[發明專利]針腳式電子器件屬性值快速測試器

在審

• 申請號: 202110411578.6
• 申請日: 2021-04-16
• 公開（公告）號: CN113311232A
• 公開（公告）日: 2021-08-27
• 發明（設計）人: 田川
• 申請（專利權）人: 國網山東省電力公司淄博供電公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R27/26;H05K7/20
• 代理公司: 淄博川誠知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 37275
• 代理人: 高鵬飛

本發明屬于微電子領域技術領域，尤其是針腳式電子器件屬性值快速測試器，包括殼體，所述殼體的頂端設置有頂塊，且頂塊四周均為傾斜面，所述頂塊的頂端設置的放置端，且放置端包括開設于頂塊的檢測條槽，所述檢測條槽的兩端均固定安裝有探點塊，且探點塊頂端均開設有探點槽，所述頂塊的兩側安裝有提拉機構，所述殼體的內部固定安裝有檢測組件，且檢測組件由電容檢測模塊、電感檢測模塊以及電阻檢測模塊組成，所述殼體內部靠近檢測組件的一側固定安裝有中央處理器。本發明通過設置的水冷機構，能夠利用半導體制冷器配合冷卻液、水冷管的水冷作用，對中央處理器以及檢測組件進行有效的降溫處理，以避免其發生過熱現象。

技術領域

本發明涉及微電子領域技術領域，尤其涉及針腳式電子器件屬性值快速測試器。

背景技術

微電子技術是隨著集成電路，尤其是超大型規模集成電路而發展起來的一門新的技術。微電子技術包括系統電路設計、器件物理、工藝技術、材料制備、自動測試以及封裝、組裝等一系列專門的技術，微電子技術是微電子學中的各項工藝技術的總和。微電子技術的關鍵在于研究集成電路的工作方式以及如何實際制造應用。集成電路的發展依賴于半導體器件的不斷演化。微電子技術可在納米級超小的區域內通過固體內的微觀電子運動來實現信息的處理與傳遞，并且有著很好的集成性。現在無相應的針腳電子器件快速測試裝置，需要通過記憶電阻本體色環、電抗器電容器本體數值來區分值得大小或通過查閱相關技術資料得到，對于色環不清晰，或大量使用時帶來諸多不便。

經檢索，中國專利申請號為CN2018111537028的專利，公開了一種電力電子器件測試裝置，包括電源模塊、系統控制單元、阻抗測試單元、低壓測試單元、觸發回報單元、輸出控制單元、采樣單元和外設。電源模塊與外部交流電連接為裝置提供電源，系統控制單元與阻抗測試單元、電壓測試單元、觸發回報單元、輸出控制單元及采樣單元連接，控制其他單元的輸出。該專利能夠解決上述問題，但是該專利在長時間運行過程中，測試單元以及控制處理單元，均容易產生過熱現象，從而影響檢測作業的運行，故而存在一定的局限性。

發明內容

本發明的目的是為了解決現有技術中存在的問題，而提出的針腳式電子器件屬性值快速測試器。

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案如下。

針腳式電子器件屬性值快速測試器，包括殼體，所述殼體的頂端設置有頂塊，且頂塊四周均為傾斜面，所述頂塊的頂端設置的放置端，且放置端包括開設于頂塊的檢測條槽，所述檢測條槽的兩端均固定安裝有探點塊，且探點塊頂端均開設有探點槽，所述頂塊的兩側安裝有提拉機構，所述殼體的內部固定安裝有檢測組件，且檢測組件由電容檢測模塊、電感檢測模塊以及電阻檢測模塊組成，所述殼體內部靠近檢測組件的一側固定安裝有中央處理器，所述殼體的一側外壁固定安裝有冷卻機構，所述殼體靠近冷卻機構的一側安裝設置有顯示屏。

優選地，所述冷卻機構包括通過固定安裝于殼體一側的冷卻側盒，且冷卻側盒的一側開設有安裝槽口，所述安裝槽口的內壁固定安裝有半導體制冷器，且半導體制冷器的制冷端靠近冷卻側盒的內部。

優選地，所述冷卻側盒靠近半導體制冷器的一側固定安裝有隔板，且隔板的剖面為C形結構，所述冷卻側盒靠近端部的兩側分別固定安裝有隔片，且隔片與冷卻側盒構成冷卻腔，所述冷卻腔的內部填充有冷卻液。

優選地，位于頂端所述隔片的一側固定安裝有微型泵，且微型泵的輸入端固定連接有螺旋管，所述螺旋管的外壁開設有等距離分布的通孔，底端所述隔片固定連接有水冷管。

優選地，所述水冷管的另一端與微型泵的輸出端固定連接，且水冷管整體為U形結構，所述殼體內部固定設置有換熱銅片，且換熱銅片與中央處理器、檢測組件相接觸。

優選地，所述換熱銅片的四周外壁均固定連接有換熱支腳，且換熱支腳的中端均為半圓狀，所述換熱支腳的中端包裹在水冷管的底端外壁。

優選地，所述提拉機構包括固定連接于殼體一側外壁的提帶，且殼體遠離冷卻機構的一側固定安裝有固定連接塊。