[發明專利]一種抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器

有效

• 申請號: 202110400793.6
• 申請日: 2021-04-14
• 公開（公告）號: CN113224540B
• 公開（公告）日: 2022-07-26
• 發明（設計）人: 翁建宏;翟光杰;姚旭日;劉雪峰
• 申請（專利權）人: 中國科學院國家空間科學中心
• 主分類號: H01Q15/00
• 分類號: H01Q15/00;H01Q17/00
• 代理公司: 北京方安思達知識產權代理有限公司 11472
• 代理人: 陳琳琳;楊青

1.一種抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器，其特征在于：包括由上往下依次層疊的第一金屬圖案層(1)、介質層(2)和第二金屬反射層(3)；所述的第一金屬圖案層(1)由整面金屬鏤去周期性排列的細線圖形后形成；所述的細線圖形包括圓形或六邊形；所述的細線圖形的寬度為0.01um～0.3um；

所述的圓形的半徑為4um～40um；

所述細線圖形的二維排列方式為六邊形排列，鄰近圓心的間距為8.5um～85um。

2.根據權利要求1所述的抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器，其特征在于：所述周期性排列為：每個重復單元的細線圖形與重復單元的邊重合，構成對所述第一金屬圖案層(1)的劃分。

3.根據權利要求1所述的抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器，其特征在于：所述第一金屬圖案層(1)的圖案還包括在細線圖形外增添孔洞或短線。

4.根據權利要求1所述的抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器，其特征在于：所述第一金屬圖案層(1)的材質包括金、銅和鋁中的一種或兩種以上，第一金屬圖案層(1)的厚度h1為0.01um～0.4um。

5.根據權利要求1所述的抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器，其特征在于：所述介質層(2)的材質為聚酰亞胺和/或硅，介質層(2)的厚度h2為0.5um～20um。

6.根據權利要求1所述的抑制紅外吸收的太赫茲超材料吸波器，其特征在于：所述第二金屬反射層(3)的材質包括金、銅和鋁中的一種或兩種以上，第二金屬反射層(3)的厚度h3為0.3um以上。