[發明專利]一種涂層表界面完整性參數的靈敏度矩陣超聲反演方法有效
| 申請號: | 202110429231.4 | 申請日: | 2021-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN113219053B | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發明(設計)人: | 馬志遠;林莉;雷明凱 | 申請(專利權)人: | 大連理工大學 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04;G01N29/44 |
| 代理公司: | 大連星海專利事務所有限公司 21208 | 代理人: | 郭海英;花向陽 |
| 地址: | 116024 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 涂層 界面 完整性 參數 靈敏度 矩陣 超聲 反演 方法 | ||
1.一種涂層表界面完整性參數的靈敏度矩陣超聲反演方法,其特征是,將超聲檢測系統用數學函數表示為:
(1)
其中,p為涂層表界面的完整性參數,包括缺陷參數d、幾何參數g、微觀結構參數s和特性參數c,M(p)為系數矩陣,是描述缺陷參數d、幾何參數g、微觀結構參數s和特性參數c在外加超聲激勵x作用下的超聲響應的理論模型,包括超聲波的波動方程以及超聲波遇到相界面或缺陷時的反射、透射引起的散射衰減、頻散作用機制,y為超聲波實驗獲得的超聲輸出信號;
依據超聲波在涂層表界面結構中的作用機制,采用以下步驟對涂層表界面的完整性參數進行反演:
a、模型正則化:面向材料微觀結構的分析結果,通過解析、數值模擬、機器學習構建能夠準確描述材料的缺陷參數d、幾何參數g、微觀結構參數s和特性參數c在外加超聲激勵x下的超聲響應的理論模型f(d, g, s, c);
b、數據正則化:對超聲輸出信號y進行
(2)
式中,
c、靈敏度矩陣分析:基于變換后的理論模型F(d, g, s, c)與特征檢測信號
(3)
其中,
(4)
基于靈敏度矩陣識別并優選與待求的涂層表界面完整性參數p強相關|?(
d、基于靈敏度矩陣的反演:根據步驟c確定的與待求的涂層表界面完整性參數p強相關的特征檢測信號,為待求的涂層表界面完整性參數p預設一組初始值
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