[發明專利]一種屏幕模組外觀檢測設備及檢測方法

在審

• 申請號: 202110418091.0
• 申請日: 2021-04-19
• 公開（公告）號: CN112798609A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 許朋飛;余太平;胡彥潮
• 申請（專利權）人: 深圳市羅博威視科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/94;G01N35/00;G01B11/16;B07C5/342
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 朱陽波

1.一種屏幕模組外觀檢測設備，其特征在于，包括：

機架，所述機架包括底座，以及設置于所述底座上的支架；

傳動機構，所述傳動機構沿長度方向設置于所述底座上；

透光載料臺，所述透光載料臺設置于所述傳動機構上，所述透光載料臺用于承載屏幕模組；

若干檢測工位，所述檢測工位設置于所述支架上，所述檢測工位設置有檢測相機和光源；

其中，所述透光載料臺設置有透明臺和背光源，所述透明臺包括沿高度方向依次設置的第一承載板和第二承載板，所述第一承載板與所述傳動機構連接，且所述背光源設置于所述第一承載板上，所述屏幕模組設置于所述第二承載板上，所述檢測相機沿高度方向上設置于所述光源背離所述第二承載板的一側。

2.根據權利要求1所述的屏幕模組外觀檢測設備，其特征在于，

所述屏幕模組包括：玻璃偏光板部、膠層部、覆晶薄膜部和PCB板部；

所述檢測工位包括沿所述傳動機構移動方向上依次設置的第一檢測工位、第二檢測工位、第三檢測工位、第四檢測工位和第五檢測工位；

所述第一檢測工位和第二檢測工位用于檢測所述玻璃偏光板部，所述第三檢測工位用于檢測所述膠層部，所述第四檢測工位用于檢測所述覆晶薄膜部，所述第五檢測工位用于檢測所述PCB板部。

3.根據權利要求2所述的屏幕模組外觀檢測設備，其特征在于，所述第一檢測工位包括：

第一相機支架，所述第一相機支架設置于所述支架上，且所述第一相機支架沿寬度方向可相對所述支架滑動；

第一光源支架，所述第一光源支架連接于所述支架上，且所述第一光源支架沿寬度方向可相對所述支架滑動；

第一線光源，所述第一線光源沿寬度方向設置于所述第一光源支架上；

第一線掃相機，所述第一線掃相機沿寬度方向設置于所述第一相機支架的一端上；

第二線掃相機，所述第二線掃相機沿寬度方向設置于所述第一相機支架的另一端上；

其中，所述第一相機支架和第一光源支架設置為雙軸支架，所述第一線光源可繞所述第一光源支架轉動，所述第一線掃相機和第二線掃相機可繞所述第一相機支架轉動。

4.根據權利要求3所述的屏幕模組外觀檢測設備，其特征在于，

所述第一線掃相機和第二線掃相機與所述屏幕模組呈80°±2°夾角設置；

所述第一線光源與所述屏幕模組呈75°±2°夾角設置；

所述第一線掃相機和所述第二線掃相機都與所述第一線光源呈25°±2°夾角設置；

所述第一線掃相機和第二線掃相機與所述屏幕模組沿高度方向的間距為312±10mm；

所述第一線光源與所述屏幕模組沿高度方向的間距為55±1mm。

5.根據權利要求2所述的屏幕模組外觀檢測設備，其特征在于，所述第二檢測工位包括：

第二相機支架，所述第二相機支架設置于所述支架上，且所述第二相機支架沿寬度方向可相對所述支架滑動；

第二光源支架，所述第二光源支架連接于所述支架上，且所述第二光源支架沿寬度方向可相對所述支架滑動；

第二線光源，所述第二線光源沿寬度方向設置于所述第二光源支架上；

第三線掃相機，所述第三線掃相機沿寬度方向設置于所述第二相機支架的一端上；

第四線掃相機，所述第四線掃相機沿寬度方向設置于所述第二相機支架的另一端上；

其中，所述第二相機支架和第二光源支架設置為雙軸支架，所述第二線光源可繞所述第二光源支架轉動，所述第三線掃相機和第四線掃相機可繞所述第二相機支架轉動。

6.根據權利要求5所述的屏幕模組外觀檢測設備，其特征在于，

所述第三線掃相機和第四線掃相機與所述屏幕模組呈85°±2°夾角設置；

所述第二線光源與所述屏幕模組呈75°±2°夾角設置；

所述第三線掃相機和所述第四線掃相機都與所述第二線光源呈20°±2°夾角設置；

所述第三線掃相機和第四線掃相機與所述屏幕模組沿高度方向的間距為312±10mm；

所述第二線光源與所述屏幕模組沿高度方向的間距為70±1mm。