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 天津盛理知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 12209 | 代理人: | 王來佳 |
| 地址: | 300204 *** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 支持 向量 圖像 識(shí)別 故障 電弧 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:包括以下步驟:
S1、從入戶處安裝的智能電表獲取用電數(shù)據(jù);
S2、根據(jù)預(yù)先獲取的電壓電流數(shù)據(jù)生成V-I軌跡曲線,采用V-I軌跡曲線提取和圖像識(shí)別的方法對(duì)電壓電流信號(hào)進(jìn)行特征提取和組合,得到電弧特征量,即通過一系列數(shù)據(jù)預(yù)處理操作,將電子圖像轉(zhuǎn)換為可供模型識(shí)別的圖像特征向量;
S3、將S2所得的訓(xùn)練集標(biāo)簽作為特征,對(duì)其進(jìn)行基于SVM的故障電弧檢測(cè),識(shí)別得到是否產(chǎn)生故障電弧。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:用電數(shù)據(jù)包括總電流和電壓。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:S2包括以下步驟:
S21、將所得的V-I軌跡曲線進(jìn)行裁剪和灰度處理,采用平均加權(quán)法對(duì)圖像進(jìn)行灰度化處理,如式(1):
f(i,j)=0.299.R(i,j)+0.587.G(i,j)+0.114.B(i,j) (1)
對(duì)灰度化處理后的圖像二值化,將灰度值設(shè)置在0或者255,分離成一副特征明顯的二值化圖像;
S22、將二維圖像轉(zhuǎn)化為一維數(shù)組;
S23、將標(biāo)簽轉(zhuǎn)化為數(shù)字矩陣,預(yù)處理過程將圖像標(biāo)簽轉(zhuǎn)化為向量形式。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:每張二值化圖像包含64×64個(gè)像素,向量長(zhǎng)度64×64=4096。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:訓(xùn)練數(shù)據(jù)集為一個(gè)形狀為[i,4096]的張量,i為訓(xùn)練集圖像總數(shù),第一個(gè)維度用來索引圖片,第二個(gè)維度用來索引每張圖片中的像素點(diǎn),黑白圖片上每一個(gè)像素點(diǎn)由一個(gè)正數(shù)表示該點(diǎn)的黑白程度,圖像由二維像素點(diǎn)轉(zhuǎn)化為一維的數(shù)組。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:標(biāo)簽0表示為([1,0]),標(biāo)簽1表示為([0,1]),訓(xùn)練集標(biāo)簽是一個(gè)[i,2]的數(shù)字矩陣。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:S3包括以下步驟:
S31、給定樣本集X={X1,X2,...,XN},其中包含兩類樣本,N為S2所得訓(xùn)練集中元素的數(shù)目,每一個(gè)樣本Xi,對(duì)應(yīng)一個(gè)樣本標(biāo)簽Yi,Yi∈{-1,1},1和-1分別表示兩類不同樣本的標(biāo)簽,i=1,...,N。;
S32、尋找最優(yōu)的分類超平面,即尋找最優(yōu)的ω和b,使得分類間隔最大;
S33、建立拉格朗日函數(shù),得到原問題的對(duì)偶問題;
S34、將實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)輸入到經(jīng)過樣本訓(xùn)練獲得的SVM分類器中,判斷類別。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:所有樣本標(biāo)簽組成標(biāo)簽集Y。樣本集X和標(biāo)簽集Y共同組成訓(xùn)練樣本集φ,若輸入數(shù)據(jù)所在的特征空間存在作為決策邊界的超平面H:ωT·x+b=0,將學(xué)習(xí)目標(biāo),則按正類和負(fù)類將超平面H分開,并使任意樣本的點(diǎn)到超平面H的距離大于等于1,則稱該分類問題具有線性可分性,如式(1)所示:
其中ω是超平面的法向量,b是超平面的常數(shù)項(xiàng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:S32最終歸結(jié)為一個(gè)二次規(guī)劃問題:
其中為損失項(xiàng),C為損失系數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于支持向量機(jī)和圖像識(shí)別的故障電弧檢測(cè)方法,其特征在于:
S33根據(jù)式(2)、(3)建立拉格朗日函數(shù),得到原問題的對(duì)偶問題:
設(shè)求解式(4)、(5)得到的最優(yōu)拉格朗日乘子為則原問題的最優(yōu)解為:
其中,為正樣本中第i個(gè)支持向量,為負(fù)樣本中第i個(gè)支持向量,m1為正樣本中的支持向量個(gè)數(shù),m2為負(fù)樣本中的支持向量個(gè)數(shù);
S34根據(jù)式(8)判斷類別:
其中,X(t)為測(cè)試樣本,根據(jù)輸出結(jié)果即可判斷是否產(chǎn)生故障電弧。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 移動(dòng)向量解碼方法和移動(dòng)向量解碼裝置
- 一種用于支持向量機(jī)的在線向量選取方法
- 用于在幀序列中執(zhí)行運(yùn)動(dòng)估計(jì)的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和方法
- 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的處理方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)、電子設(shè)備
- 字符序列處理方法及設(shè)備
- 向量獲取方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 向量獲取方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 近鄰向量的召回方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
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