[發明專利]頻閃光源的光強校準裝置、方法及電子設備

在審

• 申請號: 202110436675.0
• 申請日: 2021-04-22
• 公開（公告）號: CN113340566A
• 公開（公告）日: 2021-09-03
• 發明（設計）人: 何世烈;黃云;路國光;周振威
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 繆成珠

1.一種頻閃光源的光強校準裝置，其特征在于，所述頻閃光源的光強校準裝置包括：

采樣元件，設置于頻閃光源所在回路上，所述回路上包括電源芯片，所述電源芯片為所述頻閃光源提供電壓；

采樣模塊，連接所述采樣元件，用于采集所述采樣元件的當前壓降；

主控模塊，分別連接所述頻閃光源、所述電源芯片以及所述采樣模塊，用于輸出脈沖信號至所述頻閃光源以點亮所述頻閃光源，以及獲取采樣模塊采集到的采樣元件的當前壓降，并比對所述當前壓降與目標壓降，以及根據比對結果調控所述電源芯片的輸出電壓，以校準所述頻閃光源的光強。

2.根據權利要求1所述的頻閃光源的光強校準裝置，其特征在于，所述目標壓降包括所述頻閃光源被點亮的初始階段時，所述采樣模塊采集到的采樣元件的初始壓降。

3.根據權利要求1所述的頻閃光源的光強校準裝置，其特征在于，所述電源芯片的輸入端連接可調反饋電阻，所述可調反饋電阻的阻值與所述電源芯片的輸出電壓相關聯；

所述主控模塊連接所述可調反饋電阻，用于根據比對結果調控所述可調反饋電阻的阻值，以調控所述電源芯片的輸出電壓。

4.根據權利要求3所述的頻閃光源的光強校準裝置，其特征在于，所述主控模塊還用于對所述電源芯片內部的控制寄存器的參數進行調節，以微調所述電源芯片的輸出電壓。

5.根據權利要求1所述的頻閃光源的光強校準裝置，其特征在于，所述回路上還包括光耦模塊和控制開關，所述光耦模塊用于對脈沖信號進行隔離和濾波，所述控制開關受所述光耦模塊輸出信號的控制實現通斷，以控制頻閃光源回路的通斷。

6.根據權利要求1所述的頻閃光源的光強校準裝置，其特征在于，所述頻閃光源的光強校準裝置還包括脈沖切換模塊，所述脈沖切換模塊用于切換輸入至所述頻閃光源的脈沖信號為外部脈沖信號或所述主控模塊輸出的脈沖信號，當切換至外部脈沖信號時，所述頻閃光源工作于正常工作模式，當切換至所述主控模塊輸出的脈沖信號，所述頻閃光源工作于光強校準模式。

7.一種頻閃光源的光強校準方法，其特征在于，所述頻閃光源的光強校準方法應用于所述頻閃光源的光強校準裝置，所述頻閃光源的光強校準裝置包括采樣元件和采樣模塊，所述采樣元件設置于頻閃光源所在回路上，所述回路上包括為所述頻閃光源提供電壓的電源芯片，所述采樣模塊用于采集所述采樣元件的當前壓降；所述頻閃光源的光強校準方法包括：

輸出脈沖信號至所述頻閃光源以點亮所述頻閃光源；

獲取采樣模塊采集到的采樣元件的當前壓降，并比對所述當前壓降和目標壓降；

根據比對結果調控所述電源芯片的輸出電壓，以校準所述頻閃光源的光強。

8.根據權利要求7所述的頻閃光源的光強校準方法，其特征在于，在所述獲取采樣模塊采集到的采樣元件的當前壓降，并比對所述當前壓降和目標壓降的步驟之前，所述頻閃光源的光強校準方法包括：

在所述頻閃光源被點亮的初始階段時，獲取所述采樣模塊采集到的采樣元件的初始壓降，以得到所述目標壓降。

9.根據權利要求7所述的頻閃光源的光強校準方法，其特征在于，所述電源芯片的輸入端連接可調反饋電阻，所述可調反饋電阻的阻值與所述電源芯片的輸出電壓相關聯；所述根據比對結果調控所述電源芯片的輸出電壓，以校準所述頻閃光源的光強的步驟包括：

根據比對結果調控所述可調反饋電阻的阻值，以對所述電源芯片的輸出電壓進行調整。

10.根據權利要求9所述的頻閃光源的光強校準方法，其特征在于，所述根據比對結果調控所述電源芯片的輸出電壓，以校準所述頻閃光源的光強的步驟還包括：

根據比對結果調控所述電源芯片內部的控制寄存器的參數，以對所述電源芯片的輸出電壓進行調整。