[發明專利]一種測試裝置的校驗方法、校驗系統、計算機設備和介質

在審

• 申請號: 202110421230.5
• 申請日: 2021-04-20
• 公開（公告）號: CN113280847A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: 馬繼揚;韓傳云;李維維;陳強
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創科技股份有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張帆

本發明公開了一種測試裝置的校驗方法、校驗系統、計算機設備和存儲介質，應用于可編程邏輯控制器的校驗方法包括：按照預設校驗流程控制移載裝置將樣本器件移入待校驗測試裝置，樣本器件為已檢測的顯示器件；按照預設校驗內容控制待校驗測試裝置檢測樣本器件，并接收待校驗測試裝置輸出的第一檢測信息；按照預設校驗流程控制移載裝置將樣本器件移出待校驗測試裝置中；根據樣本器件的器件狀態和所述第一檢測信息生成待校驗測試裝置的校驗結果。本發明提供的實施例能夠利用已檢測的顯示器件、可編程邏輯控制器和移載裝置反向校驗測試裝置，從而方便、快捷地校驗測試裝置，降低校驗成本，具有實際應用前景。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種測試裝置的校驗方法、校驗系統、計算機設備和存儲介質。

背景技術

顯示器件在出廠前需要進行各種檢測，比如電檢、顯示不良檢測、AOI(自動光學檢測)、外觀檢、老化測試等，以達到確定產品為合格品的目的，在一臺自動化測試裝置布局中，會有多個工位進行同一種檢測或者進行不同種檢測，這樣自動化測試裝置的重復性和復現性就顯的尤為重要。

現有技術中，往往采用人工對每個工位進行校驗或者點檢的方式，人工成本高且生產效率很低，如何對自動化測試裝置進行重復性和復現性檢測成為亟待解決的問題。

發明內容

為了解決上述問題至少之一，本發明第一個實施例提供一種檢測顯示器件測試裝置的校驗方法，應用于可編程邏輯控制器，包括：

S10：按照預設校驗流程控制移載裝置將樣本器件移入待校驗測試裝置，所述樣本器件為已檢測的顯示器件；

S12：按照預設校驗內容控制所述待校驗測試裝置檢測所述樣本器件，并接收所述待校驗測試裝置輸出的第一檢測信息；

S14：按照預設校驗流程控制移載裝置將所述樣本器件移出所述待校驗測試裝置中；

S16：根據所述樣本器件的器件狀態和所述第一檢測信息生成所述待校驗測試裝置的校驗結果。

例如，在本申請一些實施例提供的校驗方法中，在所述S10之前，所述校驗方法還包括：S01：識別所述樣本器件并獲取其第二檢測信息，根據識別的所述樣本器件生成作為預設校驗內容的第一校驗內容；

所述S16進一步包括：根據所述樣本器件的器件狀態、所述第二檢測信息和所述第一檢測信息生成所述待校驗測試裝置的校驗結果。

例如，在本申請一些實施例提供的校驗方法中，在所述S12之前，所述校驗方法還包括：S11：接收人機交互裝置輸入的校驗參數，根據所述校驗參數和第一校驗內容生成作為預設校驗內容的第二校驗內容，所述校驗參數包括校驗項目、校驗次數、校驗時間和校驗時間間隔中的至少一項；

在所述S16之后，所述校驗方法還包括：S18：控制所述人機交互裝置顯示所述校驗結果。

例如，在本申請一些實施例提供的校驗方法中，在所述S16之后，所述校驗次數為多次，

所述S12進一步包括：按照所述第二校驗內容對所述樣本器件進行多次測量，并接收所述待校驗測試裝置輸出的多個第一檢測信息；

所述S16進一步包括：根據所述樣本器件的器件狀態、所述第二檢測信息和所述多個第一檢測信息生成所述待校驗測試裝置的校驗結果。

例如，在本申請一些實施例提供的校驗方法中，所述待校驗測試裝置包括中轉工位和多個檢測工位，

所述S11進一步包括：所述校驗參數還包括待驗證檢測工位的名稱或編號，并根據所述校驗參數和第一校驗內容生成作為預設校驗內容的第二校驗內容；

所述S12進一步包括：按照所述第二校驗內容依次控制各檢測工位分別對各樣本器件進行多次檢測，并接收各檢測工位輸出的多個第一檢測信息，并控制所述移載裝置在各檢測工位和中轉工位間移送所述樣本器件。