[發明專利]一種基于壓縮態光場的探測成像光學系統

在審

• 申請號: 202110369920.0
• 申請日: 2021-04-07
• 公開（公告）號: CN113093166A
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: 畢思文;沈敏;沈希毅;王悅虹;朱海龍;杜京師;周志英;張守凱
• 申請（專利權）人: 畢思文
• 主分類號: G01S13/06
• 分類號: G01S13/06;G01S13/08;G01S13/89
• 代理公司: 北京東方盛凡知識產權代理事務所(普通合伙) 11562
• 代理人: 張換君

1.一種基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，包括激光器、光學發射系統、光學接收系統，所述光學接收系統包含相敏無噪放大模塊和探測器；

其中，發射光學系統將發射的激光束均勻照射到遠處目標物體上；攜帶物體信息的信號光經光學接收系統接收，然后往信號光中注入壓縮光；再進入相敏無噪放大模塊；最后探測器接收經壓縮光注入和相敏無噪放大的信號光以實現光學成像。

2.如權利要求1所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，光學接收系統包括：壓縮光設備，用于將波長1064nm的激光制備為壓縮態光場，并將壓縮光設備制備的壓縮態光場注入到信號光中。

3.如權利要求2所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，所述壓縮光設備為正交位相壓縮光設備、強度差壓縮光設備、振幅壓縮光或空間壓縮光設備其中一種。

4.如權利要求2所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，光學發射系統包括:光束分束器、第一控制器、光束變換光學系統和掃描系統，其中，光束分束器，用于將波長532nm全部的光分配進光學接收系統；波長1064nm的光將會被分為兩束，其中一束被分配進光學接收系統，另外一束在第一控制器的控制下通過光束變換光學系統和掃描系統照射到遠處目標物體上。

5.如權利要求4所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，光束合束器，用于將壓縮光設備制備的壓縮態光場注入到信號光中，并和532nm波長光束一起注入進相敏無噪放大模塊。

6.如權利要求5所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，相敏無噪放大模塊采用PKTP非線性晶體在非線性效應下，通過光學參量下轉換將532nm的激光轉換為1064nm。

7.如權利要求1所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，探測器為CCD、真空攝像管、自掃描光電二極管陣列成像器件其中一種。

8.如權利要求1所述的基于壓縮態光場的探測成像光學系統，其特征在于，激光器為半導體激光器、液體激光器、氣體激光器、固體激光器或光纖激光器等其中一種。