[發明專利]用于仿真技術系統的方法和設備在審
| 申請號: | 202110434499.7 | 申請日: | 2021-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN113553689A | 公開(公告)日: | 2021-10-26 |
| 發明(設計)人: | C·恩德勒;尹智洙;J·馮克勒;J·施密特;S·羅德 | 申請(專利權)人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G06F17/18;G06F111/08 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 張濤;劉春元 |
| 地址: | 德國斯*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 仿真技術 系統 方法 設備 | ||
1.一種用于仿真技術系統的方法(10),
其特征在于以下特征:
借助于所述系統的仿真模型獲得(11)時間序列,其中為所述仿真模型的至少一個認知參數分派能變化的值,
通過對所述系統的對應測量獲得(12)至少一個測量序列,
對于所述認知參數的每個值,分別計算(13)針對該值獲得的時間序列相對于所述測量序列的實數值誤差度量(15)以及所述誤差度量(15)的分布函數(16),以及
為了所述仿真使用(14)以下值,在所述值的情況下所述分布函數(16)與郝維賽德函數的距離最小。
2.根據權利要求1所述的方法(10),
其特征在于以下特征:
通過所述測量獲得多個彼此對應的測量序列,
對每個所述測量序列計算(13)所述誤差度量(15)和所述分布函數(16),以及
從所述測量序列中刪除以下測量序列,在所述測量序列的情況下所述分布函數(16)與其余分布函數(16)的距離超過預給定距離。
3.根據權利要求1或2所述的方法(10),
其特征在于以下特征:
所述距離是根據面積驗證度量確定的。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法(10),
其特征在于以下特征:
示出所述分布函數(16)的函數圖。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法(10),
其特征在于以下特征:
所述誤差度量(15)是均方誤差。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法(10),
其特征在于以下特征:
所述系統是嵌入式系統,并且
借助于所述仿真來檢查所述系統的功能可靠性。
7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法(10),
其特征在于以下特征之一:
所述系統被設置為自主地控制車輛,或
所述系統被設置為控制制造過程。
8.一種計算機程序,其被設置為執行根據權利要求1至7中任一項所述的方法(10)。
9.一種機器可讀存儲介質,其上存儲有根據權利要求8所述的計算機程序。
10.一種設備(20),其被設置為在集成的測試和仿真環境中執行根據權利要求1至7中任一項所述的方法(10)。
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