[發明專利]一種半導體外延片生長設備在審
| 申請號: | 202110408846.9 | 申請日: | 2021-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN112981526A | 公開(公告)日: | 2021-06-18 |
| 發明(設計)人: | 鄭國 | 申請(專利權)人: | 上海衍梓智能科技有限公司 |
| 主分類號: | C30B25/08 | 分類號: | C30B25/08;C30B29/06 |
| 代理公司: | 上海國瓴律師事務所 31363 | 代理人: | 傅耀 |
| 地址: | 200240 上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 半導體 外延 生長 設備 | ||
本發明提供了一種半導體外延片生長設備,包括基座、射頻電磁線圈、鐘罩、側隔板條、頂盤和墊片。其中,基座有三層硅片位,射頻電磁線圈包括12環銅線圈,頂盤直徑為5cm?50cm,墊片高度為2cm?9cm,射頻電磁線圈位于鐘罩外部并環繞基座,墊片連接基座和所述頂盤。其中本發明的有益效果是:原有的外延片生長設備僅能在基座上放兩層硅片位,本設備可以設置三層硅片位,提高了50%的產能;且實現外延層厚度均勻度3%,電阻率均勻度4%,爐內均勻度5%,良率達到88%以上的生產要求。
技術領域
本發明涉及半導體外延片生產領域,特別涉及一種半導體外延片生長設備。
背景技術
外延片制作方法:通過化學氣相沉積的方式在拋光面上生長一層或多層摻雜類型、電阻率、厚度和晶格結構都符合特定器件要求的新硅單晶層。
外延片的優點:外延技術可以減少硅片中因單晶生長產生的缺陷,具有更低的缺陷密度和氧含量,提高了柵氧化層的完整性,并改善了溝道中的漏電現象,從而提升了集成電路的可靠性。
例如,現有6英寸外延片的生產技術中,一次性僅能生產2層共計14個外延片。為了在保證生產質量的前提下提高產能,本領域的技術人員也做了大量研究。然而,目前還沒有一種設備可以突破一次性14片的生產效率瓶頸。
發明內容
為了解決上述技術問題,本發明中披露了一種半導體外延片生長設備,本發明的技術方案是這樣實施的:
一種半導體外延片生長設備,包括基座、射頻電磁線圈、鐘罩、側隔板條、頂盤和墊片。其中,所述基座有三層硅片位;所述射頻電磁線圈包括12環銅線圈;所述頂盤直徑為5cm-50cm;所述墊片高度為2cm-9cm;所述側隔板條為兩部分:所述側隔板條上半部分的上邊緣略高于第一層硅片位上緣,所述側隔板條上半部分下邊緣略高于第二層硅片位的中段;所述側隔板條下半部分的上邊緣略低于第三層硅片位的上緣,所述側隔板條下半部分的下邊緣略高于第三層硅片位的下緣;所述射頻電磁線圈位于所述鐘罩外部并環繞所述基座;所述墊片連接所述基座和所述頂盤。
優選地,所述鐘罩外設置有反射涂層。
優選地,根據所述基座和所述側隔板條外表面設置有涂層。
優選地,所述涂層為碳化硅。
優選地,所述墊片和所述頂盤的材質為石英。
優選地,所述側隔板條材質為石墨。
優選地,所述頂盤直徑為20-35cm,所述墊片高度為3-7cm。
優選地,所述頂盤直徑為25cm,所述墊片高度為5cm。
實施本發明的技術方案可解決現有技術中一次性僅能生產14片外延片的技術問題;實施本發明的技術方案,通過對外延片生長設備的改進,可實現提高50%的產能,外延層厚度均勻度3%,電阻率均勻度4%,爐內均勻度5%,良率達到88%以上的生產要求并降低能耗的技術效果。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一種實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
其中相同的零部件用相同的附圖標記表示。需要說明的是,下面描述中使用的詞語“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附圖中的方向,詞語“底面”和“頂面”、“內”和“外”分別指的是朝向或遠離特定部件幾何中心的方向。
圖1為本發明的結構橫切結構示意圖;
圖2為本發明的一種結構示意圖,線圈為方形;
圖3為本發明的另一種結構示意圖,線圈為螺旋型;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海衍梓智能科技有限公司,未經上海衍梓智能科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110408846.9/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種農用粉面和揣盆
- 下一篇:一種常閉微阻緩閉橡膠止回閥





