[發明專利]一種敦煌遺書殘片圖像的自動綴合方法有效
| 申請號: | 202110440552.4 | 申請日: | 2021-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN112991185B | 公開(公告)日: | 2022-09-13 |
| 發明(設計)人: | 張重生;侯亞新;莫伯峰 | 申請(專利權)人: | 河南大學 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/181 |
| 代理公司: | 鄭州睿途知識產權代理事務所(普通合伙) 41183 | 代理人: | 李伊寧 |
| 地址: | 475001 河南*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 敦煌 遺書 殘片 圖像 自動 方法 | ||
本發明公開了一種敦煌遺書殘片圖像的自動綴合方法,包括步驟:A:獲取基準線;B:獲取基準線的位置坐標點;C:獲取網格單元的寬度;D:獲取網格單元的寬度值恢復到真實物理尺寸的縮放比例;E:獲取邊緣線圖像;F:獲取邊緣線骨架圖像;G:獲取邊緣線骨架標注圖像;H:得到二維數值型的時間序列化數據;I:將基準線的位置坐標點、網格單元的寬度和二維時間序列化數據轉化為恢復到真實物理尺寸后的對應數據;J:對恢復到真實物理尺寸后的對應數據進行歸一化處理;K:計算兩幅敦煌遺書殘片圖像的時間序列匹配度;L:返回時間序列匹配度最高的圖像作為綴合度較高的備選圖像。本發明極大地提高了敦煌遺書殘片圖像綴合效率和準確性。
技術領域
本發明涉及一種斷裂物品的圖像拼合方法,尤其涉及一種敦煌遺書殘片圖像的自動綴合方法。
背景技術
敦煌遺書是研究中古時期中國、中亞、東亞及南亞的歷史學、考古學、宗教學、人類學、社會學、語言學、文學史、藝術史、科技史及民族史的重要研究資料,具有極高的文物價值和文獻研究價值,敦煌遺書殘片圖像則是進行敦煌遺書研究的主要材料。在敦煌遺書研究的專業領域中,敦煌遺書殘片圖像的原邊是指書卷邊界,書卷邊界即為敦煌遺書殘片圖像中敦煌遺書殘片紙張的邊緣,而斷邊則非天然形成,是敦煌遺書紙張因破損所形成的邊緣。敦煌遺書紙張上存在著書卷橫向網格線和書卷豎向網格線,分別為書寫者在敦煌遺書紙張上繪制的橫向及豎向的對齊直線,現有的敦煌遺書殘片中,若上方和/或下方存在書卷邊界,則敦煌遺書殘片中就具有相對完整的書卷橫向網格線。
現有的敦煌遺書研究過程中,研究專家通常利用領域專業知識手工綴合敦煌遺書,通過對兩片敦煌遺書殘片斷邊碴口密合度以及上下文意連貫進行分析,以判別兩片敦煌遺書殘片在破損前是否同屬一處。上述手工綴合方法的準確性和效率較低,且工作強度較大。
發明內容
本發明的目的是提供一種敦煌遺書殘片圖像的自動綴合方法,能夠兼顧斷邊碴口密合度以及斷邊綴合后所形成的網格單元寬度的精確度,極大地提高了敦煌遺書殘片圖像綴合的效率和準確性。
本發明采用下述技術方案:
一種敦煌遺書殘片圖像的自動綴合方法,包括以下步驟:
A:人工確定敦煌遺書殘片圖像上側、下側、左側和右側四個邊緣處的基準線以及與左側基準線緊鄰的中部基準線,得到敦煌遺書殘片基準參照圖像;
B:利用計算機定位步驟A得到的敦煌遺書殘片基準參照圖像中上側基準線的位置坐標點U、下側基準線的位置坐標點D、左側基準線的位置坐標點L、右側基準線的位置坐標點R以及中部基準線的位置坐標點M的位置;
C:利用計算機計算敦煌遺書殘片基準參照圖像中網格單元的寬度;
D:選擇一幅已知真實物理尺寸的敦煌遺書殘片圖像并獲取其網格單元的真實物理寬度,并按照步驟A至C得到該幅敦煌遺書殘片圖像對應的敦煌遺書殘片基準參照圖像的網格單元的寬度,計算得出敦煌遺書殘片圖像所對應的敦煌遺書殘片基準參照圖像的網格單元的寬度值恢復到真實物理尺寸的縮放比例γ;其中,γ=β2,β為敦煌遺書殘片圖像的網格單元的寬度值與敦煌遺書殘片的網格單元的真實物理寬度值的倍數關系;
E:對敦煌遺書殘片圖像進行邊緣檢測以提取敦煌遺書殘片圖像的邊緣線,得到每幅敦煌遺書殘片圖像對應的邊緣線圖像;
F:利用計算機獲取每幅敦煌遺書殘片圖像所對應的邊緣線圖像中的邊緣線骨架,得到每幅敦煌遺書殘片圖像所對應的邊緣線骨架圖像,邊緣線骨架指邊緣線中居中的像素點;
G:人工確定每幅敦煌遺書殘片圖像的邊緣線骨架圖像中的左側和右側斷邊部分,得到每幅敦煌遺書殘片圖像對應的邊緣線骨架標注圖像;
H:對步驟G中得到的邊緣線骨架標注圖像中邊緣線骨架的左側與右側斷邊部分,分別通過時間序列化處理得到對應的二維數值型的時間序列化數據;
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