[發(fā)明專利]一種直流偏置特性的計(jì)算方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110395635.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113094906A | 公開(公告)日: | 2021-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張?jiān)品?/a>;郭雄志;羅濤;肖強(qiáng);曹允開;馬暢奕;劉立權(quán);盧俊林;張麗娜;黎亞慶 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市鉑科新材料股份有限公司;成都市鉑科新材料技術(shù)有限責(zé)任公司;惠州鉑科磁材有限公司;惠州鉑科實(shí)業(yè)有限公司;河源市鉑科新材料有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/20 | 分類號(hào): | G06F30/20;G06F17/18 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 潘登 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 直流 偏置 特性 計(jì)算方法 裝置 設(shè)備 介質(zhì) | ||
1.一種直流偏置特性的計(jì)算方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取目標(biāo)金屬磁粉芯的類型;
從直流偏置特性計(jì)算模型的至少兩組候選模型參數(shù)取值中,選擇與所述目標(biāo)金屬磁粉芯的類型匹配的目標(biāo)模型參數(shù)取值;
基于所述直流偏置特性計(jì)算模型,根據(jù)所述目標(biāo)模型參數(shù)取值,計(jì)算所述目標(biāo)金屬磁粉芯的直流偏置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括,通過如下方式確定直流偏置特性計(jì)算模型的候選模型參數(shù)取值:
獲取候選金屬磁粉芯的至少兩個(gè)磁性關(guān)系對(duì);其中,每個(gè)磁性關(guān)系對(duì)包括磁場(chǎng)強(qiáng)度,以及所述金屬磁粉芯在所述磁場(chǎng)強(qiáng)度下的實(shí)際磁導(dǎo)率;
根據(jù)所述候選金屬磁粉芯的至少兩個(gè)磁性關(guān)系對(duì),確定所述直流偏置特性計(jì)算模型的候選模型參數(shù)取值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述直流偏置特性計(jì)算模型,根據(jù)所述目標(biāo)模型參數(shù)取值,計(jì)算所述目標(biāo)金屬磁粉芯的直流偏置,包括:
根據(jù)需求電路中的電路參數(shù),計(jì)算所述需求電路中的磁場(chǎng)強(qiáng)度;其中,所述金屬磁粉芯作為所述需求電路的電感設(shè)計(jì)材料;
基于直流偏置特性計(jì)算模型,根據(jù)目標(biāo)模型參數(shù)取值和所述磁場(chǎng)強(qiáng)度,計(jì)算所述金屬磁粉芯的直流偏置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述金屬磁粉芯的直流偏置特性計(jì)算模型為
其中,直流偏置為實(shí)際磁導(dǎo)率μ與初始磁導(dǎo)率μi的比值,H為磁場(chǎng)強(qiáng)度,a、b、c和d為參數(shù);所述實(shí)際磁導(dǎo)率隨著磁場(chǎng)強(qiáng)度而改變。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述目標(biāo)金屬磁粉芯的類型包括:所述金屬磁粉芯的材質(zhì)和所述金屬磁粉芯的初始磁導(dǎo)率;
其中,若所述金屬磁粉芯的材質(zhì)不同或初始磁導(dǎo)率不同,則所述金屬磁粉芯的直流偏置特性不同。
6.一種直流偏置特性的計(jì)算裝置,其特征在于,所述裝置包括:
類型獲取模塊,用于獲取目標(biāo)金屬磁粉芯的類型;
目標(biāo)參數(shù)選擇模塊,用于從直流偏置特性計(jì)算模型的至少兩組候選模型參數(shù)取值中,選擇與所述目標(biāo)金屬磁粉芯的類型匹配的目標(biāo)模型參數(shù)取值;
直流偏置計(jì)算模塊,用于基于所述直流偏置特性計(jì)算模型,根據(jù)所述目標(biāo)模型參數(shù)取值,計(jì)算所述目標(biāo)金屬磁粉芯的直流偏置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,還包括:
候選參數(shù)確定模塊,包括關(guān)系對(duì)獲取單元和候選參數(shù)確定單元;其中,
