[發明專利]適用于增強型氮化鎵器件的半橋電路死區優化設置方法有效
| 申請號: | 202110406715.7 | 申請日: | 2021-04-15 |
| 公開(公告)號: | CN113131723B | 公開(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發明(設計)人: | 耿乙文;陳方諾;陳翔;洪冬穎;韓鵬;楊尚鑫;馬立亞;李賀龍 | 申請(專利權)人: | 中國礦業大學 |
| 主分類號: | H02M1/00 | 分類號: | H02M1/00;H02M3/155 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 李悅聲 |
| 地址: | 221116 江蘇省徐*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 適用于 增強 氮化 器件 電路 死區 優化 設置 方法 | ||
1.一種適用于增強型氮化鎵器件的半橋電路死區優化設置方法,針對含有半橋的電路使用,半橋電路上下開關管相同,并使用相同的驅動電路,半橋電路連接有負載,其特征在于:半橋電路的上下開關管均為增強型氮化鎵高電子遷移率晶體管eGaN HEMT,且eGaNHEMT驅動電路的開通與關斷回路分離;半橋電路功率回路中各開關管均無反并聯的續流二極管;負載側續流電感較大,可以在開關瞬態保持負載電流的值穩定;
其特征在于:
S1、根據增強型氮化鎵高電子遷移率晶體管eGaN HEMT的開通、關斷特性,將基于eGaNHEMT的半橋電路中續流管關斷、主開關管開通以及主開關管關斷、續流管開通這兩個過程在時間軸上分別劃分為多個連續的階段,每個階段均表現開關過程中半橋電路的一種工作狀態,工作狀態包含數個隨時間變化的電壓、電流變量,當階段中某個電壓或電流變量達到臨界值,使得這個階段對應的半橋電路工作狀態將不再存在時,該階段結束,同時開始下一個階段;
S2、設從半橋電路的中點O點流向負載側的電流方向為正向,從負載側流向半橋中點O點的電流方向為負向;根據電力電子電路的特性確定中點O點電流方向的正負,并根據電流方向的正負確定主開關管:若電流方向為正,則上管TS為主開關管,下管BS為續流管;而若電流方向為負,則下管為主開關管,上管TS為續流管;
S3、從eGaN HEMT以及eGaN HEMT所在的半橋電路中獲取相應的電路參數;
S4、根據S3中得到的電路參數,列寫半橋電路續流管關斷、主開關管開通以及主開關管關斷、續流管開通諸階段的狀態方程組;
S5、利用Matlab中的ode-45函數,求得步驟S4中所有狀態方程組的數值解fk(t)(k=A1~B4),并且根據S1中的階段劃分,令數值解fk(t)等于標志該階段結束的臨界值,求得各階段的持續時間;
S6、根據S5中得到的各階段持續時間計算續流管關斷、主開關管開通與主開關管關斷、續流管開通這兩個過程的理論最優死區,并結合電路的實際情況,包括負載電流、功率及開關頻率這些參數為理論最優死區取一定倍數的裕度,進行死區優化設置。
2.根據權利要求1所述的適用于增強型氮化鎵器件的半橋電路死區優化設置方法,其特征在于:S1中所述的多個連續的階段劃分為:
續流管關斷、主開關管開通的過程分為3個階段,分別為:階段A1,續流管關斷延遲階段;階段A2,續流管關斷的主要階段;階段A3,主開關管開通延遲階段;階段A1結束的標志為續流管柵漏極電壓vGD=Vth+IL/gm;階段A2結束的標志為續流管漏源極電壓vDS=-VR;階段A3結束的標志為主開關管柵源極電壓vGS=Vth;
主開關管關斷、續流管開通的過程分為4個階段:階段B1,主開關管關斷延遲階段;階段B2,主開關管關斷主要階段與主開關管-續流管換流階段;階段B3,剩余換流階段;階段B4,續流管開通延遲階段;階段B1結束的標志為主開關管柵源極電壓vGS=Vth+IL/gm;階段B2結束的標志為續流管漏源極電壓vDS=-VR;階段B3結束的標志為主開關管漏極電流iD下降到零;階段B4結束的標志為續流管柵源極電壓vGS=Vth。
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