[發明專利]一種半導體測試用芯片觸點無靜電清理裝置

有效

• 申請號: 202110432856.6
• 申請日: 2021-04-21
• 公開（公告）號: CN113070257B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發明（設計）人: 楊建平
• 申請（專利權）人: 芯峰光電技術（深圳）有限公司
• 主分類號: B08B1/04
• 分類號: B08B1/04;B08B3/04;B08B13/00;H05F3/02
• 代理公司: 北京華仁聯合知識產權代理有限公司 11588
• 代理人: 于鳳娟

1.一種半導體測試用芯片觸點無靜電清理裝置，包括清理機構（100）、水泵（132）和電機（136），其特征在于：所述清理機構（100）包括殼體（110），所述殼體（110）的內部設置有內板（111），且內板（111）的外側套設有外板（112），所述內板（111）的兩側皆固定連接有滑塊（113），所述外板（112）兩側的內壁上皆開設有滑槽（114），所述滑塊（113）皆插設在滑槽（114）內部，所述外板（112）的兩側皆固定連接有螺套（115），且螺套（115）的中部皆插設有螺桿（116），并且螺桿（116）的底端皆通過軸承與殼體（110）內壁相連接，所述殼體（110）的內部設置有第一轉桿（117），且第一轉桿（117）的兩端皆通過軸承架與殼體（110）內壁相連接，所述第一轉桿（117）的后側設置有第二轉桿（118），且第二轉桿（118）的前端通過軸承架與殼體（110）內壁相連接，所述第二轉桿（118）的后端貫穿殼體（110）延伸至殼體（110）后側，所述內板（111）的頂端固定連接有第一連接桿（119），且第一連接桿（119）的頂端皆固定連接有放置槽（120），所述外板（112）的上方設置有第一隔板（122），且第一隔板（122）的外側與殼體（110）內壁固定連接，所述螺桿（116）的頂端皆通過軸承與第一隔板（122）相連接，所述第一隔板（122）的表面開設有通槽（123），所述通槽（123）的上方皆設置有轉套（124），且轉套（124）的內壁上皆固定連接有毛刷（125），所述第一隔板（122）的上方設置有第二隔板（126），且第二隔板（126）的兩側皆與殼體（110）內壁固定連接，所述轉套（124）的頂端皆固定連接有輸送桿（127），且輸送桿（127）的頂端皆貫穿第二隔板（126），所述轉套（124）的內部皆開設有輸送槽（128），且輸送槽（128）皆與輸送桿（127）相連通，所述輸送槽（128）的底端皆均勻連通有輸出口（129），所述殼體（110）的內部設置有輸送倉（130），所述輸送桿（127）的頂端皆與輸送倉（130）相連通，所述輸送桿（127）的頂端皆通過軸承與輸送倉（130）相連接，所述輸送倉（130）的頂端連通有內倉（131），且內倉（131）的頂端貫穿殼體（110）延伸至殼體（110）上方，所述內倉（131）的底端安裝有水泵（132），所述內倉（131）的外側套設有外套（133），且外套（133）的底端固定連接有第一膠塞（134），并且第一膠塞（134）插設在內倉（131）內部，所述第二隔板（126）的頂端設置有第三轉桿（135），且第三轉桿（135）的兩端皆通過軸承架與第二隔板（126）相連接，所述殼體（110）的后側安裝有電機（136），且電機（136）的輸出端固定連接有第四轉桿（137），所述第二隔板（126）的頂端設置有第五轉桿（138），且第五轉桿（138）的兩端皆通過軸承架與第二隔板（126）相連接，所述內板（111）的正面固定連接有把手（139），所述殼體（110）的外側安裝有防靜電保護機構（200）；

所述滑塊（113）的一側皆內嵌有滾珠，且滾珠的一側皆與滑槽（114）內壁相貼合。

2.根據權利要求1所述的一種半導體測試用芯片觸點無靜電清理裝置，其特征在于：所述放置槽（120）的內部皆設置有濾網（121），且濾網（121）的外側皆與放置槽（120）內壁固定連接。

3.根據權利要求1所述的一種半導體測試用芯片觸點無靜電清理裝置，其特征在于：所述外套（133）的外側均勻固定連接有防滑條。

4.根據權利要求1所述的一種半導體測試用芯片觸點無靜電清理裝置，其特征在于：所述殼體（110）的正面固定連接有外倉（140），且外倉（140）的頂端貫穿有插桿（141），并且插桿（141）的外側皆固定連接有連接環（142），所述連接環（142）的底端皆固定連接有第一彈簧（143），且第一彈簧（143）的底端皆與外倉（140）固定連接，所述插桿（141）的內部皆通過軸承連接有第六轉桿（144），且第六轉桿（144）的底端皆固定連接有底板（145），并且底板（145）的底端皆固定連接有抹布（146）。