[發明專利]一種分選機有效
| 申請號: | 202110380470.5 | 申請日: | 2021-04-09 |
| 公開(公告)號: | CN113182199B | 公開(公告)日: | 2023-02-03 |
| 發明(設計)人: | 韓三峰;陳葉衛邦;文林靜 | 申請(專利權)人: | 廣州嘉欣電工科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/02 | 分類號: | B07C5/02;B07C5/10 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 胡輝 |
| 地址: | 510670 廣東省廣州市廣州高新技術產*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 分選 | ||
本發明公開了一種分選機,分選機包括轉盤裝置、修正裝置、檢測裝置和分選裝置,轉盤裝置包括轉動盤,修正裝置、檢測裝置和分選裝置沿轉動盤的圓周設置;修正裝置包括第一修正組件、第二修正組件和驅動組件,第一修正組件包括內導輪,第二修正組件包括外導輪;檢測裝置包括位置檢測機構和圖像采集機構,位置檢測機構用于檢測元件的位置,圖像采集機構包括攝像器,攝像器用于采集元件的尺寸和位置信息。修正裝置通過內導輪從內測修正元件的位置,通過外導輪在外側修正元件的位置,避免元件位置跑偏,提高檢測的準確度,檢測裝置采集元件的位置和尺寸信息,以便分選裝置將元件分選歸類。本發明可廣泛應用于物料分選技術領域。
技術領域
本發明涉及物料分選技術領域,特別涉及一種分選機。
背景技術
隨著電子產品的功能越來越強,集成度越來越高,電子元件的尺寸也越來越小。對于很多元器件來說,產品的尺寸與性能有非常緊密的聯系,如電感、電阻、電容等,由于加工工藝的限制,產品的尺寸不能做到完全一致,尺寸的變化帶來了產品特性的變化,這些元器件數量往往非常龐大,靠人工去檢測尺寸和分類基本不太現實,因此需要借助自動化設備檢測分選。而普通的分選設備上存在元件位置跑偏的問題,元件檢測時的位置偏差會對檢測結果造成很大影響。
發明內容
為解決上述技術問題中的至少之一,本發明提供一種分選機,所采用的技術方案如下:
本發明所提供的分選機包括轉盤裝置、修正裝置、檢測裝置和分選裝置,所述轉盤裝置包括轉動盤,所述修正裝置、檢測裝置和分選裝置沿所述轉動盤的圓周設置;所述修正裝置包括第一修正組件、第二修正組件和驅動組件,所述第一修正組件包括內導輪,所述內導輪用于接觸元件的一側,所述第二修正組件包括外導輪,所述外導輪用于接觸元件的另一側,所述驅動組件包括驅動輪,所述驅動輪的側面用于與所述轉動盤的側面傳動連接,所述驅動輪與所述內導輪傳動連接,所述驅動輪與所述外導輪傳動連接;所述檢測裝置包括位置檢測機構和圖像采集機構,所述位置檢測機構用于檢測元件的位置,所述圖像采集機構包括攝像器,所述攝像器用于采集元件的尺寸和位置信息;所述分選裝置包括多個分選組件,各所述分選組件沿轉動盤的傳送方向依次分布,所述分選組件包括分選器和收料盒,所述分選器用于將元件送入所述收料盒中。
本發明的某些實施例中,所述驅動輪的側壁設置為圓臺的側壁,所述驅動輪的側壁采用彈性材料,所述驅動輪相對于所述轉動盤的高度可調。
本發明的某些實施例中,所述驅動輪與所述轉動盤的轉動方向相反,所述外導輪與所述驅動輪的轉動方向相同,所述內導輪與所述驅動輪的轉動方向相反。
本發明的某些實施例中,所述第一修正組件包括第一清理部件,所述第一清理部件用于清理所述內導輪的側面;所述第二修正組件包括第二清理部件,所述第二清理部件用于清理所述外導輪的側面。
本發明的某些實施例中,所述轉盤裝置包括調整臺和調平件,所述調整臺用于安裝所述轉動盤,所述調平件的數量設置為多個,所述調平件設置在所述調整臺上,所述調平件用于抵住所述轉動盤以調平所述轉動盤在所述調整臺上的安裝位置,各所述調平件沿所述轉動盤的圓周方向設置,所述調平件通過沿自身長度方向移動以調整所述轉動盤與所述調整臺的相對位置關系。
本發明的某些實施例中,所述轉盤裝置包括固定件,所述固定件的數量設置為多個,所述轉動盤通過各所述固定件與所述調整臺安裝,各所述固定件沿所述轉動盤的圓周設置,所述固定件的外圓周截面設置有錐形側面。
本發明的某些實施例中,所述固定件采用彈性材料制成。
本發明的某些實施例中,所述分選裝置包括第四機架,所述收料盒設置在所述第四機架中,所述收料盒在所述第四機架中可分離取出。
本發明的某些實施例中,排在末尾的所述分選組件包括收料擋板,所述收料擋板用于擋住元件。
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