[發明專利]目標檢測方法及裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202110448199.4
• 申請日: 2021-04-25
• 公開（公告）號: CN113139471A
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 吳凌云;胡志強
• 申請（專利權）人: 上海商湯智能科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種目標檢測方法，其特征在于，包括：

獲取目標圖像；

利用目標檢測網絡對所述目標圖像進行檢測，得到所述目標圖像中目標對象的第一檢測結果；

其中，所述目標檢測網絡是基于樣本圖像以及樣本圖像的監督信息訓練得到的，以及所述樣本圖像的監督信息包括掩膜圖。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用目標檢測網絡對所述目標圖像進行檢測，得到所述目標圖像中目標對象的第一檢測結果，包括：

基于所述目標檢測網絡，確定至少一個第一候選區域；

基于所述至少一個第一候選區域的圖像特征，得到包括所述目標對象的類別信息和位置信息的第一檢測結果。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

通過一神經網絡對所述樣本圖像進行處理，得到所述樣本圖像中參照對象的第二檢測結果和熱力圖；

基于所述第二檢測結果、所述熱力圖以及所述樣本圖像的監督信息，確定所述神經網絡的網絡損失，其中，所述熱力圖用于指示所述參照對象在所述樣本圖像中的預測位置；

基于所述網絡損失對所述神經網絡的網絡參數進行調整，得到訓練好的神經網絡，其中，所述訓練好的神經網絡包括所述目標檢測網絡。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述神經網絡包括檢測分支和分割分支；所述通過一神經網絡對所述樣本圖像進行處理，得到所述樣本圖像中所述參照對象的第二檢測結果和熱力圖，包括：

利用所述神經網絡對所述樣本圖像進行特征提取，得到至少一個第二候選區域；

將所述至少一個第二候選區域輸入所述檢測分支，得到所述樣本圖像中參照對象的第二檢測結果；

將所述至少一個第二候選區域輸入所述分割分支，得到所述參照對象的熱力圖。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述將所述至少一個第二候選區域輸入所述分割分支，得到所述參照對象的熱力圖，包括：

利用所述分割分支對所述至少一個第二候選區域的第一圖像特征進行至少一次反卷積操作和/或至少一次上采樣操作，得到所述至少一個第二候選區域的第二圖像特征；

對所述第二圖像特征進行歸一化操作，得到所述參照對象的熱力圖。

6.根據權利要求3至5任意一項所述的方法，其特征在于，所述監督信息還包括參照標注，所述參照標注表示樣本圖像中參照對象的類別信息和位置信息；所述基于所述第二檢測結果、所述熱力圖以及所述監督信息，確定所述神經網絡的網絡損失，包括：

根據所述第二檢測結果與所述參照標注的比對結果，確定所述神經網絡的第一損失；

根據所述熱力圖與所述掩膜圖的比對結果，確定所述神經網絡的第二損失；

根據所述第一損失和所述第二損失，得到所述神經網絡的網絡損失。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述根據所述熱力圖與所述掩膜圖的比對結果，確定所述神經網絡的第二損失，包括：

根據所述熱力圖與所述掩膜圖在每個像素位置的比對結果，對所述熱力圖與所述掩膜圖在多個像素位置的比對結果進行加權求和，確定所述神經網絡的第二損失，其中，一個像素位置的比對結果對應的權重與該像素位置相對于中心像素位置的相對位置關系相關。

8.根據權利要求1至7任意一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取標注有所述參照區域的樣本圖像，作為標注圖像；

將所述參照區域設置為第一特征值，將所述標注圖像中除所述參照區域之外的非參照區域設置為第二特征值，得到所述掩膜圖，其中，所述參照區域中每個像素位置的第一特征值，由每個像素位置與所述中心像素位置的相對位置關系確定。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述參照區域中每個像素位置與所述中心像素位置的距離，確定所述參照區域中每個像素位置的第一特征值，其中，每個像素位置的第一特征值與所述距離呈負相關。