[發明專利]一種缺陷無損檢測系統

在審

• 申請號: 202110370554.0
• 申請日: 2021-04-07
• 公開（公告）號: CN113092504A
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: 張廣才;何繼榮;陳志蕓;劉兆邦;陳玖冰;曹國興
• 申請（專利權）人: 揚州哈工博浩智能科技有限公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616
• 代理人: 孫鑫

本發明涉及缺陷檢測系統技術領域，尤其涉及一種缺陷無損檢測系統，包括以下操作步驟：S1、運行管理模塊；S2、數據傳輸模塊；S3、缺陷檢出模塊；S4、模式設定模塊：檢測系統在缺陷檢測時，對待檢測工件及檢測流程建檔方便信息管理；S5、缺陷分析模塊；S6、完成待檢測工件的缺陷分析后將缺陷分析結果關聯到工件基礎信息并形成檢測記錄報告。本發明中，此缺陷無損檢測系統在使用時，可以根據工件型號信息以及檢測標準等級的不同動態匹配算法參數，還可以根據實際需求選擇整體性缺陷檢測還是專項的缺陷檢測，匹配不同的算法類型，有效提高系統缺陷檢測的通用性，同時還創建工作子線程的運行方式，有效提升系統響應速度和穩定性。

技術領域

本發明涉及缺陷檢測系統技術領域，尤其涉及一種缺陷無損檢測系統。

背景技術

現代工業無損檢測技術可以在不破壞或者損傷被檢測物體的情況下，檢測和評定物體內部的缺陷，而X射線技術是無損檢測的一種重要的檢測技術手段，X光圖像具有紋理清晰，能夠準確地反映輪胎的內部結構的特點,因此在工業無損檢測領域應用廣泛，目前，國內相關產品大多集中于X光掃描設備的研發，缺陷檢測一般是通過人工觀察掃描的工件圖像，結合行業要求及自身經驗，識別出工件是否存在內部缺陷，該方法存在檢測精度低、主觀性強、誤撿漏檢、效率低等問題，為此，我們提出了一種缺陷無損檢測系統。

發明內容

本發明的目的是為了解決現有技術中存在的缺點，而提出的一種缺陷無損檢測系統。

為了實現上述目的，本發明采用了如下技術方案：

一種缺陷無損檢測系統，包括以下操作步驟：

S1、運行管理模塊：初始化系統，并與X光機設備的連接，后根據需求創建線程任務并管理；

S2、數據傳輸模塊：檢測系統在數據傳輸時，系統運行管理模塊創建并管理數據傳輸子線程，過程中與X光機實時通信并傳輸數據，并在緩沖區中做好數據的緩存與釋放；

S3、缺陷檢出模塊：檢測系統在缺陷檢測時，系統運行管理模塊創建并管理缺陷檢測子線程，過程中對檢測模式解析獲得檢測模式需求及標準，據此對實時缺陷檢出算法的類型及參數調整，調用匹配好的算法完成工件的缺陷檢測，最后將缺陷檢出結果標定并通知到主線程，以及輸出到缺陷分析模塊；

S4、模式設定模塊：檢測系統在缺陷檢測時，對待檢測工件及檢測流程建檔方便信息管理；

S5、缺陷分析模塊：檢測系統在缺陷檢測時，對缺陷檢出模塊中完成的工件缺陷的初步檢出結果進一步分析，調用離線缺陷分類算法，將X光機掃描圖片輸入到配套離線缺陷檢測算法中，對工件的缺陷分類分析并判別程度；

S6、檢測消息發送：完成待檢測工件的缺陷分析后將缺陷分析結果關聯到工件基礎信息并形成檢測記錄報告。

優選的，所述線程有運行主線程、數據傳輸子線程和缺陷檢測子線程。

優選的，所述檢測模式包含工件型號信息、檢測標準信息和檢測需求信息。

優選的，當產品檢測出缺陷時，所述缺陷結果加入生產線整體檢測結果中并統計分析，可由廠家進一步分析原因而后實現生產工藝的改進提升。

本發明的有益效果是：

本發明中，此缺陷無損檢測系統在使用時，可以根據工件型號信息以及檢測標準等級的不同動態匹配算法參數，還可以根據實際需求選擇整體性缺陷檢測還是專項的缺陷檢測，匹配不同的算法類型，有效提高系統缺陷檢測的通用性，同時還創建工作子線程的運行方式，有效提升系統響應速度和穩定性。

附圖說明

圖1為本發明提出的一種缺陷無損檢測系統的功能模塊圖；

圖2為本發明提出的一種缺陷無損檢測系統的流程方框圖圖。

具體實施方式