[發(fā)明專(zhuān)利]用于低溫超導(dǎo)磁體的腔內(nèi)顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng)、其測(cè)試方法和應(yīng)用在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110409769.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113390789A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊洋;朱恪;劉吳國(guó);林忠濤 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院物理研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/01 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/01;G01N21/65 |
| 代理公司: | 北京市英智偉誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11521 | 代理人: | 劉丹妮;姚望舒 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 低溫 超導(dǎo) 磁體 顯微 光譜 測(cè)試 系統(tǒng) 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種用于低溫超導(dǎo)磁體的腔內(nèi)顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括:
低溫樣品腔;
低溫超導(dǎo)磁體;
激光器,用于為樣品提供測(cè)試光源;
單色儀,用于拉曼信號(hào)的采集;
反射鏡一,用于將拉曼信號(hào)反射到槽型凹陷濾波片;
槽型凹陷濾波片,用于過(guò)濾拉曼信號(hào)中的激光;
反射鏡二,用于用于將拉曼信號(hào)反射進(jìn)入信號(hào)收集光路;
反射鏡三,用于將拉曼信號(hào)反射進(jìn)入低溫超導(dǎo)磁體;
透鏡,用于將拉曼信號(hào)匯聚到光纖中;
光纖,用于將激光器輸出的激光導(dǎo)入激發(fā)光路和將拉曼信號(hào)導(dǎo)入單色儀中;
低溫顯微物鏡,所述低溫顯微物鏡置于低溫超導(dǎo)磁體樣品腔內(nèi)部,用于將激光聚焦在樣品表面,收集拉曼信號(hào);優(yōu)選地,所述低溫顯微物鏡的數(shù)值孔徑為0.2~0.8,優(yōu)選為0.8;和
低溫三維位移臺(tái),用于在低溫樣品腔內(nèi)部放置樣品,并精確移動(dòng)樣品位置;
其中,低溫樣品腔中還設(shè)置有低溫腔樣品插桿,用于固定低溫顯微物鏡和低溫三維位移臺(tái);
所述低溫的溫度≥4K。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的腔內(nèi)顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述經(jīng)反射鏡三反射的光束中心與所述低溫顯微物鏡的光軸一致。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述低溫樣品腔插桿頂端設(shè)置有與低溫超導(dǎo)磁體樣品腔適配的真空法蘭,用于保證低溫樣品腔所需真空度;
優(yōu)選地,所述真空法蘭中心安裝有光學(xué)玻璃窗口。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的腔內(nèi)顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)還包括光學(xué)平板用于固定光學(xué)元件;
優(yōu)選地,所述光學(xué)平板帶有導(dǎo)軌。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)還包括由電腦構(gòu)成的數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)系統(tǒng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述低溫樣品腔的工作真空度≤3.4×102mbar。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,樣品表面與磁場(chǎng)方向、入射激光方向垂直。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述槽型凹陷濾波片的參數(shù)選擇范圍≥100cm-1。
9.一種顯微拉曼光譜測(cè)試方法,其特征在于,所述方法使用權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,其中,所述方法包括以下步驟:
(1)激光通過(guò)光纖傳輸后,通過(guò)準(zhǔn)直器變成平行光,然后經(jīng)過(guò)反射鏡反射到槽型凹陷濾波片,然后被第二面反射鏡反射,透過(guò)樣品插桿上的光學(xué)窗口,進(jìn)入樣品腔,然后通過(guò)樣品插桿上的低溫光學(xué)物鏡匯聚到樣品表面;
(2)通過(guò)低溫位移臺(tái)調(diào)整樣品高度,實(shí)現(xiàn)聚焦激光光斑;
(3)激光從樣品激發(fā)的拉曼信號(hào)通過(guò)同一個(gè)顯微物鏡收集,然后透過(guò)樣品插桿上的光學(xué)窗口,被反射鏡反射后通過(guò)槽型凹陷濾波片,只有拉曼信號(hào)通過(guò);
(4)拉曼信號(hào)被透鏡匯聚進(jìn)入收集光路光纖,進(jìn)入單色儀進(jìn)行光譜采集。
10.一種光譜測(cè)量?jī)x器,其特征在于,所述光譜測(cè)量?jī)x器包括根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的顯微拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng)。
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G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
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