[發明專利]智能檢測缺陷玻璃圖像的方法、電子設備以及存儲介質有效
| 申請號: | 202110398702.X | 申請日: | 2021-04-14 |
| 公開(公告)號: | CN112802022B | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發明(設計)人: | 陳奕舜;范偉華;鄒偉金 | 申請(專利權)人: | 高視科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T5/30;G06T5/00 |
| 代理公司: | 惠州市超越知識產權代理事務所(普通合伙) 44349 | 代理人: | 陳文福 |
| 地址: | 215163 江蘇省蘇州市高新區嘉陵江路19*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 智能 檢測 缺陷 玻璃 圖像 方法 電子設備 以及 存儲 介質 | ||
本申請是關于一種智能檢測缺陷玻璃圖像的方法。該方法包括:獲取待測玻璃的拍攝圖像;對該拍攝圖像進行圖像預處理,得到預處理圖像;對該預處理圖像進行圖像分割處理,得到第一玻璃圖像;若該第一玻璃圖像存在圖像缺陷,則對該第一玻璃圖像進行閉操作處理,得到第二玻璃圖像;將該第二玻璃圖像與該第一玻璃圖像相減,得到表示缺陷形狀的缺陷玻璃圖像。本申請提供的方案,通過自動化對切割玻璃邊緣圖像進行檢測,避免了由人工測量引起的誤差,能夠提升玻璃生產線的產品檢測效率,進而降低因切割不平導致有缺陷的玻璃產品流入市場的風險,提高產品質量。
技術領域
本申請涉及缺陷玻璃圖像檢測技術領域,尤其涉及一種自動檢測缺陷玻璃圖像的方法、電子設備以及存儲介質。
背景技術
玻璃已經有幾千年的歷史,是高科技領域內用途最廣泛的人造材料之一。在屏幕顯示行業,將液晶通過高溫高壓的方式,夾層封裝在玻璃內形成的高科技光電玻璃產品——液晶玻璃。如今,液晶玻璃廣泛地用作電子設備的調光器件,與彩膜通過成盒工藝后再貼附上、下偏光板,底部加上背光可構成液晶顯示器(Liquid Crystal Display,簡稱LCD),是目前顯示設備的重要器件。
在薄膜晶體管液晶顯示器(Thin film transistor liquid crystal display,簡稱TFT-LCD)行業中,因為生產大尺寸的玻璃基板能有效提升大屏幕液晶面板的良率以及產出率,同時降低生產成本,所以在生產過程中總會把玻璃基板做大,然后再根據實際生產需求進行切割,切割后的玻璃的四條邊要求是直線,這是玻璃生產過程中重要的管控參數;玻璃基板在切割過程中由于更換精切刀輪和運動,邊部切割直線性會存在波動,會出現邊部局部位置凸起或凹陷,造成破片、欠磨、燒邊、裂紋等現象,嚴重影響產品質量。
目前缺陷玻璃的測量方式往往是通過人員操作游標卡尺或者二次元影像測量儀來測量,根據四邊直線性測量數據進行調整,應用這兩種方法使整個調整過程較繁瑣,檢測時間較長,可操作性差,測量數據不準確,且不便缺陷數據保存,不利于數據回溯。
發明內容
為克服相關技術中存在的問題,本申請提供一種智能檢測缺陷玻璃圖像的方法,該方法通過對待檢測玻璃邊緣進行圖像提取,自動化對切割玻璃邊緣圖像進行處理分類,進而提取出缺陷玻璃圖像,提高玻璃檢測效率的同時,能準確確定玻璃圖像的缺陷類型。
本申請第一方面提供一種智能檢測缺陷玻璃圖像的方法,包括:
獲取待測玻璃的拍攝圖像;對該拍攝圖像進行圖像預處理,得到預處理圖像;對該預處理圖像進行圖像分割處理,得到第一玻璃圖像,該第一玻璃圖像為該預處理圖像的二值化圖像;若該第一玻璃圖像存在圖像缺陷,則對該第一玻璃圖像進行閉操作處理,得到第二玻璃圖像,該第二玻璃圖像為無缺陷連通玻璃圖像;將該第二玻璃圖像與該第一玻璃圖像相減,得到表示缺陷形狀的缺陷玻璃圖像。
在一種實施方法中,對該拍攝圖像進行圖像預處理,包括:
對該拍攝圖像依次進行圖像數字化處理、圖像幾何變換處理、圖像歸一化處理、圖像平滑處理、圖像復原處理以及圖像增強處理;其中,該圖像數字化處理用于獲取計算機能夠處理的數據圖像,該圖像幾何變換處理用于修正該拍攝圖像的隨機誤差,該圖像歸一化處理用于消除該拍攝圖像的不變性質,該圖像平滑處理用于消除該拍攝圖像的噪聲,該圖像復原處理用于校正該拍攝圖像的圖像退化,該圖像增強處理用于增強該拍攝圖像視覺效果。
在一種實施方法中,對該預處理圖像進行圖像分割處理,包括:
對該預處理圖像依次進行二值化處理和分割處理;其中,該二值化處理為將該預處理圖像的像素點的灰度值設置為0或255;該分割處理為通過公式二進行灰度閾值分割;
公式二:
其中表示該預處理圖像的圖像元素集合;表示背景圖像的圖像元素集合;T表示圖像灰度閾值,x表示像素點的橫坐標,y表示像素點的縱坐標。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于高視科技(蘇州)有限公司,未經高視科技(蘇州)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110398702.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





