[發(fā)明專利]一種光學干涉相位解調(diào)方法和聲波測量系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110393116.6 | 申請日: | 2021-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN113203468B | 公開(公告)日: | 2022-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 魯平;張萬金;瞿致遠;司馬朝坦;劉德明 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G01H9/00 | 分類號: | G01H9/00 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 王穎翀 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光學 干涉 相位 解調(diào) 方法 聲波 測量 系統(tǒng) | ||
1.一種光學干涉相位解調(diào)方法,其特征在于,包括:
S1:采集調(diào)制光信號和對比度信號,所述調(diào)制光信號包括第一干涉儀的第一干涉信號V1和第二干涉儀的第二干涉信號V2,所述對比度信號包括所述第一干涉儀的第一對比度B1和所述第二干涉儀的第二對比度B2;所述第一干涉儀和所述第二干涉儀的相位差為π的奇數(shù)倍;
S2:對所述第一干涉信號V1和所述第二干涉信號V2做直線擬合,獲得所述直線的斜率k和截距b;
S3:通過所述斜率k、所述截距b、所述第一干涉信號V1、所述第二干涉信號V2、所述第一對比度B1、所述第二對比度B2,計算得到歸一化信號Vn;
S4:對所述歸一化信號Vn采用三角變換構(gòu)建第一正交信號Vx和第二正交信號Vy;
S5:對所述第一正交信號Vx和所述第二正交信號Vy采用微分交叉相乘算法進行處理計算待測相位信號Vm;
所述S3包括:
利用通過所述斜率k、所述截距b、所述第一干涉信號V1、所述第二干涉信號V2、所述第一對比度B1、所述第二對比度B2計算所述歸一化信號Vn。
2.如權(quán)利要求1所述的光學干涉相位解調(diào)方法,其特征在于,
所述第一干涉儀產(chǎn)生的所述第一干涉信號V1表示為:V1=k1(1+B1cos(Vm));
所述第二干涉儀產(chǎn)生的所述第二干涉信號V2表示為:V2=k2(1+B2cos(Vm+(2m+1)π));
其中,m為整數(shù),k1和k2為常數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的光學干涉相位解調(diào)方法,其特征在于,所述S2包括:
利用公式對所述第一干涉信號V1和所述第二干涉信號V2采用最小二乘法做直線擬合,得到計算所述直線的所述斜率k和所述斜率b。
4.如權(quán)利要求1所述的光學干涉相位解調(diào)方法,其特征在于,所述S4具體為:
利用公式對所述歸一化信號Vn采用三角變換,構(gòu)建所述第一正交信號Vx和所述第二正交信號Vy。
5.如權(quán)利要求1所述的光學干涉相位解調(diào)方法,其特征在于,所述S5包括:
基于所述第一正交信號Vx和所述第二正交信號Vy采用微分交叉相乘算法Vm=2∫(Vx'Vy-VxVy')dt計算所述待測相位信號Vm。
6.一種聲波測量系統(tǒng),其特征在于,包括:
光源單元,用于產(chǎn)生并輸出原始光信號;
光傳輸單元,與所述光源單元連接,用于傳輸所述原始光信號,并傳輸調(diào)制光信號;
傳感單元,與所述光傳輸單元連接,用于將待測聲波信號調(diào)制到原始光信號的相位上產(chǎn)生調(diào)制光信號;
探測解調(diào)單元,與所述光傳輸單元連接,用于執(zhí)行權(quán)利要求1-5任一項所述光學干涉相位解調(diào)方法。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華中科技大學,未經(jīng)華中科技大學許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110393116.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:基于組合彈簧的自復(fù)位粘滯阻尼器
- 下一篇:一種氰胺的合成方法





