[發(fā)明專利]一種多點面接觸式單動測試探針

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• 申請日: 2021-04-12
• 公開（公告）號: CN113109608A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發(fā)明（設計）人: 丁崇亮;翟康康;申嘯
• 申請（專利權）人: 渭南高新區(qū)木王科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/26
• 代理公司: 西安毅聯(lián)專利代理有限公司 61225
• 代理人: 王昊

本發(fā)明公開了一種多點面接觸式單動測試探針，包括：針管；針軸，所述針軸包含針桿，所述針桿滑動設置在所述針管內，針桿的一端設置有第一針頭，所述第一針頭從所述針管的一端伸出，第一針桿的另一端設置有針尾，所述針尾設置有麻花針；第二針頭，所述第二針頭設置在針管的另一端，針管內設置有內孔，所述麻花針伸入所述內孔中；彈簧，所述彈簧設置在所述針管內，所述彈簧位于針軸與內孔的外沿之間。該多點面接觸式單動測試探針，解決現(xiàn)有探針使用時針軸與針管容易出現(xiàn)接觸不良，造成彈簧燒毀的問題。

技術領域

本發(fā)明屬于半導體檢測設備技術領域，具體涉及一種多點面接觸式單動測試探針。

背景技術

測試探針廣泛應用于手機、汽車、醫(yī)療以及航天航空等技術領域，是一種高端的電子元件。

測試探針的結構通常是由針軸、針管、彈簧三部分組成，針軸和彈簧裝在針管內部，在針管兩端口運用壓鉚縮口方式，使得針軸、彈簧保持在針管內部，成為一個整體的結構。使用時，針軸受力向針管內壓縮彈簧，此時彈簧產生的彈力頂住針軸，針軸與被測件良好接觸，進行測試。

但是現(xiàn)有的測試探針使用時，由于針軸與針管不能穩(wěn)定接觸，在振動環(huán)境中，會出現(xiàn)針軸和針管接觸不良的情況，此時電流通過針軸和彈簧傳輸，使得測試探針的接觸電阻大，且容易燒毀彈簧，損壞測試設備，不能很好地滿足大電流的測試要求。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種多點面接觸式單動測試探針，解決現(xiàn)有探針使用時針軸與針管容易出現(xiàn)接觸不良，造成彈簧燒毀的問題。

為了達到上述目的，本發(fā)明所采用的技術方案是：一種多點面接觸式單動測試探針，包括：

針管；

針軸，所述針軸包含針桿，所述針桿滑動設置在所述針管內，針桿的一端設置有第一針頭，所述第一針頭從所述針管的一端伸出，第一針桿的另一端設置有針尾，所述針尾設置有麻花針；

第二針頭，所述第二針頭設置在針管的另一端，針管內設置有內孔，所述麻花針伸入所述內孔中；

彈簧，所述彈簧設置在所述針管內，所述彈簧位于針軸與內孔的外沿之間。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選的技術方案，所述彈簧套設在麻花針和針尾的外部。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選的技術方案，所述彈簧為壓縮彈簧。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選的技術方案，所述麻花針由多根導線組合而成，多跟導線兩端固定且中間形成有胖點。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選的技術方案，所述針管的兩端形成有收縮口，所述針桿限位在所述收縮口內。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的一種多點面接觸式單動測試探針在使用過程中，無論測試探針的針軸如何位移，麻花針和內孔始終多點有效接觸，增大了接觸面積，減小了測試探針本身的接觸電阻，避免了彈簧被燒毀，進而滿足了測試大電流的需要。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構成本發(fā)明的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中：

圖1為本發(fā)明的一種多點面接觸式單動測試探針的結構示意圖。

圖中：1.第一針頭，2.針桿，3.針尾，4.彈簧，5.麻花針，6.胖點，7.內孔，8.針管，9.第二針頭。

具體實施方式

下面詳細描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。