[發(fā)明專利]一種勻強磁場磁電測試與觀測裝置

在審

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• 申請日: 2021-04-15
• 公開（公告）號: CN113075261A
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄧啟宇;余鵬;牛小東;李翔;莊曉如;周琳;段禮沭
• 申請（專利權(quán)）人: 南方科技大學(xué)
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00;G01N27/74;G01N35/00;G01N11/00;G01N21/85;G01R31/00;G01R33/00;G01R1/28
• 代理公司: 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268
• 代理人: 徐凱凱

本發(fā)明公開一種勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其包括載物平臺、光學(xué)觀測系統(tǒng)、磁場發(fā)生系統(tǒng)、磁電檢測系統(tǒng)；所述光學(xué)觀測系統(tǒng)包括設(shè)置在所述載物平臺上方的單筒顯微鏡，設(shè)置在所述單筒顯微鏡上的CCD相機、與所述CCD相機電連接的計算機；所述磁場發(fā)生系統(tǒng)包括至少一個非接觸套設(shè)在所述載物平臺上的亥姆霍茲線圈以及與所述亥姆霍茲線圈電連接的直流可編程電源；所述磁電檢測系統(tǒng)包括精密可編程電源、與所述精密可編程電源電連接的臺式高斯計，以及與所述臺式高斯計電連接的高斯計探頭。本發(fā)明提供的裝置集成了宏觀和微觀性能測試于一體，可以對比微觀結(jié)構(gòu)和宏觀信號，其提高了微觀電子元器件的檢測效率，為微機電磁電系統(tǒng)測試提供了方便。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及磁電測試系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種勻強磁場磁電測試與觀測裝置。

背景技術(shù)

隨著微流控技術(shù)的發(fā)展，越來越多的人開始拓展微流控芯片的應(yīng)用及其性能的測試。由于微流控芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)精密，尺寸較小，針對其性能全面探索成為了一個復(fù)雜的難題。針對一些透光性較差的流體，需要在磁場下研究并定量測試其電學(xué)性能，這給微流控芯片的性能測試帶來了更多的挑戰(zhàn)。

目前，針對一些微流控芯片內(nèi)部的流動分析，人們大多在顯微鏡下進(jìn)行定性觀測，其中包括氣泡、液滴、細(xì)胞、病毒的行為和動作觀測等。然而，定性研究捕捉的細(xì)節(jié)較少，研究獲得結(jié)論不完善。如何在顯微鏡下進(jìn)行定量的研究微流控芯片的內(nèi)部流動以及芯片的性能，成為了一個重要的挑戰(zhàn)。針對一些微流控芯片內(nèi)部的透光性較差流體，進(jìn)行磁電測試和觀測，微觀定性觀察和宏觀性能對比的檢測，均是亟需解決的問題。如何產(chǎn)生均勻的磁場，如何布置觀測電路，如何同時捕捉微觀動作和宏觀電信號，是本發(fā)明需要解決的問題。

因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種勻強磁場磁電測試與觀測裝置，旨在解決觀測裝置無法定量的研究微流控芯片的內(nèi)部流動以及芯片性能的問題。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，包括載物平臺、光學(xué)觀測系統(tǒng)、磁場發(fā)生系統(tǒng)、磁電檢測系統(tǒng)；所述光學(xué)觀測系統(tǒng)包括設(shè)置在所述載物平臺上方的單筒顯微鏡，設(shè)置在所述單筒顯微鏡上的CCD相機、與所述CCD相機電連接的計算機；所述磁場發(fā)生系統(tǒng)包括至少一個非接觸套設(shè)在所述載物平臺上的亥姆霍茲線圈以及與所述亥姆霍茲線圈電連接的直流可編程電源；所述磁電檢測系統(tǒng)包括精密可編程電源、與所述精密可編程電源電連接的臺式高斯計，以及與所述臺式高斯計電連接的高斯計探頭。

所述的勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，所述光學(xué)觀測系統(tǒng)還包括設(shè)置在所述載物平臺下方的可調(diào)光源，以及與所述可調(diào)光源電連接的光源調(diào)節(jié)器。

所述的勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，所述光學(xué)觀測系統(tǒng)還包括設(shè)置在所述載物平臺下方且用于支撐所述載物平臺的載物平臺左支架和載物平臺右支架，所述載物平臺左支架上設(shè)置有手動精密微調(diào)工作臺，所述載物平臺的左端固定在所述手動精密微調(diào)工作臺上，所述載物平臺右支架上設(shè)置有水平滑軌，所述載物平臺的右端固定在所述水平滑軌上。

所述的勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，所述光學(xué)觀測系統(tǒng)還包括固定底座、固定設(shè)置在所述固定底座上的支架豎直桿、設(shè)置在所述支架豎直桿上的支架水平桿、設(shè)置在所述支架水平桿上的支架滑軌，以及設(shè)置在所述支架滑軌上的顯微鏡支架，所述顯微鏡支架用于安裝單筒顯微鏡。

所述的勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，所述單筒顯微鏡包括單筒顯微鏡筒以及安裝在所述單筒顯微鏡鏡筒下方的物鏡。

所述的勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，所述載物平臺上設(shè)置有定位鉆孔。

所述的勻強磁場磁電測試與觀測裝置，其中，所述磁場發(fā)生系統(tǒng)還包括用于檢測所述亥姆霍茲線圈溫度的溫度傳感器，以及與所述溫度傳感器電連接的溫度報警器。