[發明專利]一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具

在審

• 申請號: 202110421899.4
• 申請日: 2021-04-20
• 公開（公告）號: CN113514754A
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發明（設計）人: 吳志斌;黃志帆
• 申請（專利權）人: 深圳市創芯達科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，涉及集成電路測試技術領域，解決了現有的集成電路測試在實際應用過程中存在著一是無法對批量的芯片產品進行自動化的高效進料操作，因此會因手工擺放芯片所出現的差異化導致芯片檢測失敗，二是無法根據不同型號的芯片進行快速更換夾具進行導向檢測，進而存在著使用的局限性，再者是無法利用機械聯動對芯片的取用及檢測一體化進行，不利于對批量的芯片進行檢測加工的問題，包括承載架，其特征在于：所述承載架為“U”字形結構設計，本發明中，可通過向定位器內部的所處開槽位置添加不同規格的可拆卸式聚攏器的同時依次在矩形框的內部根據可拆卸式聚攏器的規律進行碼放芯。

技術領域

本發明屬于集成電路測試技術領域，更具體地說，特別涉及一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具。

背景技術

集成電路是一種微型電子器件或部件，采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步,而集成電路在生產過程中需要進行批量的測試工作進行質量檢測，而在測試過程中多為人工手動將多個芯片進行碼放后進行檢測，但該種檢測方式容易因人工擺放的差異化造成芯片的檢測失誤。

例如申請號：CN201310737015.1，本發明涉及一種測試定位夾具，具體的說是一種用于轉盤式集成電路測試分選機的測試定位夾具，屬于集成電路測試分選機技術領域。其包括測試底座，上測試調整塊上通過螺栓連接擺臂支座，擺臂支座前后兩側對稱位置處分別通過擺臂軸轉動連接一個擺臂，兩個擺臂下端之間連接擺臂拉簧。擺臂上端設有電路板定位夾緊塊，電路板定位夾緊塊通過鎖緊螺釘鎖緊位置。本發明使用方便，測量精度高；具有自動定位、夾緊功能，能夠在真空吸筆帶動集成電路下壓過程中，對集成電路進行自動位置校正及夾緊，提高了產品的質量。

基于上述專利的檢索，以及結合現有技術中的設備發現，上述設備在應用時，雖然可以進行鎖緊定位，但在實際應用過程中存在著一是無法對批量的芯片產品進行自動化的高效進料操作，因此會因手工擺放芯片所出現的差異化導致芯片檢測失敗，二是無法根據不同型號的芯片進行快速更換夾具進行導向檢測，進而存在著使用的局限性，再者是無法利用機械聯動對芯片的取用及檢測一體化進行，不利于對批量的芯片進行檢測加工。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，以解決現有的集成電路測試在實際應用過程中存在著一是無法對批量的芯片產品進行自動化的高效進料操作，因此會因手工擺放芯片所出現的差異化導致芯片檢測失敗，二是無法根據不同型號的芯片進行快速更換夾具進行導向檢測，進而存在著使用的局限性，再者是無法利用機械聯動對芯片的取用及檢測一體化進行，不利于對批量的芯片進行檢測加工的問題。

本發明一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具的目的與功效，由以下具體技術手段所達成：

一種具有定位功能的用于集成電路測試分選機的測試夾具，包括承載架；

其特征在于：所述承載架為“U”字形結構設計，且承載架的內部底端安裝有隔板，并且在承載架的右端面頂側還安裝有一貫通的矩形框，矩形框的長度與承載架的寬度一致，在隔板的上方還安裝有驅動機構。

進一步的，所述測試機構還包括；

從動組件，從動組件為鏈條或皮帶，且從動組件為套接在兩處傳動組件的外側結構設計；

連桿A，連桿A為長方體結構設計，且連桿A的前端面還設有導柱，并且連桿A通過其前端面所設置的導柱沿著導向盤后側所開設的橢圓槽滑動，而連桿A穿過導向盤與位于上次額的傳動組件相連；

進一步的，所述驅動機構包括：