[發(fā)明專利]零件溝道底徑檢具

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110430213.8
• 申請日: 2021-04-21
• 公開（公告）號: CN113048856A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設計）人: 徐秋菊;郭領(lǐng)洋;周隱;陶太泉
• 申請（專利權(quán)）人: 南京南傳智能技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/08
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 汪喆

本發(fā)明涉及零件尺寸檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種零件溝道底徑檢具。該零件溝道底徑檢具包括架體、具有調(diào)零功能的千分表、檢測部、定位部和校準規(guī)；檢測部和定位部相面對地連接于架體，檢測部能夠相對架體移動以靠近或遠離定位部，定位部能夠與待測溝道或校準溝道中的任一溝道形成多個第一接觸點，檢測部能夠與溝道形成單個第二接觸點，多個第一接觸點和單個第二接觸點的連線包圍溝道的圓心；千分表包括表體和觸頭，表體與架體連接，觸頭與檢測部的背離于定位部的側(cè)部抵接。該零件溝道底徑檢具可以實現(xiàn)零件溝道的在線檢測，能夠有效控制水平和垂直兩個方向的測量精度，以使測量精度高達±0.003mm。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及零件尺寸檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種零件溝道底徑檢具。

背景技術(shù)

相關(guān)技術(shù)中，類似于行星架這種部件包括具有外溝道的零件，且零件溝道多以曲面異形存在，傳統(tǒng)的千分尺無法準確測量這種零件溝道的底徑。往往需要采用三坐標測量儀進行測量，但是三坐標測量儀由于成本較高且使用條件苛刻，因而無法實現(xiàn)零件溝道底徑的在線測量。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種零件溝道底徑檢具，以在一定程度上解決現(xiàn)有技術(shù)中的零件溝道底徑檢測有賴于三坐標測量儀，無法實現(xiàn)在線檢測的技術(shù)問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案；

基于上述目的，本發(fā)明提供的零件溝道底徑檢具，包括架體、具有調(diào)零功能的千分表、檢測部、定位部和校準規(guī)；

待測零件的待測溝道的尺寸以所述校準規(guī)的校準溝道的尺寸為標準；

所述檢測部和所述定位部相面對地連接于所述架體，所述檢測部能夠相對所述架體移動以靠近或遠離所述定位部，所述定位部能夠與所述待測溝道或所述校準溝道中的任一溝道形成多個第一接觸點，所述檢測部能夠與所述溝道形成單個第二接觸點，多個所述第一接觸點和單個所述第二接觸點的連線包圍所述溝道的圓心；

所述千分表包括表體和觸頭，所述表體與所述架體連接，所述表體的讀數(shù)與所述觸頭被觸動的幅度相關(guān)，所述觸頭與所述檢測部的背離于所述定位部的側(cè)部抵接，以使所述觸頭能夠被所述檢測部觸動。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，所述定位部包括以預定跨距連接于所述架體的兩個定位球頭，所述檢測部包括一個檢測球頭，所述檢測球頭與所述定位球頭的大小和形狀完全相同。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，兩個所述定位球頭的球心連線的中垂線穿過所述檢測球頭的球心。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，所述定位部還包括第一安裝座和連接座，所述定位球頭與所述連接座的一端可拆卸連接，所述連接座的另一端與所述第一安裝座可拆卸連接。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，所述定位球頭的規(guī)格為多種，所述連接座為通用連接座，多種規(guī)格的所述定位球頭均能夠與所述通用連接座可拆卸連接。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，所述第一安裝座的規(guī)格為多種，每種規(guī)格的所述第一安裝座與所述架體可拆卸連接，每種規(guī)格的所述第一安裝座均設置有與所述通用連接座可拆卸地適配的通用安裝部。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，還包括導向部，所述導向部包括導向桿、第二安裝座和彈性復位件；

所述架體設置有第一導向通孔，所述第二安裝座與所述架體連接，所述第二安裝座設置有與所述第一導向通孔的導向方向一致的第二導向通孔；

所述導向桿的第一端與所述檢測球頭可拆卸連接，所述導向桿的第二端順次徑向適配地伸入到所述第一導向通孔與所述第二導向通孔內(nèi)；

所述表體與所述第二安裝座連接，所述觸頭伸入到所述第二導向通孔內(nèi)并與所述導向桿的第二端抵接。

在上述任一技術(shù)方案中，可選地，所述零件溝道底徑檢具還包括撥動組件；