[發明專利]一種波形參數的調整方法、裝置及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202110371156.0
• 申請日: 2021-04-07
• 公開（公告）號: CN113156180B
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發明（設計）人: 馬曉東;常文濤
• 申請（專利權）人: 合肥聯寶信息技術有限公司
• 主分類號: G01R13/00
• 分類號: G01R13/00;G01R35/00
• 代理公司: 北京樂知新創知識產權代理事務所(普通合伙) 11734
• 代理人: 江宇

1.一種波形參數的調整方法，其特征在于，應用于示波器，包括：

獲取測試波形；

計算所述測試波形的特性值，所述特性值包括幅值平均值和幅值最大值；

若當前所述幅值最大值大于第一預設倍數與所述幅值平均值的乘積，設置第二預設倍數與所述幅值最大值的乘積作為測試波形的觸發值；若當前所述幅值最大值小于或等于第一預設倍數與所述幅值平均值的乘積，設置第四預設倍數與所述幅值最大值的乘積作為測試波形的觸發值；

等待第一預設時長后，停止獲取測試波形；

統計示波器當前屏幕上顯示的測試波形中幅值大于觸發值的波形個數；

根據所述波形個數計算測試波形的周期；

將第三預設倍數與所述周期的乘積設置為測試波形的橫軸的刻度間隔。

2.根據權利要求1所述的波形參數的調整方法，其特征在于，在將第三預設倍數與所述周期的乘積設置為測試波形的橫軸的刻度間隔之后，還包括：

再次獲取測試波形；

等待第一預設時長后，停止獲取測試波形；

再次執行統計示波器當前屏幕上顯示的測試波形中幅值大于觸發值的波形個數；根據所述波形個數計算測試波形的周期；將第三預設倍數與所述周期的乘積設置為測試波形的橫軸的刻度間隔，以對測試波形的橫軸的刻度間隔進行優化。

3.根據權利要求1或2所述的波形參數的調整方法，其特征在于，還包括：

將當前所述幅值平均值設置為測試波形的縱軸的原點，將第五預設倍數與所述幅值平均值的乘積設置為測試波形的縱軸的刻度間隔。

4.根據權利要求3所述的波形參數的調整方法，其特征在于，在將所述幅值平均值設置為測試波形的縱軸的原點，將第五預設倍數與所述幅值平均值的乘積設置為測試波形的縱軸的刻度間隔之后，在停止獲取測試波形之前，還包括：

多次重復執行將當前所述幅值平均值設置為測試波形的縱軸的原點，將第五預設倍數與所述幅值平均值的乘積設置為測試波形的縱軸的刻度間隔，以對測試波形的縱軸的原點和測試波形的縱軸的刻度間隔進行優化。

5.根據權利要求4所述的波形參數的調整方法，其特征在于，還包括：

獲取測試波形峰峰值；

將第六預設倍數與所述峰峰值的乘積設置為測試波形的縱軸的刻度間隔。

6.根據權利要求5所述的波形參數的調整方法，其特征在于，在將第六預設倍數與所述峰峰值的乘積設置為測試波形的縱軸的刻度間隔之后，還包括：

多次重復執行獲取測試波形峰峰值，將第六預設倍數與所述峰峰值的乘積設置為測試波形的縱軸的刻度間隔，以對測試波形的縱軸的刻度間隔進行優化。

7.一種波形參數的調整裝置，其特征在于，應用于示波器，包括：

獲取單元，用于獲取測試波形；

第一計算單元，用于計算所述測試波形的特性值，所述特性值包括幅值平均值和幅值最大值；

第一設置單元，用于若當前所述幅值最大值大于第一預設倍數與所述幅值平均值的乘積，設置第二預設倍數與所述幅值最大值的乘積作為測試波形的觸發值；若當前所述幅值最大值小于或等于第一預設倍數與所述幅值平均值的乘積，設置第四預設倍數與所述幅值最大值的乘積作為測試波形的觸發值；

停止單元，用于等待第一預設時長后，停止獲取測試波形；

統計單元，用于統計示波器當前屏幕上顯示的測試波形中幅值大于觸發值的波形個數；

第二計算單元，用于根據所述波形個數計算測試波形的周期；

第二設置單元，用于將第三預設倍數與所述周期的乘積設置為測試波形的橫軸的刻度間隔。

8.一種示波器，其特征在于，包括：

至少一個處理器；以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器執行如權利要求1-6任意一項所述的波形參數的調整方法。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機指令，所述計算機指令用于使計算機執行如權利要求1-6任意一項所述的波形參數的調整方法。