所述關(guān)系對(duì)獲取單元,用于獲取候選金屬磁粉芯的至少兩個(gè)磁性關(guān)系對(duì);其中,每個(gè)磁性關(guān)系對(duì)包括磁場(chǎng)強(qiáng)度,以及所述金屬磁粉芯在所述磁場(chǎng)強(qiáng)度下的實(shí)際磁導(dǎo)率;
所述候選參數(shù)確定單元,用于根據(jù)所述候選金屬磁粉芯的至少兩個(gè)磁性關(guān)系對(duì),確定所述直流偏置特性計(jì)算模型的候選模型參數(shù)取值。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其特征在于,所述直流偏置計(jì)算模塊,包括:磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)算單元和直流偏置計(jì)算單元;其中,
所述磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)算單元,用于根據(jù)需求電路中的電路參數(shù),計(jì)算所述需求電路中的磁場(chǎng)強(qiáng)度;其中,所述金屬磁粉芯作為所述需求電路的電感設(shè)計(jì)材料;
所述直流偏置計(jì)算單元,用于基于直流偏置特性計(jì)算模型,根據(jù)目標(biāo)模型參數(shù)取值和所述磁場(chǎng)強(qiáng)度,計(jì)算所述金屬磁粉芯的直流偏置。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備包括:
一個(gè)或多個(gè)處理器;
存儲(chǔ)裝置,用于存儲(chǔ)一個(gè)或多個(gè)程序,
當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行,使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-5中任一所述的直流偏置特性的計(jì)算方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-5中任一所述的直流偏置特性的計(jì)算方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市鉑科新材料股份有限公司;成都市鉑科新材料技術(shù)有限責(zé)任公司;惠州鉑科磁材有限公司;惠州鉑科實(shí)業(yè)有限公司;河源市鉑科新材料有限公司,未經(jīng)深圳市鉑科新材料股份有限公司;成都市鉑科新材料技術(shù)有限責(zé)任公司;惠州鉑科磁材有限公司;惠州鉑科實(shí)業(yè)有限公司;河源市鉑科新材料有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110395635.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 特性評(píng)價(jià)裝置以及特性評(píng)價(jià)方法
- 表面特性檢查裝置、表面特性檢查系統(tǒng)以及表面特性檢查方法
- 特性評(píng)價(jià)裝置、特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)、特性評(píng)價(jià)方法和特性評(píng)價(jià)程序
- 噴嘴特性
- 取向特性測(cè)定方法、取向特性測(cè)定程序及取向特性測(cè)定裝置
- 光學(xué)特性測(cè)定方法以及光學(xué)特性測(cè)定系統(tǒng)
- 表面特性評(píng)價(jià)方法、表面特性評(píng)價(jià)裝置以及表面特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
- 特性判定裝置、特性判定方法以及特性判定程序
- 特性評(píng)估系統(tǒng)、特性評(píng)估方法和程序
- 特性測(cè)量裝置和特性測(cè)量方法
- 電網(wǎng)理論線損的計(jì)算方法和系統(tǒng)
- 一種基于XML的小衛(wèi)星遙測(cè)參數(shù)衍生計(jì)算方法
- 一種基于多尺度耦合的并行進(jìn)程合并方法及系統(tǒng)
- 一種注采井網(wǎng)流場(chǎng)速度的快速計(jì)算方法
- 一種自適應(yīng)實(shí)時(shí)火星系統(tǒng)星歷計(jì)算方法
- 基于分類模型的合同費(fèi)用計(jì)算方法、裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種超越函數(shù)計(jì)算方法及裝置
- 計(jì)算方法決定系統(tǒng)、計(jì)算方法決定方法、記錄介質(zhì)
- 一種混合湍流計(jì)算方法
- 一種基于芯片檢測(cè)的HRD評(píng)分計(jì)算方法





