[發明專利]一種蓋板平震分揀機

在審

• 申請號: 202110423076.5
• 申請日: 2021-04-20
• 公開（公告）號: CN113118066A
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: 張國安
• 申請（專利權）人: 銅陵市多元微分科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/34;B07C5/10;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 銅陵市天成專利事務所(普通合伙) 34105
• 代理人: 范智強

本發明公開了一種蓋板平震分揀機，包括基座，基座頂面設有至少兩個疊料調整旋鈕，基座側面底部依次設有高度調節板、來料感應孔a、卸料孔和翻面導向板，所述高度調節板與疊料調整旋鈕相適應；所述基座底面固接兩個疊料調節板，所述兩個疊料調節板首尾相連，并延伸出基座體外；所述疊料調節板延伸出基座一側設有來料感應孔b和不合格品卸料孔；所述疊料調節板延伸出基座一側表面還設有復片調節板；所述疊料調節板側邊固接沿板，所述沿板位于高度調節板底部；所述基座頂部側邊與電磁振動送料器相連；所述接料裝置包括待定品料口，所述待定品料口與來料感應孔b適應；所述來料感應孔b水平方向設有不合格品料口；所述來料感應孔b垂直方向設有合格品料口。

技術領域

本發明涉及晶片分揀設備技術領域，尤其涉及一種蓋板平震分揀機，用于SMD晶振蓋板合格及不合格成品的分揀。

背景技術

石英晶體元器件在頻率控制及頻率選擇領域的應用，為人類的科技發展做出了巨大的貢獻。中國晶振行業作為后來者在晶體制造領域還缺乏很多的核心競爭力，中國企業在開發新工藝，技術人員培養，制造方法，和相關的設備研發能力嚴重不足，特別是SMD晶振制造設備和制造技術大部分依賴進口，在制造小型化SMD晶振產品時，尤其是2520,1612等超小型晶體，日本公司的制造能力遠比中國企業強。

SMD晶振蓋板制造是晶體制造中的重要一環，SMD晶振蓋板外觀質量檢測，是產品出廠前的最后一道把控程序。目前在生產SMD晶振蓋板的有些中國企業，大部分還在使用人工進行分揀，雖然也有些中國企業開發出相應的分揀設備，但結構復雜，運維成本高，基本都是由傳送單元和圖像識別處理單元構成，傳送單元包括加料器，玻璃圓盤料臺，機械手搬運裝置構成，在玻璃圓盤上方和下方設有光源和攝像頭進行識別處理，但是現有的自動檢測設備收集合格品時需要壓縮空氣，會對產品造成二次污染，玻璃下方的攝像頭對產品的背面進行檢測時，由于中間隔著玻璃會對需要檢測的產品產生誤判，這些缺陷。給生產企業造成了很大的困擾。發明一種運行成本低，結構簡單，穩定可靠的分揀設備勢在必行。

專利號 CN201610817746.0，公開了一種太陽能硅晶片缺陷檢測系統，包括：視覺圖像采集系統、圖像處理系統和分揀系統；所述視覺圖像采集系統用于在硅晶片自動生產線上自動采集硅晶片的圖像，所述圖像處理系統用于分析采集到的硅晶片圖像，并對硅晶片圖像進行自動識別，并將識別的信號發送至分揀系統，分揀系統用于執行圖像處理系統的信號，分揀出有缺陷的硅晶片，并將相同缺陷的硅晶片分揀至相同的分揀箱內，實現硅晶片的精準分揀。但該發明檢測對晶片的檢測角度和檢測方位受到了一定限制，不能完全將有缺陷的晶片分揀出來。

發明內容

本發明解決的一個技術問題是，為解決背景技術中所提到的問題，現提供一種可自動翻面調節式的蓋板平震分揀機，能夠對產品的外觀、色差、形狀進行多面檢測，以及能夠及時準確的對分揀產品進行分揀。

本發明采用的技術方案是：包括箱體，所述箱體內設有送料裝置、相機檢測裝置、平震檢測調節裝置、接料裝置和控制裝置；所述箱體表面設有報警裝置；

所述平震檢測調節裝置包括基座，所述基座頂面設有至少兩個疊料調整旋鈕，所述基座側面底部依次設有高度調節板、來料感應孔a、卸料孔和翻面導向板，所述高度調節板與疊料調整旋鈕相適應；所述基座底面固接兩個疊料調節板，所述兩個疊料調節板首尾相連，并延伸出基座體外；所述疊料調節板延伸出基座一側設有來料感應孔b和不合格品卸料孔；所述疊料調節板延伸出基座一側表面還設有復片調節板；所述疊料調節板側邊固接沿板，所述沿板位于高度調節板底部；所述基座頂部側邊與電磁振動送料器相連；

所述接料裝置包括待定品料口，所述待定品料口與來料感應孔b適應；所述來料感應孔b水平方向設有不合格品料口；所述來料感應孔b垂直方向設有合格品料口。

作為本發明的進一步改進，所述送料裝置包括圓震送料器；所述圓震送料器通過阻尼器固接在減震墊板表面；所述送料裝置送料口與基座相連接。