[發(fā)明專利]基于透射法分辨天然鉆石、合成鉆石及莫桑石的鑒別裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110437121.2 | 申請日: | 2021-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN113030029A | 公開(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉銜宇;徐思海;陳品凡 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市飛博爾珠寶科技有限公司;上海建橋?qū)W院 |
| 主分類號: | G01N21/59 | 分類號: | G01N21/59;G01N21/33;G01N21/87;G01N21/01 |
| 代理公司: | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384 | 代理人: | 王建成;徐方星 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)南灣街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 透射 分辨 天然 鉆石 合成 莫桑石 鑒別 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種基于透射法分辨天然鉆石、合成鉆石及莫桑石的鑒別裝置,其底座和底板圍設(shè)有一容置腔體,容置腔體內(nèi)設(shè)有電池、主控板及電路板,電路板上設(shè)有紫外線接收器,底座上設(shè)有用于放置待鑒別鉆石的容置通孔,容置通孔正對紫外線接收器。底座上鉸接有遮光罩,遮光罩內(nèi)設(shè)有與電路板連接的紫外線光源,紫外線光源包括第一光源和第二光源,第一光源的波長在250nm~280nm,第二光源的波長在350nm~390nm。本發(fā)明的有益效果:該鑒別裝置可以快速且準(zhǔn)確地分辨出天然鉆石、合成鉆石及莫桑石,分辨準(zhǔn)確率可達到99%以上,速度快達每秒鑒別一顆鉆石。而且,該鑒別裝置的操作簡單,造價便宜,適用于使用量大的鉆石商、首飾商、檢測站等。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及鉆石鑒別的技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種基于透射法分辨天然鉆石、合成鉆石及莫桑石的鑒別裝置。
背景技術(shù)
現(xiàn)有市場上常用的鉆石鑒別裝置主要有以下幾種:
第一種是使用10到20倍放大鏡直接肉眼觀察特征來鑒別,使用放大鏡鑒別需要觀察者具有相應(yīng)的專業(yè)能力才能準(zhǔn)確鑒別出天然鉆石。
第二種是采用DiamondSure鉆石確認(rèn)儀來鑒別,這種儀器主要檢測被鑒別鉆石在415nm處的吸收線,這種儀器可以快速準(zhǔn)確檢測大部分天然鉆石,但是天然鉆石中有大約10%是沒有415nm處的吸收線,這部分就會被誤判成非天然鉆石,誤判率太高。而且,這種儀器的價格昂貴,每臺至少十幾萬不等。
第三種是采用熱導(dǎo)儀鑒別,熱導(dǎo)儀利用鉆石的導(dǎo)熱性進行鑒別鉆石,但它只能鑒別鉆石及其鉆石仿制品,對于合成處理的鉆石就不能分辨了。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,本發(fā)明提供一種基于透射法分辨天然鉆石、合成鉆石及莫桑石的鑒別裝置。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出的基于透射法分辨天然鉆石、合成鉆石及莫桑石的鑒別裝置,包括:底座和底板,底座和底板圍設(shè)有一容置腔體,容置腔體內(nèi)設(shè)有電池、主控板及電路板,電池分別與主控板和電路板供電連接,主控板與電路板信號控制連接。電路板上設(shè)有紫外線接收器,底座上設(shè)有用于放置待鑒別鉆石的容置通孔,容置通孔正對紫外線接收器。底座上鉸接有遮光罩,遮光罩可將容置通孔罩住。遮光罩內(nèi)設(shè)有與電路板連接的紫外線光源,紫外線光源可正對容置通孔。紫外線光源包括第一光源和第二光源,第一光源的波長在250nm~280nm,第二光源的波長在350nm~390nm。主控板上設(shè)有三組指示燈,底座上設(shè)有可觀察三組指示燈點亮狀態(tài)的透明板。
優(yōu)選地,容置腔體包括:相互連通的第一容置腔體、第二置腔體及第三容置腔體,電池設(shè)置在第一容置腔體內(nèi),主控板設(shè)置在第二容置腔體內(nèi),電路板設(shè)置在第三容置腔體內(nèi),且第二容置腔體和第三容置腔體分別設(shè)置在第一容置腔體的兩側(cè)。
優(yōu)選地,底板正對第一容置腔體開設(shè)有電池更換孔,電池更換孔內(nèi)設(shè)有電池固定板,電池固定板將電池抵緊在第一容置腔體內(nèi)。
優(yōu)選地,底座上設(shè)有與主控板連接的開關(guān)按鈕和電源輸入接口。
優(yōu)選地,底座的外壁上設(shè)有與第三容置腔體對應(yīng)的缺口,容置通孔連通缺口和第三容置腔體。
優(yōu)選地,容置通孔呈圓錐狀設(shè)置。
優(yōu)選地,遮光罩鉸接在缺口內(nèi),遮光罩的口部設(shè)有光源蓋板,光源蓋板正對紫外線光源的位置朝向紫外線光源設(shè)有凸起部,凸起部上設(shè)有正對紫外線光源的透光孔。
優(yōu)選地,光源蓋板上設(shè)有與紫外線光源電性連接的彈簧頂針母頭,電路板上設(shè)有彈簧頂針公頭,彈簧頂針公頭的另一端穿出底座的外壁,并可與彈簧頂針母頭電性抵接。
優(yōu)選地,容置腔體內(nèi)滑動設(shè)有鎖栓,鎖栓的第一端凸出底板,鎖栓的第二端可滑出容置腔體至缺口內(nèi),且遮光罩的側(cè)壁上設(shè)有與鎖栓的第二端對應(yīng)的卡槽,鎖栓的第二端可卡入卡槽內(nèi)。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





