[發(fā)明專利]孔徑測量方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110406705.3
• 申請日: 2021-04-15
• 公開（公告）號: CN112903567B
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張巖;喻洲;肖立志;廖廣志
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油大學（北京）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 張娜;黃健

1.一種孔徑測量方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測樣品的T1-T2脈沖序列和待檢測樣品的D-T2脈沖序列；

根據(jù)所述待檢測樣品的T1-T2脈沖序列和所述待檢測樣品的D-T2脈沖序列測量樣品，得到待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度；

根據(jù)預(yù)設(shè)反演模型，對所述待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度進行反演，確定所述待檢測樣品的孔徑與弛豫率相關(guān)譜，其中，所述預(yù)設(shè)反演模型根據(jù)Bloch-Torrey相關(guān)理論和實驗樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度確定；

根據(jù)所述孔徑與弛豫率相關(guān)譜，確定所述待檢測樣品的孔徑大小及弛豫率；

所述根據(jù)所述待檢測樣品的T1-T2脈沖序列和所述待檢測樣品的D-T2脈沖序列測量樣品，得到待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度，包括：

采用高均勻度的外加磁場，對所述待檢測樣品進行核磁共振實驗，得到待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度；

所述根據(jù)預(yù)設(shè)反演模型，對所述待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度進行反演，確定所述待檢測樣品的孔徑與弛豫率相關(guān)譜，包括：

將待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度轉(zhuǎn)化為一維列矩陣，采用非負最小二乘法反演得到待檢測樣品的孔徑-弛豫率相關(guān)譜；

在所述根據(jù)預(yù)設(shè)反演模型，對所述待檢測樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度進行反演，確定所述待檢測樣品的孔徑和弛豫率相關(guān)譜之前，還包括：

獲取實驗樣品的T1-T2脈沖序列和實驗樣品的D-T2脈沖序列；

根據(jù)所述實驗樣品的T1-T2脈沖序列和所述實驗樣品的D-T2脈沖序列計算得到所述實驗樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度；根據(jù)Bloch-Torrey相關(guān)理論和所述實驗樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度確定預(yù)設(shè)反演模型；

所述根據(jù)Bloch-Torrey相關(guān)理論和所述實驗樣品的T1-T2信號強度及D-T2信號強度確定預(yù)設(shè)反演模型，包括：

分別設(shè)置多個孔徑分布值和多個弛豫率分布值；

對每個孔徑分布值和弛豫率分布值，在所述實驗樣品的T1-T2脈沖序列和所述實驗樣品的D-T2脈沖序列中對數(shù)布點m個t1和n個t2，以時間空間分數(shù)階Bloch-Torrey方程在平板孔隙中求解得到的多模態(tài)磁化強度衰減為基礎(chǔ)，建立多個磁化強度衰減矩陣；

根據(jù)所述多個磁化強度衰減矩陣，建立預(yù)設(shè)反演模型；

所述對每個孔徑分布值和弛豫率分布值，在所述實驗樣品的T1-T2脈沖序列和所述實驗樣品的D-T2脈沖序列中對數(shù)布點m個t1和n個t2，以時間空間分數(shù)階Bloch-Torrey方程在平板孔隙中求解得到的多模態(tài)磁化強度衰減為基礎(chǔ)，建立多個磁化強度衰減矩陣，包括：

獲取孔徑初始值和馳豫率初始值，分別對數(shù)布點m個t1和n個t2，計算得到二維的初始磁化強度衰減矩陣，通過如下公式，以每一行為單位將該初始磁化強度衰減矩陣拼接為一維列矩陣：

分別改變孔徑和弛豫率的大小，以對數(shù)布點q個值，計算不同擴散狀態(tài)下的形式為一維列矩陣的磁化強度衰減矩陣，得到所述多個磁化強度衰減矩陣；

所述根據(jù)所述多個磁化強度衰減矩陣，建立預(yù)設(shè)反演模型，包括：

將多個形式為一維列矩陣的磁化強度衰減矩陣復合為二維的反演系數(shù)矩陣A，反演系數(shù)矩陣A如下所示：

反演系數(shù)矩陣A為所述預(yù)設(shè)反演模型；

其中，T1-T2、D-T2信號強度的計算公式如下：

其中，M(t₁,t₂)為信號強度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對每個孔徑分布值和弛豫率分布值，在所述實驗樣品的T1-T2脈沖序列和所述實驗樣品的D-T2脈沖序列中對數(shù)布點m個t1和n個t2，計算得到多個磁化強度衰減矩陣，還包括：

在T1和D的測量中采取對數(shù)非線性布點方式，T2測量中采取線性布點方式。