[發明專利]提高光子相關法空氣聲壓測量精度的方法有效
| 申請號: | 202110396313.3 | 申請日: | 2021-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN113091881B | 公開(公告)日: | 2023-06-30 |
| 發明(設計)人: | 朱衛民;楊榮巖;陳瀅锜;何力人;劉濤;衛平;齊芳;古曉輝;王統宇;梅皓亮;姚亮宇 | 申請(專利權)人: | 河南省計量科學研究院 |
| 主分類號: | G01H9/00 | 分類號: | G01H9/00 |
| 代理公司: | 鄭州立格知識產權代理有限公司 41126 | 代理人: | 田磊 |
| 地址: | 450008 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 提高 光子 相關 空氣 聲壓 測量 精度 方法 | ||
1.一種提高光子相關法空氣聲壓測量精度的方法,其特征在于:包括兩束光強和偏振態相同且在同一水平面相交的光束、透射型分辨率板、顯微物鏡和CCD,通過以下步驟執行:
將顯微物鏡的工作端和透射型分辨率板放置在兩束光的交叉點處,在顯微物鏡的后方放置CCD,軸向移動CCD,使CCD可以同時獲取分辨率板和干涉條紋的清晰疊加像,結合獲得的疊加像得出顯微物鏡的放大倍率和CCD所拍攝得到的干涉條紋間距,計算出干涉條紋的實際間距,然后根據干涉條紋的實際間距,計算得到兩束光束的夾角;
計算過程依據以下公式,單光子計數器探測信號的自相關函數形式如下:
??(1)
式中:;為聲場粒子瞬時振速,ω為聲波的角頻率,τ為延遲時間;,θ為兩光束夾角,d為光束有效直徑;J0為零階貝塞爾函數,D為干涉條紋間距;
理論上干涉條紋間距為
??(2)
當零階貝塞爾函數下降至第一個極小值時,取值為3.832,則得出粒子振動速度為
??(3)
式中是自相關函數曲線到第一個極小值點的時間;
由聲場粒子速度可以計算出聲壓為:
??(4)
式中Z為空氣特性阻抗;
通過以下步驟,提高測量干涉條紋間距的準確度:
在顯微物鏡的工作端加入透射型的分辨率板作為標準件,然后固定分辨率板、軸向移動CCD,使CCD獲得最清晰的分辨率板的倒立放大實像,得到分辨率板和同一位置干涉條紋的疊加成像;
選取一處分辨率板上的標準靶條作為觀察對象,做出放大后靶條的光強與像素點的曲線,選出曲線中對應兩靶條相同變化屬性的兩個點,結合CCD的像元尺寸,計算出兩個點之間的所占的像素點數,進而得到放大后的尺寸,基于標準板自身的實際尺寸,對顯微物鏡的放大倍率進行標定;
再獲得干涉條紋被放大后的間距,然后基于標定后的放大倍率,計算出干涉條紋的實際間距;
為了提高顯微物鏡放大倍率的標定精度,在保證分辨率板在干涉區域的前提下,多次改變分辨率板的位置,相應的軸向移動CCD的位置進行調焦,多次對顯微物鏡的放大倍率進行標定,多次計算干涉條紋的實際間距,然后通過平均法,獲得最終的干涉條紋的實際間距;
在標定顯微物鏡的放大倍率后,通過以下步驟獲得干涉條紋被放大后的間距:
選取包含干涉條紋周期較多的區域,做出干涉條紋的光強與像素點的曲線,每個峰谷代表條紋的亮暗,選取曲線中的兩個峰值點,讀出兩峰值點之間的條紋周期數,以及總共占據的像素點,得到每個暗亮條紋占據的像素點,從而計算出放大后的條紋間距,結合標定的放大倍率,得到實際干涉條紋的間距;
兩束光束為激光器通過分束棱鏡分出得到的,然后通過兩面反光鏡的反射發生相交;兩束光束相交處的夾角大于15度。
2.根據權利要求1所述的提高光子相關法空氣聲壓測量精度的方法,其特征在于:所述的激光器的規格為:波長為532?nm、功率為300?mW。
3.根據權利要求2所述的提高光子相關法空氣聲壓測量精度的方法,其特征在于:所述顯微物鏡的倍率大于20倍。
4.根據權利要求3所述的提高光子相關法空氣聲壓測量精度的方法,其特征在于:所述CCD的規格為:像元尺寸為4.65?μm×4.65?μm、像素為1280×1024。
5.根據權利要求4所述的提高光子相關法空氣聲壓測量精度的方法,其特征在于:所述分辨率板的型號為:USAF1951美國空軍分辨率板。
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