[發(fā)明專利]非接觸式Demura-Gamma-Flicker三合一測量系統(tǒng)及方法

有效

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• 申請日: 2021-04-20
• 公開（公告）號: CN113176074B
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 羅時文;洪志坤;鄭增強(qiáng);張勝森;梅林海
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢精立電子技術(shù)有限公司;武漢精測電子集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/00;G02F1/13
• 代理公司: 武漢開元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍

本發(fā)明涉及非接觸式Demura?Gamma?Flicker三合一測量系統(tǒng)，包括模塊：相機(jī)工作模式選擇與切換模塊：根據(jù)模式選擇指令將彩色相機(jī)切換到對應(yīng)的工作模式；圖像采集模塊：根據(jù)對應(yīng)圖像采集模式，獲得采集的圖像；數(shù)據(jù)處理模塊：根據(jù)對應(yīng)工作模式和采集的圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，獲得數(shù)據(jù)處理結(jié)果。本發(fā)明還涉及測量方法，包括步驟：Flicker測量和校正，獲得并保存Flicker工作模式下的顯示器亮度抖動數(shù)據(jù)；或Demura測量和校正，獲得并保存Demura工作模式下的補(bǔ)償數(shù)據(jù)；或Gamma測量和校正，獲得并保存Gamma工作模式下的補(bǔ)償數(shù)據(jù)；進(jìn)行數(shù)據(jù)燒錄。本發(fā)明使相機(jī)同時具備高幀率、高分辨率工作模式，無需多個設(shè)備；無需設(shè)備切換；無需多次拆裝設(shè)備；LED參數(shù)一次性燒錄進(jìn)LED。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及LED檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體地涉及非接觸式Demura-Gamma-Flicker三合一測量系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

隨著顯示技術(shù)的快速發(fā)展，當(dāng)前人們對顯示設(shè)備的顯示質(zhì)量和性能要求也越來越高。顯示器出場必須經(jīng)過3個方面的檢測和校正：Flicker、Demura和Gamma曲線。具體來說：

目前市面上生產(chǎn)的液晶面板因其生產(chǎn)工藝原因，總會存在一定程度的Flicker閃爍現(xiàn)象，當(dāng)閃爍度越高，人眼越不適應(yīng)，導(dǎo)致觀看舒適度下降，所以在出廠前必須對每塊液晶模組的閃爍度進(jìn)行測量，并根據(jù)測量值調(diào)節(jié)相關(guān)參數(shù)，使Flicker閃爍度降到最小值。

Mura是顯示器出現(xiàn)的人眼可識別的亮度和色度顯示不均勻缺陷。目前由于LCD制程工藝的缺陷，材料、元器件、工藝的不穩(wěn)定性差異導(dǎo)致面板像素在輸出同樣灰度的畫面時亮度差異，造成mura；為提高面板顯示效果，提升面板的品質(zhì)和價格，所以需要對面板進(jìn)行Demura校正，以減輕和消除mura。

Gamma曲線是液晶顯示器的電光響應(yīng)的曲線。對常人來說，人眼對光線的感應(yīng)是一條非線性的光電曲線，并且對液晶顯示器上的顯示出的光線會感應(yīng)出不一樣的曲線，因此在設(shè)計(jì)LCD時，設(shè)計(jì)出專門的gamma曲線，以滿足對人的眼睛的感光細(xì)胞，達(dá)到心理上良好的視覺效果。

現(xiàn)有技術(shù)對于Flicker、Demura和Gamma曲線的檢測和校正采用的技術(shù)手段為：在Flicker的檢測和校正流程、Demura的檢測和校正流程和Gamma曲線的檢測和校正流程中，分別使用不同的相機(jī)對LED進(jìn)行拍攝。具體來說為：

Demura的檢測和校正流程要求相機(jī)具有高分辨率，而另一方面，F(xiàn)licker的檢測和校正流程以及Gamma曲線的檢測和校正流程則要求相機(jī)具有高幀率。尤其是進(jìn)行Flick測量時，相機(jī)刷新頻率達(dá)到顯示屏刷新頻率的3-4倍。

現(xiàn)有技術(shù)中，F(xiàn)licker的檢測和校正流程以及Gamma曲線的檢測和校正流程常使用Konica Minolta公司的探頭如CA310進(jìn)行測量。

現(xiàn)有技術(shù)的缺陷如下：

1.由于相機(jī)的高分辨率往往使幀率受限，無法達(dá)到高幀率，從而導(dǎo)致3個檢驗(yàn)和校正流程需要使用3個不同的設(shè)備，且要將LED在3個設(shè)備間進(jìn)行設(shè)備切換，操作繁瑣，工作效率低下；

2.由于Flicker的檢測和校正流程以及Gamma曲線的檢測和校正流程中大量使用的CA310探頭為接觸測量方式，且單次只能采集一個點(diǎn)的信息，從而導(dǎo)致設(shè)備拆裝不便，且采集效率低下；

3.由于3個檢驗(yàn)和校正流程所用設(shè)備相互獨(dú)立，因此只能將每個流程最終校正好后的LED參數(shù)分別燒錄進(jìn)LED的BIOS，從而導(dǎo)致燒錄過程要進(jìn)行3次，非常費(fèi)時。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對上述問題，提供非接觸式Demura-Gamma-Flicker三合一測量系統(tǒng)及方法，其目的在于使一臺彩色相機(jī)同時具備高幀率和高分辨率工作模式，無需多個設(shè)備，也無需進(jìn)行設(shè)備切換，無需多次拆裝設(shè)備；將每個流程最終校正好后的LED參數(shù)一次性燒錄進(jìn)LED的BIOS。