[發(fā)明專利]一種微波功率測量裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110423904.5 | 申請(qǐng)日： | 2021-04-20 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN113203892A | 公開（公告）日： | 2021-08-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 曾凡劍;黃貴榮;孫列鵬;施龍波;金珂安;何源 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院近代物理研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01R21/00 | 分類號(hào)： | G01R21/00;G01R31/00;H04B17/10;H04B17/20 |
| 代理公司： | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人： | 冀志華 |
| 地址： | 730000 甘*** | 國省代碼： | 甘肅;62 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 微波 功率 測量 裝置 方法 | ||
1.一種微波功率測量裝置，其特征在于，包括：
第一定向耦合器、第二定向耦合器和低電平系統(tǒng)；
所述第一定向耦合器和第二定向耦合器串接在待測微波線路中，且待測射頻功率由所述第一定向耦合器的入射端口進(jìn)入，并由所述第二定向耦合器的輸出端口輸出；
所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的隔離端口均與匹配負(fù)載連接；
所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口分別與所述低電平系統(tǒng)相連，由所述低電平系統(tǒng)對(duì)所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的輸出信號(hào)的幅值和相位進(jìn)行測量，進(jìn)而得到待測微波線路的正向信號(hào)和正向功率。
2.一種采用如權(quán)利要求1所述裝置的微波功率測量方法，其特征在于包括以下步驟：
1)將所述第一定向耦合器、第二定向耦合器串接在待測微波線路中，并將所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口與所述低電平系統(tǒng)相連，將所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的隔離端口與匹配負(fù)載相連；
2)所述低電平系統(tǒng)對(duì)所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口的輸出信號(hào)進(jìn)行測量，得到所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口的輸出信號(hào)V1和V2及其相位差α；
3)基于所述第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口的輸出信號(hào)V1和V2及其相位差α，計(jì)算得到待測微波線路的正向信號(hào)V+和正向功率P+。
3.如權(quán)利要求2所述的一種微波功率測量方法，其特征在于：所述步驟3)中，待測微波線路的正向信號(hào)V+和正向功率P+的計(jì)算公式為：
P+＝|V+|2
其中，c1、c2分別為第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合度系數(shù)；i1、i2分別為第一定向耦合器和第二定向耦合器的隔離度系數(shù)；是第一定向耦合器和第二定向耦合器間的相位差；V1和V2分別為第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口的輸出信號(hào)；α為第一定向耦合器和第二定向耦合器的耦合端口的輸出信號(hào)的相位差。
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