[發(fā)明專利]提升鑒相精度的欠采樣頻率選取方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110427489.0
• 申請日: 2021-04-20
• 公開（公告）號: CN113238245B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 潘映伶;紀榮祎;張滋黎;董登峰;孟繁昌;崔成君;張佳;袁江;周維虎
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院微電子研究所
• 主分類號: G01S17/36
• 分類號: G01S17/36;H03L7/091
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

1.一種提升鑒相精度的欠采樣頻率選取方法，包括：

設(shè)定待采信號參數(shù)；

設(shè)定欠采樣參數(shù)；

根據(jù)欠采樣的采樣位置與待采信號的相對關(guān)系進行采樣；以及

確認最終欠采樣頻率，從而提升鑒相精度；

所述根據(jù)欠采樣的采樣位置與待采信號的相對關(guān)系進行采樣，包括：根據(jù)欠采樣的采樣位置與待采信號的相對關(guān)系進行順序采樣；以及根據(jù)欠采樣的采樣位置與待采信號的相對關(guān)系進行逆序采樣；

順序采樣時，將約束條件用待采信號頻率f和欠采樣頻率f_s可表示為：

且≠0.25；

順序采樣時：

逆序采樣時，將約束條件用待采信號頻率f和欠采樣頻率f_s可表示為：

且≠0.25；

逆序采樣時：

其中，rem表示余數(shù)，[]表示向下取整；T_s為欠采樣周期，T為待采信號周期，f為待采信號頻率，f_s為欠采樣頻率，n₁、n₂、n₃為非負整數(shù)，對待采信號進行采樣時，第一個、第二個及第三個采樣周期分別可以表征為n₁、n₂、n₃倍的待采信號周期與對應(yīng)的周期內(nèi)不滿一個待采信號周期的零散周期ΔT₁、ΔT₂、ΔT₃之和，為提升鑒相精度將ΔT表示為且其中ΔT為待采信號相鄰兩個采樣點的間隔。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提升鑒相精度的欠采樣頻率選取方法，所述設(shè)定待采信號參數(shù)包括設(shè)定待采信號頻率f。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的提升鑒相精度的欠采樣頻率選取方法，所述設(shè)定欠采樣參數(shù)包括設(shè)定欠采樣頻率為f_s。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的提升鑒相精度的欠采樣頻率選取方法，所述欠采樣頻率f_s滿足能夠滿足欠采樣的有效性，其中n為正整數(shù)，f為待采信號頻率。