[發明專利]一種高精度制備密集波分復用器件的方法及系統

有效

• 申請號: 202110389404.4
• 申請日: 2021-04-12
• 公開（公告）號: CN113009636B
• 公開（公告）日: 2022-11-15
• 發明（設計）人: 鄭學杰;鄭帥峰;蔣利群;馬昭偉;柳冰憶;謝磊
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十四研究所
• 主分類號: G02B6/293
• 分類號: G02B6/293;H04J14/02
• 代理公司: 重慶樂泰知識產權代理事務所(普通合伙) 50221
• 代理人: 劉佳

本發明公開了一種高精度制備密集波分復用器件的方法及系統，包括利用光頻域反射計對密集波分復用器件的光程進行測試，得到密集波分復用器件各波長通道的光程值；數據中心對光程值進行排序并分組，篩選符合預設條件的光程值數組，并設定光程基準值，得到光纖加工任務；根據光程基準值執行光纖加工任務；對不符合預設條件的光纖進行補償，使其符合預設條件后進行加工；從而實現微波信號光纖傳輸相位一致性，同時還保證了所有密集波分復用器件的可加工性，提高了利用率。

技術領域

本發明涉及微波光電子器件制備技術領域，特別是涉及一種高精度制備密集波分復用器件的方法及系統。

背景技術

微波光傳輸作為現代雷達、測控系統的本振、時鐘等信號的核心傳輸手段之一，對各個子陣間相位延遲具有大規模、高精度的要求。應用密集波分復用技術可以節省線路材料，針對此類要求的微波光傳輸的線路設計，若不采取任何大規模、高精度制作措施，其生產制作過程會異常繁重，并且不能保證制作精度。因此，一種高精度制備密集波分復用器件微波信號光纖傳輸相位一致性的技術，對于提升生產效率和產品性能參數具有非常重要的意義。

在以往的密集波分復用微波光纖傳輸相位延遲設計中，為了保持各個子通道相位一致性，通常采用以下兩種方法：一是將密集波分復用微波光纖傳輸器件置于傳輸系統中，通過測試每一路的發射、接收電信號參數，設定相位基準，所有通道按此基準加工，保證相位延遲一致性；二是通過物理測量(如游標卡尺)方法，對密集波分復用器件每一個波長通道進行光纖長度測量，設定每一個波長通道的長度基準值，再應用光纖切割刀和熔接機將所有器件按此基準值進行加工。以上兩種方法的共同缺陷是均要求設定基準，并且所有通道按照相同的基準進行處理，如果器件偏離基準太大，會導致相應器件無法加工，并且還具有工作繁瑣，工作量大，制作精度不高的缺點。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種高精度制備密集波分復用器件的方法及系統，以解決現有技術中器件偏離基準太大，導致相應器件無法加工以及制作精度不高的問題。

為解決上述問題，本發明提供一種高精度制備密集波分復用器件的方法，具體包括以下步驟：

S1：利用光頻域反射計對密集波分復用器件的光程進行測試，得到密集波分復用器件各波長通道的光程值；

S2：數據中心對光程值進行排序并分組，判斷各光程值數組是否符合預設加工條件，若符合則繼續執行步驟S3，若不符合則執行步驟S5；

S3：設定光程基準值，得到光纖加工任務；

S4：根據光程基準值執行光纖加工任務；

S5：對步驟S2中不符合預設加工條件的光纖進行補償，使其符合預設加工條件，并重復步驟S3～S4。

進一步的，在所述步驟S5之后還包括以下步驟：

S6：測試中心對加工完成的密集波分復用器件各通道的波長及信號調制頻率進行相位一致性測試。

進一步的，所述步驟S2具體包括以下步驟：

S201：數據中心采集光頻域反射計測試后的光程值；

S202：將所有光程值按降序排列并計算均方差；

S203：設置長度差值，將所有光程值分成若干數組，判斷各數組是否符合預設加工條件，若符合則繼續執行步驟S3，若不符合則執行步驟S5。

進一步的，所述步驟S4具體包括以下步驟：

S401：對符合預設加工條件的光程值數組，按照設定的光程基準值，再次篩選出具有相同加工要求的密集波分復用器件；

S402：光纖切割刀按照設定的光程基準值對選定的密集波分復用器件執行光纖加工任務；