[發(fā)明專利]基于機艙雙曲分段建造的下口定位自檢方法及裝置、介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110422138.0 | 申請日: | 2021-04-20 |
| 公開(公告)號: | CN113120005B | 公開(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 嚴海馬;葉健沖 | 申請(專利權)人: | 江門市南洋船舶工程有限公司 |
| 主分類號: | B61B12/06 | 分類號: | B61B12/06;B63B73/10 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 葉恩華 |
| 地址: | 529145 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 機艙 分段 建造 下口 定位 自檢 方法 裝置 介質(zhì) | ||
本發(fā)明提供了一種基于機艙雙曲分段建造的下口定位自檢方法及裝置、介質(zhì),該方法包括:導入船體模型,確定船體模型中表征分段下口的參考截面;根據(jù)參考截面確定首口基準點和尾口基準點,根據(jù)首口基準點和尾口基準點確定定位輔助線;從參考截面中確定至少兩個自檢參考點,將自檢參考點到定位輔助線的距離確定為自檢距離,其中,自檢參考點位于參考截面的外板下口;根據(jù)定位輔助線和自檢距離生成自檢參考值模板;獲取余量測量值,根據(jù)余量測量值和自檢參考值模板得到自檢結果。根據(jù)本發(fā)明實施例的技術方案,能夠自動生成參考值模板,根據(jù)參考值模板對余量測量值進行自動自檢,有效提高了下口定位自檢的效率和準確性。
技術領域
本發(fā)明涉及但不限于造船技術領域,尤其涉及一種基于機艙雙曲分段建造的下口定位自檢方法及裝置、介質(zhì)。
背景技術
隨著造船技術的提升,船舶機艙雙曲分段大多采用反造的方式。反造的方式雖然有利于簡化胎架制作,但是機艙雙曲分段設計的下口都是帶有余量的,由于分段反造時下口遠離胎架面,采用傳統(tǒng)的吊線或者拉尺的方式進行下口定位自檢很容易受到內(nèi)部結構的干擾,較難實時,因此采用分段反造的方式面臨著帶余量的分段下口精度定位和自檢困難的問題。
發(fā)明內(nèi)容
以下是對本文詳細描述的主題的概述。本概述并非是為了限制權利要求的保護范圍。
本發(fā)明實施例提供了一種基于機艙雙曲分段建造的下口定位自檢方法及裝置、介質(zhì),能夠實現(xiàn)精準、高效、簡單地完成分段下口定位。
第一方面,本發(fā)明實施例提供了一種基于機艙雙曲分段建造的下口定位自檢方法,包括:
導入船體模型,確定所述船體模型中表征分段下口的參考截面;
根據(jù)所述參考截面確定首口基準點和尾口基準點,根據(jù)所述首口基準點和所述尾口基準點確定定位輔助線;
從所述參考截面中確定至少兩個自檢參考點,將所述自檢參考點到所述定位輔助線的距離確定為自檢距離,其中,所述自檢參考點位于所述參考截面的外板下口;
根據(jù)所述定位輔助線和所述自檢距離生成自檢參考值模板;
獲取余量測量值,根據(jù)所述余量測量值和所述自檢參考值模板得到自檢結果。
本發(fā)明實施例包括:導入船體模型,確定所述船體模型中表征分段下口的參考截面;根據(jù)所述參考截面確定首口基準點和尾口基準點,根據(jù)所述首口基準點和所述尾口基準點確定定位輔助線;從所述參考截面中確定至少兩個自檢參考點,將所述自檢參考點到所述定位輔助線的距離確定為自檢距離,其中,所述自檢參考點位于所述參考截面的外板下口;根據(jù)所述定位輔助線和所述自檢距離生成自檢參考值模板;獲取余量測量值,根據(jù)所述余量測量值和所述自檢參考值模板得到自檢結果。根據(jù)本發(fā)明實施例的技術方案,能夠自動生成參考值模板,根據(jù)參考值模板對余量測量值進行自動自檢,有效提高了下口定位自檢的效率和準確性。
作為上述方案的進一步改進,所述確定首口基準點和尾口基準點,包括:
從所述參考截面獲取首口參考點和尾口參考點;
獲取預先設定的基準偏移值,根據(jù)所述基準偏移值和所述首口參考點確定所述首口基準點,根據(jù)所述基準偏移值和所述尾口參考點確定所述尾口基準點。
作為上述方案的進一步改進,在所述確定所述船體模型中表征分段下口的參考截面之后,所述方法還包括:
確定參考輔助線,所述參考輔助線包括船體中心線和肋位參考線。
作為上述方案的進一步改進,所述獲取余量測量值,包括:
從所述肋位參考線中確定無余量點;
獲取所述無余量點與所述外板下口的距離作為所述余量測量值。
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