[發明專利]一種視覺質量分析儀有效
| 申請號: | 202110373581.3 | 申請日: | 2021-04-07 |
| 公開(公告)號: | CN113229777B | 公開(公告)日: | 2022-09-23 |
| 發明(設計)人: | 尉佩;陳文光 | 申請(專利權)人: | 上海美沃精密儀器股份有限公司 |
| 主分類號: | A61B3/10 | 分類號: | A61B3/10;A61B3/107;A61B3/11 |
| 代理公司: | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人: | 徐俊;柏子雵 |
| 地址: | 201100 上海市閔行區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 視覺 質量 分析 | ||
1.一種視覺質量分析儀,其特征在于,包括通過二向色鏡二組合在一起的OCT模塊以及全眼像差測量模塊,OCT模塊出射的準直激光光束作為全眼像差測量模塊的光源,其中:
OCT模塊包括激光器,激光器出射的激光被分為固定比例的兩束光,其中一束光進入參考臂光路后入射到光纖耦合器作為OCT模塊的參考光,另外一束光進入樣品臂光路后出射;當測量眼軸和斷層圖像時,自樣品臂光路出射的光經由二維振鏡、會聚系統、二向色鏡一及二向色鏡二后打入人眼進行多維度掃描成像;人眼背向散射信號返回樣品臂光路后由光纖耦合器接收,與參考光干涉后入射到平衡探測器,由采集處理系統利用平衡探測器的輸出合成斷層成像;當測量全眼波像差時,自樣品臂光路出射的光經由二維振鏡、二向色鏡一、二向色鏡二入射人眼內,在眼底會聚的光斑經過眼底散射后,攜帶全眼信息出射后經過二向色鏡而入射到全眼像差測量模塊,由全眼像差測量模塊采集光斑數據送入采集處理系統,經處理得到全眼波前像差;
還包括定位拍攝系統,由定位拍攝系統記錄人眼的瞳孔、白到白以及placido環投影到人眼眼表的角膜地形圖,利用角膜地形圖計算得到全角膜像差;所述定位拍攝系統包括可見光光源,可見光光源出射的光束經過反射鏡一和照明系統二將視標圖版的圖案投到可上下調節的反射鏡二上;反射鏡二反射的光經由二向色鏡三、變焦光學系統一、二向色鏡一、二向色鏡二被人眼接收;成像傳感器通過變焦光學系統一實現人眼眼表信息的采集,記錄所述人眼的瞳孔、所述白到白以及所述placido環投影到人眼眼表的角膜地形圖。
2.如權利要求1 所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,利用背光板實現所述placido環背部的均勻照明。
3.如權利要求1所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,所述OCT模塊使用掃頻OCT、頻域OCT或時域OCT。
4.如權利要求1所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,所述參考臂光路包括環形器一,來自所述激光器的光輸入環形器一,環形器一輸出的光經過光纖準直器一準直后垂直入射到反射鏡三上,經反射鏡三反射返回的光作為所述參考光入射到所述光纖耦合器。
5.如權利要求1所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,所述樣品臂光路包括環形器二,來自所述激光器的光輸入環形器二,環形器二出射的光經過偏振控制器后再由準直器將偏振態調節后的光準直出射至所述二維振鏡。
6.如權利要求1所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,所述全眼像差測量模塊采用Hartmann–Shack的波前像差測量方法或采用序列光位移測量法。
7.如權利要求6所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,所述全眼像差測量模塊包括光學準直系統,人眼返回的散射光經過所述二向色鏡二入射到光學準直系統,隨后準直光束進入調焦系統,由調焦系統補償人眼屈光后再經由準直擴束系統將平行光入射到微透鏡陣列,微透鏡陣列將光波分割成小光束會聚到哈特曼波前傳感器,哈特曼波前傳感器采集的光斑數據送入采集處理系統,經處理得到全眼波前像差,其中,調焦系統根據不同屈光調節前后位置,實現全眼像差的測量。
8.如權利要求6所述的一種視覺質量分析儀,其特征在于,所述全眼像差測量模塊包括變焦光學系統二,人眼返回的散射光經過二向色鏡二反射后入射到變焦光學系統二上,隨后經過分光鏡分為兩束光,這兩束光分別經過會聚系統一和會聚系統二入射到線陣傳感器一和線陣傳感器二上,采集處理系統利用線陣傳感器一和線陣傳感器二分別記錄x向序列眼底光斑位置信息和y向序列眼底光斑位置信息,并將探測的光斑位置重建,計算全眼波前像差,其中,通過調節變焦光學系統二的前后位置補償記錄屈光信息;
或者所述全眼像差測量模塊包括變焦光學系統二,人眼返回的散射光經過二向色鏡二反射后入射到變焦光學系統二上,隨后經過會聚系統三入射到面陣傳感器上,采集處理系統根據面陣傳感器探測到的序列光分布構建全眼波前像差。
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