[發明專利]一種-40℃到85℃環境下TO56_TO38批量測試的供電方法

在審

• 申請號: 202110385723.8
• 申請日: 2021-04-10
• 公開（公告）號: CN113109693A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 金春曉;翟海峰;龔國星
• 申請（專利權）人: 南通漢瑞通信科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種?40℃到85℃環境下TO56_TO38批量測試的供電方法，包括以下步驟：步驟一，設備檢查；步驟二，插入TO；步驟三，子板測試；步驟四，更換測試；步驟五，不同溫度測試；步驟六，完成測試；所述步驟二中，子板上設置有64個插座，一次性可以為64個PCS TO同時供電，本發明相較于現有的批量測試的供電方法，將供電系統與測試系統分離，確保供電系統能夠工作在穩定環境下，確保了供電系統不受烘箱溫度變化的影響，為測試系統提供穩定的電流，本發明使用子板形式給被測器件供電，每個子板提供多個插座，一次性可以為多個PCS TO同時供電，實現批量測試，大大提高了測試的效率，供電母板帶有插座，便于子模塊插拔更換測試。

技術領域

本發明涉及芯片測試技術領域，具體為一種-40℃到85℃環境下TO56_TO38批量測試的供電方法。

背景技術

DML的激光器，由于沒有TEC穩定LD芯片的溫度，而LD芯片的發光特性隨溫度變化而變化，同時波長也會睡著波長的變化而變化，為了滿足特定的需求，在LD的工作范圍內，需要確保LD的發光效率，LD的發光線性特性，監控二極管的功率穩定性以及波長的變化范圍必須滿足對應模塊級別的應用標準，所以需要對LD進行高低溫的測量，而當前的激光器，主要用于工業級，所以需要在-40℃-85℃溫度環境下，能夠為測試TO正常供電，供電系統如果也放入烘箱內，則設計成本變高，設備老化快，同時工作狀態也會受溫度的影響。

發明內容

本發明的目的在于提供一種-40℃到85℃環境下TO56_TO38批量測試的供電方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種-40℃到85℃環境下TO56_TO38批量測試的供電方法，包括以下步驟：步驟一，設備檢查；步驟二，插入TO；步驟三，子板測試；步驟四，更換測試；步驟五，不同溫度測試；步驟六，完成測試；

其中在上述步驟一中，設備檢查包括以下步驟：

1）供電系統連接外部電源，使供電母板通電；

2）啟動所有設備，運行軟件；

3）檢查設備是否處于正常工作狀態；

4）對設備的異常狀態進行分析處理，使之恢復正常；

5）設置設備的工作參數；

其中在上述步驟二中，將待測TO插入子板上的插座中；

其中在上述步驟三中，將子板的安裝在母板上，開始為TO供電；

其中在上述步驟四中，更換測試包括以下步驟：

1）進行64PCSTO測試；

2）測試完成后，打開恒溫箱，拔下母板上的子板；

3）將另一個裝了TO的子板插入母板的連接器上進行測試，如此循環更換測試；

其中在上述步驟五中，溫度測試包括以下步驟：

1）待一個溫度點測試完成后，設置恒溫箱的溫度為下一個溫度點；

2）待恒溫箱溫度穩定后進行當前溫度下的測試；

其中在上述步驟六中，完成測試包括以下步驟：

1）待完成所有溫度點的測試后將恒溫箱恢復到常溫；

2）取出測試完成的產品。

優選的，所述步驟一1）中，外部電源為220V，供電系統設置于恒溫箱的外部，供電母板設置于恒溫箱的內部，且供電母板與供電系統通過導線連接。

優選的，所述步驟一3）中，正常的工作狀態包括供電系統供電穩定、恒溫箱溫度穩定和測試軟件運行正常。

優選的，所述步驟二中，子板上設置有64個插座，一次性可以為64個PCS TO同時供電。

優選的，所述步驟三中，子板通過金手指與母板的連接器進行插接。

優選的，所述步驟六2）中，取出測試完成的產品后，需關閉設備，斷開供電系統與外部電源之間的連接。