[發明專利]區域面積確定方法、裝置及電子設備

有效

• 申請號: 202110407409.5
• 申請日: 2021-04-15
• 公開（公告）號: CN112991431B
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 田啟明;劉立峰;徐彬仁;王飛鴻
• 申請（專利權）人: 北京英視睿達科技有限公司
• 主分類號: G06T7/62
• 分類號: G06T7/62;G06K9/62
• 代理公司: 北京清大紫荊知識產權代理有限公司 11718
• 代理人: 張卓;彭一波

1.一種基于地表溫度的區域面積確定方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測區域的遙感數據，所述遙感數據用于指示所述待檢測區域內不同波段射線的反射率，所述待檢測區域至少包括第一類子區域，所述遙感數據包括所述待檢測區域內的中紅外射線的反射率以及所述待檢測區域內的綠波的反射率；

基于所述遙感數據，生成所述待檢測區域的地表溫度圖，所述地表溫度圖用于指示所述待檢測區域內的子區域的溫度；

基于所述遙感數據，生成所述待檢測區域的區域類型圖，所述區域類型圖用于指示所述待檢測區域內不同位置的區域類型；

所述基于所述遙感數據，生成所述待檢測區域的區域類型圖包括：基于所述中紅外射線的反射率和所述綠波的反射率，確定所述待檢測區域內的子區域的類型；基于所述待檢測區域內的子區域的類型，生成所述區域類型圖；

所述基于所述中紅外射線的反射率和所述綠波的反射率，確定所述待檢測區域內的子區域的類型包括：對于所述待檢測區域內的子區域，將所述子區域的綠波的反射率與所述子區域的中紅外射線的反射率相減，得到第一參數；將所述子區域的綠波的反射率與所述子區域的中紅外射線的反射率相加，得到第二參數；將所述第一參數與所述第二參數相除，得到第三參數；基于所述第三參數和預設的多個參數閾值之間的關系，確定所述待檢測區域內的子區域的類型；

基于所述地表溫度圖和所述區域類型圖，確定所述第一類子區域在所述待檢測區域內所占的面積。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述遙感數據包括所述待檢測區域內的熱紅外射線的反射率，所述基于所述遙感數據，生成所述待檢測區域的地表溫度圖包括：

對所述待檢測區域內的熱紅外射線的反射率進行反演，得到所述待檢測區域的地表溫度圖。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述待檢測區域內的熱紅外射線的反射率進行反演，得到所述待檢測區域的地表溫度圖包括：

對所述待檢測區域內的熱紅外射線的反射率進行線性變換，得到所述待檢測區域內的子區域的溫度；

基于所述待檢測區域內的子區域的溫度，生成所述待檢測區域的地表溫度圖。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第三參數和預設的多個參數閾值之間的關系，確定所述待檢測區域內的子區域的類型為下述任一項：

響應于所述第三參數大于或等于第一參數閾值，將對應的所述子區域的類型確定為所述第一類子區域；

響應于所述第三參數小于所述第一參數閾值，將對應的所述子區域的類型確定為第二類子區域。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述地表溫度圖和所述區域類型圖，確定所述第一類子區域在所述待檢測區域內的所占的面積包括：

基于所述地表溫度圖中多個像素點對應的溫度，對所述地表溫度圖中多個像素點進行聚類，將所述多個像素點劃分為多個第一類像素點和多個第二類像素點，所述第一類像素點對應的溫度小于溫度閾值，所述第二類像素點對應的溫度大于所述溫度閾值；

在所述地表溫度圖上，將所述第一類像素點對應的區域標記為所述第一類子區域，將所述第二類像素點對應的區域標記為第二類子區域；

基于所述地表溫度圖指示的類型和所述區域類型圖指示的類型，確定所述待檢測區域內的子區域的類型；

基于所述待檢測區域內子區域的類型，確定所述第一類子區域在所述待檢測區域內所占的面積。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述地表溫度圖中多個像素點對應的溫度，對所述地表溫度圖中多個像素點進行聚類包括：

在第一次聚類過程中，在所述地表溫度圖中隨機確定兩個像素點作為所述第一次聚類過程的兩個聚類中心；

確定所述多個像素點對應的溫度與所述兩個聚類中心對應的溫度之間的距離；

基于所述距離，對所述兩個聚類中心對應的像素點進行調整。