[發明專利]一種壓電陶瓷片的導電性檢測方法及其檢測裝置

在審

• 申請號: 202110403125.9
• 申請日: 2021-04-15
• 公開（公告）號: CN113182218A
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 劉鋼;王俊;劉波;張曦
• 申請（專利權）人: 成都英普飛自動化設備有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/342;B07C5/36;B07C5/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種壓電陶瓷片的導電性檢測方法，其特征在于：將檢測壓電陶瓷片(18)導電性儀器的兩個接入電極的探針材料設置為導電橡膠或者在檢測儀器壓電陶瓷片(18)的兩個或者其中一個接入電極上連接導電橡膠，讓導電橡膠與壓電陶瓷片(18)需要檢測的部位接觸。

2.一種壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：包括送料機構、吸取機構、測試機構以及下料機構，送料機構上設置有能夠檢測壓電陶瓷片(18)上的圓角面監控機構，圓角面監控機構能夠監測送料機構上的壓電陶瓷片(18)上的圓角電極(18-1)，并將監測到圓角電極(18-1)的壓電陶瓷片(18)送回送料機構，讓送料機構重新送料；吸取機構能夠將經過圓角面監控機構篩選過后的壓電陶瓷片(18)吸住，并送往測試機構進行測試，測試機構檢通過測壓電陶瓷片(18)的背面電極(18-4)與圓角電極(18-1)之間的電阻來判斷壓電陶瓷片(18)的背面電極(18-4)與圓角電極(18-1)之間的導電性；下料機構能夠存儲經過測試機構測試合格之后的壓電陶瓷片(18)；測試機構包括電阻計(1)和圓角導電帽(3)，吸取機構包括能夠吸住吸壓電陶瓷片(18)的吸嘴(2)，吸嘴(2)能夠導電，電阻計(1)其中一個檢測輸入接口與圓角導電帽(3)電連接，電阻計(1)另一個檢測輸入接口與吸嘴(2)電連接，圓角導電帽(3)材料為導電橡膠。

3.根據權利要求2所述的壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：還包括機座(4)，送料機構包括設置在機座(4)上的振動盤(17)，振動盤(17)出料口設置有送料板(7)，送料板(7)上設置有導料槽(8)，將壓電陶瓷片(18)放置在振動盤(17)內，在振動盤(17)的振動下，振動盤(17)內的壓電陶瓷片(18)進入導料槽(8)內，導料槽(8)高度與壓電陶瓷片(18)外徑匹配，導料槽(8)深度與壓電陶瓷片(18)的厚度匹配，讓導料槽(8)內的同一位置只有一個壓電陶瓷片(18)。

4.根據權利要求3所述的壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：所述圓角面監控機構包括視覺處理器(9)，視覺處理器(9)的攝像頭光線(14)正對導料槽(8)內壓電陶瓷片(18)，導料槽(8)內壓電陶瓷片(18)影像輸入視覺處理器(9)；導料槽(8)底部設置有通孔，當視覺處理器(9)判斷出拍攝到的壓電陶瓷片(18)上有圓角電極(18-1)，通過往導料槽(8)底部的通孔吹氣將壓電陶瓷片(18)吹進振動盤(17)內。

5.根據權利要求1所述的壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：所述吸取機構包括擺動電機(10)和搖臂(11)，搖臂(11)的一端與擺動電機(10)的轉軸固定，搖臂(11)的另一端與吸嘴(2)固定，擺動電機(10)為步進電機或者伺服電機，通過控制擺動電機(10)轉軸所轉動得角度，控制搖臂(11)上的吸嘴(2)的位置，擺動電機(10)轉反轉讓吸嘴(2)上的壓電陶瓷片(18)與導電帽(3)接觸，擺動電機(10)轉正轉讓吸嘴(2)上的壓電陶瓷片(18)轉到下料機構處；或者擺動電機(10)轉正轉讓吸嘴(2)上的壓電陶瓷片(18)與導電帽(3)接觸，擺動電機(10)轉反轉讓吸嘴(2)上的壓電陶瓷片(18)轉到下料機構處。

6.根據權利要求5所述的壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：機座(4)上設置有盛放次品壓電陶瓷片(18)的不合格品放置盒(12)，不合格品放置盒(12)位于下料機構與圓角導電帽(3)之間，吸嘴(2)轉到圓角導電帽(3)處檢測完成之后，反轉，依次經過不合格品放置盒(12)處和下料機構處。

7.根據權利要求2所述的壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：吸嘴(2)為中空設計，吸嘴(2)的吸附方式為真空吸附。

8.根據權利要求2所述的壓電陶瓷片的導電性檢測裝置，其特征在于：下料機構包括合格品庫(15)，合格品庫(15)上設置有能夠與壓電陶瓷片(18)外徑進行間隙配合的通孔，該通孔內設置有伸縮桿(16)，伸縮桿(16)的一端伸入該孔內，伸縮桿(16)的另一端通過伸縮機構進行驅動，伸縮桿(16)隨著該孔內的壓電陶瓷片(18)的增多逐漸往該孔外移動。