[發明專利]磁共振成像系統的制冷機控制方法、裝置和計算機設備

有效

• 申請號: 202110446875.4
• 申請日: 2021-04-25
• 公開（公告）號: CN113288109B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: 蔡衍卿
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;G01R33/38
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 方曉燕

1.一種磁共振成像系統的制冷機控制方法，所述磁共振成像系統包括超導磁體和制冷機，所述制冷機對所述超導磁體進行制冷，其特征在于，所述方法包括：

接收掃描序列，獲取掃描參數；

根據所述掃描參數，計算所述制冷機的工作模式；

發送指令，控制所述制冷機以計算出的所述工作模式對所述超導磁體進行制冷和所述磁共振成像系統進行掃描；當識別出被測物體的當前掃描切面為目標掃描切面時，指示所述制冷機以所述工作模式下的第一工作子模式對所述超導磁體進行制冷；當識別出所述被測物體的當前掃描切面為非目標掃描切面時，指示所述制冷機以所述工作模式下的第二工作子模式制冷；第二工作子模式下冷頭工作頻率與常規工作模式下冷頭工作頻率相同或小于常規工作模式下的工作功率；第二工作子模式下冷頭工作頻率大于第一工作子模式下的工作功率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述掃描參數包括至少一個掃描切面的指令集；所述工作模式的工作參數包括工作功率信息；

所述根據所述掃描參數，計算所述制冷機的工作模式，包括：

根據所述掃描參數中的至少一個掃描切面的指令集和對應的所述磁共振成像系統的歷史工作數據，得到所述工作模式下的工作功率信息。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：

所述掃描參數包括至少一個掃描切面的指令集；

所述工作模式的工作參數包括工作時間信息；

所述根據所述掃描參數，計算所述制冷機的工作模式，包括：根據所述至少一個掃描切面的指令集，計算所述至少一個掃描切面的掃描時間；根據所述掃描時間，確定所述制冷機工作時間信息。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：

所述控制所述制冷機以所述工作模式對所述超導磁體進行制冷，包括：

當識別出被測物體的當前掃描切面為目標掃描切面時，向所述制冷機發送控制指令，指示所述制冷機以所述工作模式下的第一工作子模式對所述超導磁體進行制冷；

執行所述掃描序列中針對所述目標掃描切面的指令集，對所述目標掃描切面的掃描成像。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述發送指令之前，所述方法還包括：

根據所述掃描序列中對應當前掃描切面的位置標識與被測物體的位置間的對應關系，確定所述當前掃描切面的位置；

根據預設的目標掃描切面位置，對所述被測物體的當前掃描切面的位置進行識別。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

若所述被測物體的當前掃描切面的位置不等于所述預設的目標掃描切面位置，確定所述當前掃描切面為非目標掃描切面；

當識別出所述被測物體的當前掃描切面為非目標掃描切面時，向制冷機發送控制指令，指示所述制冷機以所述工作模式下的第二工作子模式制冷；

執行所述掃描序列中針對所述非目標掃描切面的指令集，控制所述超導磁體中的梯度線圈和射頻線圈進行所述非目標掃描切面的掃描成像。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述工作模式還包括第三工作子模式；

所述制冷機在所述磁共振成像掃描前和/或所述磁共振定位成像時以所述第三工作子模式進行制冷。