[發明專利]存儲器有效
| 申請號: | 202110441423.7 | 申請日: | 2020-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN113314541B | 公開(公告)日: | 2022-12-02 |
| 發明(設計)人: | 李軍輝;沈保家;於成星;周靜蘭 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L27/1157 | 分類號: | H01L27/1157;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 高天華;張穎玲 |
| 地址: | 430074 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲器 | ||
1.一種存儲器,其特征在于,包括:
第一柵疊層結構,位于襯底表面,包括依次交替層疊設置的第一絕緣層和第一柵極層;
第二柵疊層結構,位于所述第一柵疊層結構表面,包括依次交替層疊設置的第二絕緣層和第二柵極層;
溝道結構,貫穿所述第一柵疊層結構和所述第二柵疊層結構;
第一電荷阻擋結構,位于所述溝道結構和所述第一柵極層之間;
第二電荷阻擋結構,貫穿所述第一柵疊層結構和所述第二柵疊層結構;其中,位于所述第一柵疊層結構中的所述第二電荷阻擋結構,位于所述溝道結構和所述第一電荷阻擋結構之間,且位于所述溝道結構和所述第一絕緣層之間;位于所述第二柵疊層結構中的所述第二電荷阻擋結構,位于所述溝道結構和所述第二柵極層之間,且位于所述溝道結構和所述第二絕緣層之間。
2.根據權利要求1所述的存儲器,其特征在于,
部分所述第二電荷阻擋結構,位于所述第二柵疊層結構中且沿所述溝道結構的徑向方向朝所述第二柵極層凸出。
3.根據權利要求1所述的存儲器,其特征在于,
沿平行于所述溝道結構徑向的方向,位于所述第二柵疊層結構中所述第二電荷阻擋結構的厚度,大于或等于所述第一電荷阻擋結構的厚度和位于所述第一柵疊層結構中所述第二電荷阻擋結構的厚度之和。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





