[發(fā)明專利]充電裝置的測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110390821.0
• 申請日: 2021-04-12
• 公開（公告）號: CN113156244B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 江森龍
• 申請（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市智圈知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44351
• 代理人: 苗燕

1.一種充電裝置的測試方法，其特征在于，所述充電裝置與負(fù)載模塊形成測試回路，所述負(fù)載模塊包括多個電阻以及與所述多個電阻對應(yīng)的多個開關(guān)電路，所述開關(guān)電路用于控制與所述開關(guān)電路對應(yīng)的電阻在所述測試回路中處于導(dǎo)通狀態(tài)或處于斷開狀態(tài)，所述開關(guān)電路為開關(guān)管，所述開關(guān)管與驅(qū)動模塊連接，所述驅(qū)動模塊包括倍壓電路，所述驅(qū)動模塊還包括三極管，所述三極管的集電極與所述開關(guān)管的柵極連接，所述三極管的集電極接地，所述倍壓電路均與所述三極管的基極和所述開關(guān)管的柵極連接，所述方法包括：

根據(jù)測試所需的負(fù)載參數(shù)，從所述多個開關(guān)電路中確定目標(biāo)開關(guān)電路；

控制所述倍壓電路輸出第一電壓至所述三極管的基極和所述開關(guān)管的柵極，控制所述開關(guān)管導(dǎo)通以及所述三極管截止，以使所述負(fù)載模塊提供與所述負(fù)載參數(shù)對應(yīng)的負(fù)載電阻；

基于所述負(fù)載模塊提供的負(fù)載電阻，對所述充電裝置進(jìn)行測試；

控制所述倍壓電路輸出第二電壓至所述三極管的基極和所述開關(guān)管的柵極，控制所述開關(guān)管截止以及所述三極管導(dǎo)通。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個電阻串聯(lián)連接，所述多個電阻中的每個電阻與對應(yīng)的開關(guān)電路并聯(lián)連接，所述根據(jù)測試所需的負(fù)載參數(shù)，調(diào)整所述多個開關(guān)電路中的目標(biāo)開關(guān)電路，包括：

根據(jù)測試所需的負(fù)載參數(shù)，確定所述多個電阻中需處于斷開狀態(tài)的目標(biāo)電阻；

控制所述多個開關(guān)電路中與所述目標(biāo)電阻對應(yīng)的目標(biāo)開關(guān)電路導(dǎo)通，以使所述負(fù)載模塊提供與所述負(fù)載參數(shù)對應(yīng)的負(fù)載電阻。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述多個電阻中的每個電阻與對應(yīng)的開關(guān)電路串聯(lián)連接，每個串聯(lián)所述開關(guān)電路的電阻之間并聯(lián)連接，所述根據(jù)測試所需的負(fù)載參數(shù)，調(diào)整所述多個開關(guān)電路中的目標(biāo)開關(guān)電路，包括：

根據(jù)測試所需的負(fù)載參數(shù)，確定所述多個電阻中需處于導(dǎo)通狀態(tài)的目標(biāo)電阻；

控制所述多個開關(guān)電路中與所述目標(biāo)電阻對應(yīng)的目標(biāo)開關(guān)電路導(dǎo)通，以使所述負(fù)載模塊提供與所述負(fù)載參數(shù)對應(yīng)的負(fù)載電阻。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述開關(guān)電路為開關(guān)管。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一電壓大于所述充電裝置的輸出電壓。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述基于所述負(fù)載模塊提供的負(fù)載電阻，對所述充電裝置進(jìn)行測試，包括：

基于所述負(fù)載模塊提供的負(fù)載電阻，對所述充電裝置的阻抗檢測功能進(jìn)行測試，所述阻抗檢測功能用于表征所述充電裝置在檢測到充電通路的阻抗大于指定閾值時執(zhí)行預(yù)設(shè)操作。

7.一種充電裝置的測試裝置，其特征在于，所述充電裝置與負(fù)載模塊形成測試回路，所述負(fù)載模塊包括多個電阻以及與所述多個電阻一一對應(yīng)的多個開關(guān)電路，所述開關(guān)電路用于控制與所述開關(guān)電路對應(yīng)的電阻在所述測試回路中處于導(dǎo)通狀態(tài)或處于斷開狀態(tài)，所述開關(guān)電路為開關(guān)管，所述開關(guān)管與驅(qū)動模塊連接，所述驅(qū)動模塊包括倍壓電路，所述驅(qū)動模塊還包括三極管，所述三極管的集電極與所述開關(guān)管的柵極連接，所述三極管的集電極接地，所述倍壓電路均與所述三極管的基極和所述開關(guān)管的柵極連接，所述裝置包括：

開關(guān)控制模塊，用于根據(jù)測試所需的負(fù)載參數(shù)，從所述多個開關(guān)電路中確定目標(biāo)開關(guān)電路，控制所述倍壓電路輸出第一電壓至所述三極管的基極和所述開關(guān)管的柵極，控制所述開關(guān)管導(dǎo)通以及所述三極管截止，以使所述負(fù)載模塊提供與所述負(fù)載參數(shù)對應(yīng)的負(fù)載電阻；控制所述倍壓電路輸出第二電壓至所述三極管的基極和所述開關(guān)管的柵極，控制所述開關(guān)管截止以及所述三極管導(dǎo)通；

裝置測試模塊，用于基于所述負(fù)載模塊提供的負(fù)載電阻，對所述充電裝置進(jìn)行測試。

8.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

存儲器；

一個或多個應(yīng)用程序，其中所述一個或多個應(yīng)用程序被存儲在所述存儲器中并被配置為由所述一個或多個處理器執(zhí)行，所述一個或多個應(yīng)用程序配置用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-6任一項所述的方法。