[發明專利]一種光學介質材料的透光率和均勻度檢測方法

有效

• 申請號: 202110368251.5
• 申請日: 2021-04-06
• 公開（公告）號: CN113281310B
• 公開（公告）日: 2022-12-02
• 發明（設計）人: 聶光軍;臧毅鵬;岳文瑾
• 申請（專利權）人: 安徽工程大學
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59;G01N21/84
• 代理公司: 蕪湖安匯知識產權代理有限公司 34107
• 代理人: 鐘雪

1.一種光學介質材料的透光率和均勻度檢測方法，其特征在于，所述方法具體包括如下步驟：

S1、原位采集光學介質材料覆蓋前后的物像數字圖像，獲取圖像1和圖像2；

S2、獲取圖像1和圖像2中物像區域所在行和列的最大值及最小值，僅保留圖像1及圖像2中的物像區域，分別稱為圖像M和圖像N；

S3、計算圖像M及圖像N在R、G、B三個維度上的比值，進而計算出光學介質材料的透光率；

S4、對圖像M及圖像N進行二值化處理和gamma校正，生成二維矩陣GM和GN，計算二維矩陣GM和GN的相關系數，即為光學介質材料的均勻度；

光學介質材料的透光率的計算方法具體如下：

分別計算圖像M及圖像N在R、G、B三個色相的光透過率tr、tg、tb；

選擇gamma值為2-3對三個色相光線的透過率值進行gamma校正，得到待測光學介質材料的可見光透過率值T；

光透過率tr、tg、tb計算公式具體如下：

待測光學介質材料的可見光透過率值T的計算公式具體如下：

其中，MR_ij表示圖像M中R色相矩陣上的第i行第j列上的數值，MG_ij表示圖像M中G色相矩陣上的第i行第j列上的數值，MB_ij表示圖像M中B色相矩陣上的第i行第j列上的數值；NR_ij表示圖像N中R色相矩陣上的第i行第j列上的數值，NG_ij表示圖像N中G色相矩陣上的第i行第j列上的數值，NB_ij表示圖像N中B色相矩陣上的第i行第j列上的數值，a表示圖像M和圖像N的行數最大值，b表示圖像M和圖像N的列數最大值；

光學介質材料的均勻度計算公式具體如下：

GM₁為圖像M的二值化圖像，GM為圖像GM₁進行gamma校正后的圖像，GN₁為圖像N的二值化圖像，GN為圖像GN₁進行gamma校正后的圖像，μ₁為圖像GM的定位區域中所有像素值的平均值，μ₂為圖像GN的定位區域中所有像素值的平均值。

2.如權利要求1所述光學介質材料的透光率和均勻度檢測方法，其特征在于，物像區域所在行和列的最大值及最小值的獲取方法具體如下：

在黑色背景下獲取的光學介質材料覆蓋前后的物像數字圖像，稱為圖1及圖2；

將圖像1和圖像2轉化為二值圖像；

計算整個矩陣中所有元素1連通區域的個數并編號，計算每個編號區域元素1的個數，將個數小于整個矩陣元素個數1％的對應編號區域元素均改為0；

找出矩陣中剩余非0元素的坐標對應行數和列數的最大值與最小值，即行數及列數的最大值及最小值。

3.如權利要求1所述光學介質材料的透光率和均勻度檢測方法，其特征在于，物像選擇二維熵評價圖像復雜度，選用復雜度為2.5-4圖片作為物像。