[發明專利]用于分析顯示裝置的系統及其顏色分析方法

在審

• 申請號: 202110381825.2
• 申請日: 2021-04-09
• 公開（公告）號: CN113514226A
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發明（設計）人: 金承賢;崔起龍;吳珍熙;李胤赫
• 申請（專利權）人: 慧理示先進技術公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 許偉群;李少丹

1.一種用于分析顯示裝置的系統，所述系統包括：

圖像拍攝裝置，其被配置為拍攝從要檢查的顯示裝置輸出的用于檢查的圖像，以及從拍攝到的圖像中獲得用于檢查的RGB值；以及

檢查控制單元，其被配置為通過使用先前準備的顏色轉換函數將用于檢查的RGB值轉換為用于檢查的CIE XYZ值，以及通過使用經轉換的用于檢查的CIE XYZ值來確定要檢查的顯示裝置的缺陷。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，要檢查的顯示裝置是發光顯示裝置。

3.根據權利要求1所述的系統，其中，所述檢查控制單元將用于檢查的CIE XYZ值與基準CIE XYZ值進行比較，并且根據用于檢查的CIE XYZ值與所述基準CIE XYZ值之間的對應關系來確定要檢查的顯示裝置的缺陷。

4.根據權利要求1所述的系統，其中，所述檢查控制單元包括：

檢查圖像輸出單元，其控制要檢查的顯示裝置的輸出；

通信處理單元，其執行與圖像拍攝裝置的通信以及接收用于檢查的RGB值；以及

顏色轉換單元，其通過使用所述顏色轉換函數將用于檢查的RGB值轉換為用于檢查的CIE XYZ值。

5.根據權利要求1所述的系統，還包括：

顏色分析裝置，其被配置為拍攝用于校準的顯示裝置的用于校準的圖像以及測量拍攝到的圖像的光譜。

6.根據權利要求5所述的系統，其中，用于校準的顯示裝置是發光顯示裝置，是與要檢查的顯示裝置的類型相同的類型。

7.根據權利要求5所述的系統，其中，所述顏色分析裝置從所述光譜中獲得光波長，并且將所獲得的光波長轉換成用于校準的CIE XYZ值。

8.根據權利要求7所述的系統，其中，所述圖像拍攝裝置拍攝從用于校準的顯示裝置輸出的用于校準的圖像，并且從拍攝到的圖像獲得用于校準的RGB值。

9.根據權利要求8所述的系統，還包括：

校準控制單元，其被配置為通過使用由所述顏色分析裝置獲得的用于校準的CIE XYZ值和用于校準的RGB值來計算顏色轉換函數。

10.根據權利要求9所述的系統，其中，所述校準控制單元包括：

校準圖像輸出單元，其控制用于校準的顯示裝置的輸出；

通信處理單元，其執行與所述顏色分析裝置或圖像拍攝裝置的通信，以及接收用于校準的CIE XYZ值和用于校準的RGB值；以及

顏色計算單元，其通過使用用于校準的CIE XYZ值和用于校準的RGB值來生成所述顏色轉換函數。

11.根據權利要求5所述的系統，還包括：

夾具裝置，其包括：安裝單元，用于校準的顯示裝置安裝到所述安裝單元；以及固持單元，所述固持單元設置在面對所述安裝單元的位置，并且所述顏色分析裝置和所述圖像拍攝裝置被固持在所述固持單元中。

12.根據權利要求11所述的系統，其中，所述夾具裝置被配置為連接所述安裝單元和所述固持單元，并且具有允許前后和左右滑動操作的滑動結構。

13.根據權利要求12所述的系統，還包括：

校準控制單元，其被配置為：通過憑借控制所述滑動結構來調整所述圖像拍攝裝置的位置，以拍攝用于校準的顯示裝置的中心部分和外部部分。

14.一種用于分析顯示裝置的系統的分析顏色的方法，所述方法包括：

用于檢查的RGB圖像拍攝操作，用于拍攝用于檢查的圖像并且從拍攝到的圖像中獲得用于檢查的RGB值；以及

缺陷檢查操作，用于通過使用先前準備的顏色轉換函數和用于檢查的RGB值來確定用于檢查的圖像的缺陷。