[發明專利]顯示裝置

在審

• 申請號: 202110379063.2
• 申請日: 2021-04-08
• 公開（公告）號: CN113516011A
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發明（設計）人: 金正學;金英植;具教原;趙宰亨
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;H01L27/32
• 代理公司: 北京鉦霖知識產權代理有限公司 11722
• 代理人: 李英艷;馮志云

本公開涉及一種顯示裝置包括：顯示模塊，包括用于產生光的發光元件和用于使用所述光顯示圖像的顯示面板；和檢測模塊，設置在所述顯示模塊下方以接收外部信號。所述檢測模塊包括：基底；檢測器，設置在所述基底上以檢測外部信號；傳感器驅動電路，設置在所述基底上以驅動所述檢測器；以及遮光層，用于阻止外部光進入所述傳感器驅動電路并且用于接收遮光電壓。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2020年4月10日提交的第10-2020-0044289號韓國專利申請的優先權及權益，為了所有目的通過引用將上述韓國專利申請包含于此，如同在本文中充分地闡述一樣。

技術領域

本發明的實施方式總體上涉及一種顯示裝置，并且更具體地，涉及一種具有改善的性能的顯示裝置。

背景技術

顯示裝置顯示圖像以提供用于與用戶有機地通信的各種功能，諸如向用戶提供信息或檢測用戶的輸入。近來，顯示裝置可以包括用于檢測用戶的指紋的功能。

指紋識別方法包括用于檢測形成在電極之間的電容變化的電容方法、用于使用光學傳感器檢測入射光的光學方法以及用于通過使用壓電材料檢測振動的超聲波方法。

在本背景技術部分中公開的以上信息僅用于本發明構思的背景的理解，并且因此，以上信息可能包含不構成現有技術的信息。

發明內容

申請人認識到，進入顯示裝置的外部光會使包括在顯示裝置中的檢測模塊(例如，指紋檢測模塊)的性能惡化。

根據本發明的原理和實施方式構造的檢測模塊和具有所述檢測模塊的顯示裝置可以防止檢測模塊的性能由于外部光而劣化。例如，遮光層可以阻止外部光進入遮光電壓被施加到的傳感器驅動電路。

根據本發明的原理和實施方式構造的檢測模塊和具有所述檢測模塊的顯示裝置在傳感器單元中具有諸如遮光層的遮光構件，以減少外部光使包括在顯示裝置的傳感器驅動電路中的晶體管的漏電流增加的問題。

另外，通過將遮光電壓施加到遮光層，可以防止晶體管的控制電極和輸入電極之間的電勢差由于滯后現象增加到一定水平或更高。也就是說，通過防止晶體管的驅動性能劣化，可以改善傳感器單元的感測性能并改善檢測模塊的整體可靠性。

本發明構思的附加特征將在下面的描述中闡述，并且所述附加特征通過所述描述將部分地明顯，或者可以通過對本發明構思的實踐獲悉所述附加特征。

根據本發明的一個方面，一種用于顯示裝置的檢測模塊，所述檢測模塊包括：基底；檢測器，設置在所述基底上以檢測外部信號；傳感器驅動電路，設置在所述基底上以驅動所述檢測器；以及遮光層，用于阻止外部光進入所述傳感器驅動電路并且用于接收遮光電壓。

所述遮光層可以設置在所述基底與所述傳感器驅動電路之間。

所述傳感器驅動電路可以包括至少一個晶體管。

所述晶體管可以包括：有源層；控制電極，設置在所述有源層上并且與所述有源層重疊；以及輸入電極和輸出電極，所述輸入電極和所述輸出電極在所述控制電極上彼此間隔開。所述遮光層可以設置在所述有源層與所述基底之間。

所述晶體管可以包括：有源層；控制電極，設置在所述有源層下方并且與所述有源層重疊；輸入電極和輸出電極，所述輸入電極和所述輸出電極在所述控制電極上彼此間隔開。所述遮光層可以設置在所述控制電極與所述基底之間。

所述遮光層可以包括與所述控制電極至少部分地重疊的開口。

所述檢測模塊還可以包括用于將所述遮光電壓供給到所述遮光層的電源線，所述遮光電壓是接地電壓或基本上恒定的電壓。

所述遮光層可以包括：下部遮光層，設置在所述基底與所述傳感器驅動電路之間；和上部遮光層，設置在所述傳感器驅動電路上。